UnivIS
Information system of Friedrich-Alexander-University Erlangen-Nuremberg © Config eG 
FAU Logo
  Collection/class schedule    module collection Home  |  Legal Matters  |  Contact  |  Help    
search:      semester:   
 Lectures   Staff/
Facilities
   Room
directory
   Research-
report
   Publications   Internat.
contacts
   Thesis
offers
   Phone
book
 
 
 Layout
 
short

verbose

printable version

 
 
class schedule

 
 
 Extras
 
tag all

untag all

export to XML

 
 
 Also in UnivIS
 
course list

lecture directory

 
 
events calendar

job offers

furniture and equipment offers

 
 
Departments >> Faculty of Engineering >> Department of Electrical-Electronic-Communication Engineering >>

Chair of Electron Devices (Prof. Dr. Frey)

 

Seminar on Selected Topics of Silicon Semiconductor Technology [SEM TeSi]

SEM; Online; 2 cred.h; ben. certificate; ECTS: 2,5; Tue, 14:15 - 15:45, 0.111
WPF ME-MA-SEM-EEI 3
WPF EEI-BA-MIK 5-6
WPF EEI-MA-MIK 1-4
WPF ME-BA-SEM 3-6
Schwarz, J.  
 

Einführung in Quantentechnologien [QTech-V]

VORL; Online; 2 cred.h; Tue, 12:15 - 13:45; Vorlesung findet über Zoom statt, Zugungsdaten im StudOn-Bereich
WPF ME-BA-MG5 4-6
WPF EEI-BA-MIK ab 5
WPF EEI-BA-AET ab 5
WPF EEI-MA-MIK ab 1
WPF EEI-MA-AET ab 1
WF EEI-BA ab 5
WF EEI-MA ab 1
WPF ME-MA-MG5 1-3
WF IuK-BA ab 5
Nagy, R.  
 

Übungen zu Einführung in Quantentechnologien

UE; Online; 2 cred.h; Thu, 10:15 - 11:45; Vorlesung findet über Zoom statt, Zugungsdaten im StudOn-Bereich
WPF ME-BA-MG5 4-6
WPF ME-MA-MG5 1-3
Nagy, R.
Pointner, A.
 
 

Forschungspraktikum am LEB (10 ECTS) (Prak FOR-LEB_10) [Prak FOR-LEB_10]

SL; certificate; ECTS: 10; Nach Vereinbarung; Nur für EEI Master; Nach Vereinbarung; Nur für EEI Master;
  Dirnecker, T.  
 

Semiconductor and Device Measurement Techniques [HBMT-V]

VORL; Online; 3 cred.h; ben. certificate; ECTS: 5; Mon, 8:15 - 11:45, Hans-Georg-Waeber-Saal
WPF WW-DH-MIC ab 6
WPF EEI-BA-MIK 5-6
WPF EEI-MA-MIK 1-4
WF EEI-BA ab 5
WF EEI-MA ab 1
WPF ME-BA-MG4 5-6
WPF ME-MA-MG4 1-3
WPF MWT-MA-MIC ab 1
WF MWT-BA 5-6
WPF NT-MA ab 1
WPF BPT-MA-E 1-3
Berberich, S.  
 

Übung zu Halbleiter- und Bauelementemesstechnik [HBMT-Ü]

UE; Online; 1 cred.h; Vorlesung und Übung werden zunächst im digitalen Format über StudOn (https://www.studon.fau.de/crs2839802.html) stattfinden.
WPF WW-DH-MIC ab 5
WPF EEI-MA-MIK 1-4
WPF EEI-BA-MIK 5-6
WF EEI-BA ab 5
WF EEI-MA ab 1
WPF ME-BA-MG4 5-6
WPF ME-MA-MG4 1-3
WPF MWT-MA-MIC ab 1
WF MWT-BA ab 5
WPF NT-MA ab 1
WPF BPT-MA-E 1-3
Berberich, S.  
 

Semiconductor Devices

VORL; Online; 2 cred.h; ECTS: 5; Physikalische Grundlagen der Halbleiterbauelemente
WPF MT-MA-MEL ab 1
PF EEI-BA 3
PF BPT-BA-E 3
PF BPT-MA-M-E ab 1
PF WING-BA-IKS 5
WPF MT-BA-BV ab 5
PF ME-BA 4
Dirnecker, T.  
 

Tutorium Halbleiterbauelemente

TUT; 2 cred.h; Tue, 12:15 - 13:45, HH; Erster Termin: wird noch bekanntgegeben
PF EEI-BA 3
PF BPT-BA-E 3
PF WING-BA-IKS 5
WPF MT-BA-BV 5-6
PF ME-BA 4
Martens, Ch.  
 

Übungen zu Halbleiterbauelemente

UE; Online; 2 cred.h; Thu, 8:15 - 9:45, H15
WPF MT-MA-MEL ab 1
PF EEI-BA 3
PF WING-BA-IKS 5
PF BPT-BA-E 3
PF BPT-MA-M-E ab 1
WPF MT-BA ab 5
PF ME-BA 4
Martens, Ch.  
 

Integrierte Schaltungen, Leistungsbauelemente und deren Anwendungen [SEM_POWER]

SEM; 2 cred.h; ben. certificate; ECTS: 2,5; Für weitere Informationen wenden Sie sich bitte an Tobias Dirnecker (tobias.dirnecker@fau.de); Zeit und Raum n.V.
WF EEI-MA ab 1
WF EEI-BA ab 5
WF ME-BA-SEM 6
WF ME-MA-SEM 3
Stolzke, T.
u.a.
 
 

Colloquium on Semiconductor Technology and Metrology [KO HLMT]

KO; 1 cred.h; Mon, 17:15 - 18:00, Hans-Georg-Waeber-Saal
  Bauer, A.  
 

Nano IV: Halbleiter [Nano IV]

VORL; Online; 2 cred.h; ECTS: 2,5; Veranstaltung für Studiengang Nanotechnologie.; Thu, 10:15 - 11:45, 0.111; Veranstaltung für Studiengang Nanotechnologie. Die Veranstaltung wird zunächst im digitalen Format über StudOn (https://www.studon.fau.de/crs2847766.html) stattfinden.
PF NT-BA 4 Dirnecker, T.  
 

Nanoelectronics [NANOEL]

VORL; Online; 2 cred.h; ECTS: 2,5; Tue, 12:15 - 12:45; Eine Einführung in das Arbeitsmaterial bzw. Sprechstunde findet regelmäßig über Zoom statt, Anmeldung und Zugang zu Vorlesungsunterlagen und weiteren Informationen über StudOn (https://www.studon.fau.de/crs3703347_join.html).
PF NT-MA 2
WPF EEI-BA-MIK 5-6
WPF EEI-MA-MIK 1-4
WF EEI-BA ab 5
WF EEI-MA ab 1
WPF BPT-MA-E 1-3
Jank, M.  
 

Laboratory on Semiconductor and Device Metrology [Prak HLMT]

PR; Präsenz; 3 cred.h; certificate; ECTS: 2,5; Ggf. findet das Praktikum - in Abstimmung mit den Studierenden in der Vorbesprechung - als Blockpraktikum in der vorlesungsfreien Zeit statt. Anmeldung über StudOn.
WPF EEI-BA-MIK 5-6
WPF EEI-MA-MIK 1-4
WPF ME-MA-P-EEI 2-3
Marhenke, J.
Niebauer, M.
 
 

Laboratory on Mechatronic Systems [MechSysPrak]

PR; Online/Präsenz; 6 cred.h; certificate; ECTS: 5; Hinweis: die Veranstaltung wird in diesem Semester zunächst digital beginnen. Spätere Präsenztermine sind ggf. möglich. Weitere Informationen im StudOn-Bereich zum Praktikum.; Preliminary meeting: 14.4.2021, 14:00 - 16:00 Uhr, Zoom-Meeting
PF ME-BA 4 Dirnecker, T.  
     single appointment on 14.4.202114:00 - 16:00Zoom-Meeting  Dirnecker, T.
und andere
 
 Einführungsveranstaltung wird über Webmeeting oder Videokonferenz stattfinden (weitere Informationen im StudOn-Bereich zum Praktikum.
     single appointment on 7.7.20219:00 - 12:00n.V.  Dirnecker, T.
und andere
 
     Wed14:15 - 17:45n.V.  Dirnecker, T.
Martens, Ch.
 
 

Laboratory on Microelectronics [PrakMikro]

PR; Präsenz; 3 cred.h; certificate; ECTS: 2,5
WPF EEI-BA-MIK 5-6 Stolzke, T.
Dirnecker, T.
 
     tbd.    Deeg, F. 
     tbd.    Beck, Ch. 
     tbd.    Frickel, J. 
 P1 LIKE-Praktikumsraum
     tbd.    Stolzke, T. 
 

Laboratory on Silicon Semiconductor Processing [Prak TeSi]

PR; 3 cred.h; certificate; ECTS: 2,5; Entfällt im Sommersemester 2021
WPF EEI-MA-MIK 1-4
WPF EEI-BA-MIK 5-6
WPF EEI-BA-LE 5-6
WPF EEI-MA-LE 1-4
WPF ME-MA-P-EEI 1-3
Dirnecker, T.  
     Wed8:15 - 11:450.111  Dirnecker, T.
Marhenke, J.
Martens, Ch.
Niebauer, M.
 
 

Process and Device Simulation [SimP&B-V]

VORL; Online; 2 cred.h; ben. certificate; ECTS: 2,5; Online-Vorlesung, Zugangsdaten nach Anmeldung bei juergen.lorenz@iisb.fraunhofer.de. Zur Lehrveranstaltung werden freiwillige Übungen angeboten, ebenfalls online.; Thu, 16:00 - 17:30; Terminänderung ggf. in Absprache möglich
WF EEI-BA ab 5
WF EEI-MA-MIK ab 1
WF EEI-MA ab 1
Lorenz, J.  
 

Übungen zu Prozess- und Bauelemente-Simulation [SimP&B-Ü]

UE; Online; 2 cred.h; Die Übung stellt ein freiwilliges Zusatzangebot dar. Online-Übung, siehe SimP&B-V
WF EEI-BA ab 5
WF EEI-MA-MIK ab 1
WF EEI-MA ab 1
Lorenz, J.  
 

Process Integration and Device Architecture [PiBa-V]

VORL; Online; 2 cred.h; ben. certificate; ECTS: 5; Veranstaltung wird zunächst ohne Präsenztermine im digitalen Format angeboten (StudOn); Fri, 8:15 - 9:45, Hans-Georg-Waeber-Saal
WPF ME-BA-MG4 5-6
PF EEI-BA-MIK 5-6
PF EEI-MA-MIK 1-4
WF EEI-BA ab 5
WF EEI-MA ab 1
WPF ME-MA-MG4 1-3
WPF NT-MA ab 1
WPF BPT-MA-E 1-3
Erlbacher, T.  
 

Excursion Semiconductor Processing [TeSi-EX]

EX; 1 cred.h; certificate; Wird in den Veranstaltungen des Lehrstuhls bekannt gegeben
  Assistenten  
 

Übungen zu Prozessintegration und Bauelementearchitekturen [PiBa-Ü]

UE; Online; 2 cred.h; Veranstaltung wird ohne Präsenztermine im digitalen Format angeboten (StudOn); Tue, 10:15 - 11:45, Hans-Georg-Waeber-Saal
WPF ME-BA-MG4 5-6
PF EEI-BA-MIK 5-6
PF EEI-MA-MIK 1-4
WF EEI-BA ab 5
WF EEI-MA ab 1
WPF ME-MA-MG4 1-3
WPF NT-MA ab 1
WPF BPT-MA-E 1-3
Niebauer, M.  
 

Seminar Quantentechnologien

SEM; Online; 2 cred.h; ECTS: 2,5; Tue, 8:15 - 9:45
WPF EEI-BA-AET ab 5
WPF EEI-MA-AET ab 1
WPF EEI-BA-MIK ab 5
WPF EEI-MA-MIK ab 1
Nagy, R.  
 

Seminar über Bachelorarbeiten (Sem BA)

SEM; 2 cred.h; Fri, 10:15 - 11:45, 0.111; Vortragstermine werden per Aushang auf den Lehrstuhlseiten bekannt gegeben
  Dirnecker, T.
Stolzke, T.
u.a.
 
 

Seminar on Theses [SEM StudA]

SEM; 2 cred.h; Fri, 12:15 - 13:45, 0.111; In Kooperation mit FhG IISB.
  Stolzke, T.
Dirnecker, T.
u.a.
 


UnivIS is a product of Config eG, Buckenhof