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Mustererkennung
	Mustererkennung 2 [ME2] VORL; 3 SWS; ben. Schein; Vorausgestzte LVen: ME 1; Mo, 10:00 - 12:00, H10; Di, 14:00 - 15:00, H10	Niemann, H.
	Übungen zu Mustererkennung 2 [ME2-Ueb] UE; 1 SWS; ben. Schein; Di, 13:00 - 14:00, 15:00 - 16:00, H10	Fischer, J.
	Statistische Modelle für die Mustererkennung [STATME] VORL; 2 SWS; ben. Schein; Mo, 8:00 - 10:00, 09.150	Hornegger, J.
	Industrielle Bildverarbeitung [INDBV] VORL; 2 SWS; ben. Schein; Di, 8:00 - 10:00, 09.150	Wagner, Th.
	Musteranalyse in der Praxis [MUPrax] V/UE; 4 SWS; Schein; Zeit n.V., 09.150; ab 13.5.1997	Nöth, E. Haas, J.
	Musteranalyse-Projekt [MUProj] UE; 6 SWS; Schein; Ort und Zeit nach Vereinbarung; Vorbesprechung: 20.2.1997, 13:45 Uhr, 09.150	Denzler, J. Fischer, J. Haas, J.

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