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Advanced Semiconductor Technologies - Characterization and Advanced Defect Imaging of PV Modules and Systems
Lecturers
Prof. Dr.
Christoph J. Brabec
, Dr.
Jens Hauch
Details
Praktikum
1 cred.h, ECTS studies, ECTS credits: 1, Sprache Englisch
Time and place: n.V.
Fields of study
WF MWT-MA-WET ab 1 (ECTS-Credits: 1)
WF NT-MA-WET ab 1 (ECTS-Credits: 1)
WF ET-MA-MWT ab 1 (ECTS-Credits: 1)
ECTS information:
Credits:
1
Additional information
Expected participants: 15, Maximale Teilnehmerzahl: 20
Department:
Chair of Materials for Electronics and Energy Technology
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