Advanced Processes (AP)

Process Technologies [PT] VORL; 2 cred.h; certificate; ECTS: 5,0; Mon, 14:15 - 15:45, Raum n.V.				PF MAP-S-AP 2	Freund, H. Kaspereit, M. Freitag, D.
seminar to production process UE; 1 cred.h; certificate; Wed, 10:15 - 11:45, KS II				PF MAP-S-AP 2	Kaiser, M. Freitag, D. Kaspereit, M. Freund, H.
Sustainable Technologies [SusTech] VORL; Online; 1 cred.h; ECTS: 1,5; Tue, 9:00 - 9:45; via Zoom, details available on StudOn, please register: https://www.studon.fau.de/crs3784892.html				PF MAP-S-AP 2	Franken, T.
Thin films: processing, characterization and functionalities. VORL; Online; 1 cred.h; ben. certificate; ECTS: 1,5; Im SS21 findet nicht statt. Stadt dieser VL ist "Advanced Semiconductor Technologies - Processing (including Lab Work Organic Electronics Processing) (AST-Processing)" zu hören. findet aus aktuellem Anlass mittels Zoom-Live-Übertragung statt. Anmeldung im StudOn ist erforderlich. Zugangsdaten zu ZOOM werden über StudOn mitgeteilt.; Wed, 12:15 - 13:45, 3.71; Preliminary meeting: 12.4.2021, 11:30 - 12:00 Uhr				PF MAP-S-AP 2	Egelhaaf, H.-J.
Thin films: processing, characterization and functionalities (Extension) VORL; Online; 1 cred.h; ben. certificate; ECTS: 1; Wird in SS21 nicht gehalten. Stadt dieser VL ist "Advanced Semiconductor Technologies - Processing (including Lab Work Organic Electronics Processing) (AST-Processing)" zu hören. Vertiefung zur VL Thin films: processing, characterization and functionalities, findet über ZOOM statt.; Wed, 12:15 - 13:45; Preliminary meeting: 12.4.2021, 11:30 - 12:00 Uhr				WPF MAP-S-AP ab 2	Egelhaaf, H.-J.