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Nanophysics using Scaning Probe Microscopy (PW-NanoScan)5 ECTS (englische Bezeichnung: Nanophysics using Scaning Probe Microscopy)
Modulverantwortliche/r: Sabine Maier Lehrende:
Sabine Maier
Studienfächer/Prüfungsordnungsmodule:
Physikalische Wahlfächer (16552)
Physikalische Wahlfächer (32647)
Physikalische Wahlfächer (34267)
Weitere Module aus dem Wahlpflichtbereich 1 (38034)
Materialphysikalisches Wahlfach (43483)
Materials physics elective course (80899)
Physics elective courses (80959)
Startsemester: |
WS 2018/2019 | Dauer: |
1 Semester | Turnus: |
unregelmäßig |
Präsenzzeit: |
60 Std. | Eigenstudium: |
90 Std. | Sprache: |
Englisch |
Lehrveranstaltungen:
Inhalt:
Contents:
1. Introduction in various scanning probe microscopy techniques:
Scanning tunneling microscopy (STM)
Atomic force microscopy (AFM)
Kelvin probe force microscopy (KPFM)
Conductive atomic force microscopy (cAFM)
Scanning Near-field microscopy (SNOM)
2. Introduction to Nanophyics based on scanning probe experiments:
Lernziele und Kompetenzen:
Learning goals and competences:
Students
Literatur:
Literature:
1. B. Voigtländer, Scanning Probe Micorsocpy, Springer 2015
2. C. J. Chen, Introduction to scanning probe microscopy and spectroscopy, Oxford University Press 2008
3. E. Meyer, H. J. Hug, R. Bennewitz, Scanning Probe Microscopy, Springer 2004
More references will be provided in the class.
Bemerkung:
May be applied to specialisation 'Condensed matter physics' in the physics master program starting winter term 2018/19.
Verwendbarkeit des Moduls / Einpassung in den Musterstudienplan: Das Modul ist im Kontext der folgenden Studienfächer/Vertiefungsrichtungen verwendbar:
- Physik (1. Staatsprüfung für das Lehramt an Gymnasien): ab 5. Semester
(Po-Vers. 2018w | NatFak | Physik (1. Staatsprüfung für das Lehramt an Gymnasien) | Module Fachwissenschaft Physik | Wahlpflichtbereich | Weitere Module aus dem Wahlpflichtbereich 1)
Studien-/Prüfungsleistungen:
Nanophysics using Scaning Probe Microscopy (Prüfungsnummer: 822950)
(englischer Titel: Nanophysics using Scaning Probe Microscopy)
zugeh. "mein campus"-Prüfung: | - 63501 Physikalisches Wahlfach (Prüfung, Form: variabel, Drittelnoten (mit 4,3), Dauer: -, 5.0 ECTS, Platzhalter).
- 63501 Physikalisches Wahlfach (Prüfung, Form: variabel, Drittelnoten (mit 4,3), Dauer: -, 5.0 ECTS, Platzhalter).
- 68601 Physikalisches Wahlfach (Prüfung, Form: variabel, Drittelnoten (mit 4,3), Dauer: -, 5.0 ECTS, Platzhalter).
- 68711 Physikalisches Wahlfach (Materialphysik (Bachelor of Science) 2010, Prüfung, Form: variabel, Drittelnoten (mit 4,3), Dauer: -, 5.0 ECTS, Platzhalter).
- 64311 Physikalisches Wahlfach (Prüfung, Form: variabel, Drittelnoten (mit 4,3), Dauer: -, 5 ECTS, Platzhalter).
- 71301 Materialphysikalisches Wahlfach ( 2010, Prüfung, Form: variabel, Drittelnoten (mit 4,3), Dauer: -, 5.0 ECTS, Platzhalter).
- 68611 Physics elective course (Prüfung, Form: variabel, Drittelnoten (mit 4,3), Dauer: -, 5.0 ECTS, Platzhalter).
- 71311 Materials physics elective course (Materials Physics (Master of Science) 2015s, Prüfung, Form: variabel, Drittelnoten (mit 4,3), Dauer: -, 5.0 ECTS, Platzhalter).
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- Prüfungsleistung, mündliche Prüfung, Dauer (in Minuten): 30, benotet
- Anteil an der Berechnung der Modulnote: 100.0 %
- Prüfungssprache: Englisch
- Erstablegung: WS 2018/2019, 1. Wdh.: WS 2018/2019 (nur für Wiederholer)
1. Prüfer: | Sabine Maier (060557) |
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UnivIS ist ein Produkt der Config eG, Buckenhof |
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