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Zuverlässigkeit und Fehleranalyse integrierter Schaltungen (ZUFIS)2.5 ECTS
Modulverantwortliche/r: Peter Pichler Lehrende:
Peter Pichler
Startsemester: |
WS 2011/2012 | Dauer: |
1 Semester |
Präsenzzeit: |
40 Std. | Eigenstudium: |
35 Std. |
Lehrveranstaltungen:
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Zuverlässigkeit und Fehleranalyse integrierter Schaltungen
(Vorlesung, 2 SWS, Peter Pichler, Fr, 10:15 - 11:45, Hans-Georg-Waeber-Saal)
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Übung zu Zuverlässigkeit und Fehleranalyse integrierter Schaltungen
(Übung, 1 SWS, Peter Pichler, Fr, 11:45 - 12:30, Hans-Georg-Waeber-Saal)
Empfohlene Voraussetzungen:
keine, ein vorheriger Besuch der Vorlesung Halbleiterbauele-mente ist jedoch für das Verständnis empfehlenswert
Inhalt:
Neben einer Einführung in die mathematische Beschreibung von Zuverlässigeitsbetrachtungen bietet die Vorlesung eine Diskussion der relevanten Ausfallmechanismen von elektronischen Bauelementen und eine Übersicht über die Fehleranalyse an ausgefallenen Bauelementen. Insbesondere werden Ausfälle und Fehlerbilder durch elektrische Überbelastung, Schäden in Dielektrika und Strahlenschäden, sowie Fehler in der Metallisierung, Kontaktierung und Verkapselung behandelt.
Lernziele und Kompetenzen:
Die Studierenden
erwerben grundlegende Kenntnisse über statistische Grundlagen von Zuverlässigkeitsbetrachtungen, die physikalische Ausfallmechanismen in integrierten Schaltungen, Fehleranalyse
verstehen die Gründe warum Bauelemente ausfallen, die Relevanz von Zuverlässigkeitsproblemen für den Entwurf
sind in der Lage, Einflussfaktoren für die Ausfälle von ICs zu bewerten und Gegenmaßnahmen zu beurteilen
Weitere Informationen:
Schlüsselwörter: Zuverlässigkeit, Fehleranalyse, Integrierte Schaltungen, Ausfallmechanismen, Messverfahren zur Qualitätssicherung
www: http://www.leb.eei.uni-erlangen.de
Verwendbarkeit des Moduls / Einpassung in den Musterstudienplan: Das Modul ist im Kontext der folgenden Studienfächer/Vertiefungsrichtungen verwendbar:
- Elektrotechnik, Elektronik und Informationstechnik (Bachelor of Science)
(Po-Vers. 2009 | Studienrichtungen (Wahlpflichtmodule) | Studienrichtung Mikroelektronik | Vertiefungsmodule Mikroelektronik | Zuverlässigkeit und Fehleranalyse integrierter Schaltungen)
Studien-/Prüfungsleistungen:
- schriftlich, Dauer (in Minuten): 90, benotet
- weitere Erläuterungen:
Aufgrund der geringen Teilnehmerzahl wird die Prüfung in der Regel mündlich (30 Minuten) erfolgen
- Erstablegung: WS 2011/2012, 1. Wdh.: SS 2012, 2. Wdh.: keine Wiederholung
- Termin: 11.10.2013
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