UnivIS Informationssystem der Friedrich-Alexander-Universität Erlangen-Nürnberg - Semester: WS 2010/2011
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International Production Engineering and Management

Ausgewählte Kapitel der Silicium-Halbleitertechnologie

SEM; 2 SWS; ben. Schein; ECTS: 2,5; Di, 14:00 - 16:00, 0.111; Vorbesprechung: 19.10.2010, 14:00 - 15:00 Uhr, 0.111
WPF EEI-DH-MIK 5-13
WPF EEI-BA 5-9
WPF ME-DH-SEM 5-13
Grandrath, Ch.
Frey, L.
 

Numerische Simulation grundlegender Vorgänge in Halbleiterbauelementen

SEM; 2 SWS; ben. Schein; ECTS: 2,5; nach Vereinbarung; Vorbesprechung: 21.10.2010, 11:45 - 12:00 Uhr, 0.111
WPF EEI-DH-MIK 7-13 Stoisiek, M.  

Praktikum Halbleiter- und Bauelementemesstechnik

PR; 3 SWS; Schein; ECTS: 2,5; Voraussetzung: Vorlesungen Technologie integrierter Schaltungen und/oder Halbleiter- und Bauelementemesstechnik; Praktikum wird voraussichtlich als Blockveranstaltung in der vorlesungsfreien Zeit stattfinden.; Vorbesprechung: 18.10.2010, 14:50 - 15:00 Uhr, Hans-Georg-Waeber-Saal
WPF EEI-DH-MIK ab 5
WPF ME-DH-PEEI ab 5
Grandrath, Ch.
Assistenten
 

Praktikum Technologie der Silicium-Halbleiterbauelemente

PR; 3 SWS; Schein; ECTS: 2,5; Vorlesung Technologie integrierter Schaltungen vorausgesetzt; Di, 8:30 - 12:30, BR 1.161; Praktikum wird am Dienstag vormittag durchgeführt. Teilnehmerzahl ist beschränkt. Wichtig: Teilnahme an Vorbesprechung am 18.10.2010 um 15:00 Uhr im Hans-Georg-Waeber-Saal!; Vorbesprechung: 18.10.2010, 15:00 - 16:00 Uhr, Hans-Georg-Waeber-Saal
WPF CE-BA-TA-ME ab 5
WPF CE-BA-TW ab 5
WPF EEI-DH-AET ab 5
WPF EEI-DH-MIK ab 5
WPF EEI-BA ab 5
WPF ME-DH-PEEI ab 5
Dirnecker, T.
u.a.
 

Produktion in der Elektrotechnik 1 (PRIDE)

VORL; 2 SWS; ECTS: 2,5; Teil 1 (Wintersemester) und Teil 2 (Sommersemester) der Vorlesung werden gemeinsam geprüft; Di, 16:00 - 17:30, Hans-Georg-Waeber-Saal
PF ME-DH 5
WPF ME-BA-MG8 ab 5
Frey, L.
Schmidt, M.
 

Technik der Halbleiterfertigungsgeräte

VORL; 2 SWS; ben. Schein; ECTS: 2,5; Mi, 15:15 - 17:45, Hans-Georg-Waeber-Saal, (außer Mi 1.12.2010, Mi 15.12.2010); ab 27.10.2010; Am 08.12. Vorlesung ab 16:00, am 15.12. Reinraumbesichtigung (ab 11:00), 19.&26.01. Reservetermine; Vorbesprechung: 27.10.2010, 15:15 - 15:45 Uhr, Hans-Georg-Waeber-Saal
WF EEI-DH-MIK 5-13
WF MB-DH 7-13
WPF ME-DH-VF8 7-9
WPF ME-BA-MG8 ab 5
WF WW-DH-EL 7-13
Pfitzner, L.
Schmutz, W.
 

Technologie integrierter Schaltungen

VORL; 3 SWS; ECTS: 5; benoteter Schein möglich; Mo, 12:30 - 14:45, Hans-Georg-Waeber-Saal; ab 17.01. von 11:30 bis 13:45
WPF CE-BA-TA-ME 3-5
WPF CE-BA-TW 3-5
PF EEI-DH-MIK 5
WPF EEI-DH-AET 5-13
WPF EEI-DH-LE 5-13
PF EEI-BA-MIK 5-6
WPF EEI-BA-MIK 5-6
PF EEI-MA-MIK 1-4
WPF EEI-MA-MIK 1-4
PF INF-NF-EEI 5
WPF ME-DH-VF13 7-9
WF ME-DH-VF11 5-13
WF ME-DH-VF8 5-13
WPF ME-BA-MG12 5
Frey, L.  

Übung zu Technologie integrierter Schaltungen

UE; 1 SWS; jede 2. Woche Mo, 15:00 - 16:30, Hans-Georg-Waeber-Saal; ab 25.10.2010; ab 24.01. von 14:00 bis 15:30
WPF CE-BA-TA-ME 3-5
WPF CE-BA-TW 3-5
PF EEI-DH-MIK 5
WPF EEI-DH-AET 5-13
WPF EEI-DH-LE 5-13
WPF EEI-BA ab 5
PF INF-NF-EEI 5
WPF ME-DH-VF13 7-9
WPF ME-BA-MG12 ab 5
Kaiser, J.  

Virtuelle Übung zu Produktion in der Elektrotechnik

UE; 1 SWS; Anmeldung über die Internetseite des Lehrstuhls für Elektronische Bauelemente; zur Verbesserung der Prüfungsvorbereitung LEB-Teil
  N.N.  

Zuverlässigkeit und Fehleranalyse integrierter Schaltungen

VORL; 2 SWS; ben. Schein; ECTS: 4; Fr, 10:15 - 11:45, Hans-Georg-Waeber-Saal
WPF EEI-DH-MIK 5-13
WPF EEI-BA-MIK 5-6
WPF EEI-MA-MIK 1-4
WPF ME-DH-VF11 5-7
WPF ME-BA-MG11 5
Pichler, P.  

Übung zu Zuverlässigkeit und Fehleranalyse integrierter Schaltungen

UE; 1 SWS; ben. Schein; Fr, 11:45 - 12:30, Hans-Georg-Waeber-Saal
WPF EEI-DH-MIK 5-13
PF ME-DH-VF11 5-7
WPF ME-BA-MG11 ab 5
Pichler, P.  

   

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