Lecture list

Lecturer:: Julius Marhenke
Details:: Seminar, 2 cred.h, graded certificate, ECTS: 2,5, nur Fachstudium, Anmeldung über StudOn; Kenntnisse aus "Technologie integrierter Schaltungen" und/oder "Prozessintegration" werden vorausgesetzt.
Dates:: Tue, 14:15 - 15:45, 0.111
Die Teilnahme an der Vorbesprechung ist obligatorisch.
Fields of study:: WPF ME-MA-SEM-EEI 3
WPF EEI-BA-MIK 5-6
WPF EEI-MA-MIK 1-4
WPF ME-BA-SEM 3-6

Einführung in die gedruckte Elektronik [GedrElektr]

Lecturer:: Michael Jank
Details:: Vorlesung, 2 cred.h, certificate, ECTS: 2,5, nur Fachstudium, Anmeldung über StudOn: https://www.studon.fau.de/crs3235071.html
Dates:: Wed, 8:15 - 9:45, 0.111
Fields of study:: WF EEI-BA ab 5
WF EEI-MA ab 1
Keywords:: gedruckte Elektronik organische OFET OTFT Polymer

Forschungspraktikum am LEB

Lecturer:: Tobias Dirnecker
Details:: Sonstige Lehrveranstaltung, certificate, ECTS: 5, Nur für EEI Master; Weitere Informationen über StudOn unter: <link wird noch eingefügt>
Dates:: Nach Vereinbarung; Nur für EEI Master; Weitere Informationen über StudOn unter: <Link wird noch eingefügt>

Semiconductor Devices

Lecturer:: Tobias Dirnecker
Details:: Vorlesung, 2 cred.h, ECTS: 5, Physikalische Grundlagen der Halbleiterbauelemente
Dates:: Wed, 14:15 - 15:45, room tbd
Anmeldung über StudOn: https://www.studon.fau.de/crs3235231.html
Fields of study:: WPF MT-MA-MEL ab 1
PF EEI-BA 3
PF BPT-BA-E 3
PF BPT-MA-M-E ab 1
WPF MT-BA-BV ab 5
Prerequisites / Organisational information:: Zur Vorlesung wird eine Übung (2 SWS) sowie ein Tutorium angeboten. Informationen zu diesen Veranstaltungen finden Sie im Informationssystem UnivIS.
Keywords:: Bauelemente, Halbleiter

Tutorium Halbleiterbauelemente

Lecturer:: Christian Martens
Details:: Tutorium, 2 cred.h, nur Fachstudium
Dates:: Mon, 8:15 - 9:45, room tbd
Erster Termin: wird noch bekanntgegeben
Fields of study:: PF EEI-BA 3
PF BPT-BA-E 3
WPF MT-BA-BV 5-6

Übungen zu Halbleiterbauelemente

Lecturer:: Christian Martens
Details:: Übung, 2 cred.h, nur Fachstudium
Dates:: Mon, 14:15 - 15:45, room tbd
Fields of study:: WPF MT-MA-MEL ab 1
PF EEI-BA 3
PF BPT-BA-E 3
PF BPT-MA-M-E ab 1
WPF MT-BA ab 5

Integrierte Schaltungen, Leistungsbauelemente und deren Anwendungen [SEM_POWERDEVICES]

Lecturer:: Tobias Dirnecker
Details:: Seminar, 2 cred.h, graded certificate, ECTS: 2,5, Für weitere Informationen wenden Sie sich bitte an Tobias Dirnecker (tobias.dirnecker@fau.de)
Dates:: to be determined

Colloquium on Semiconductor Technology and Metrology

Lecturer:: Anton Bauer
Details:: Kolloquium, 1 cred.h, nur Fachstudium
Dates:: Mon, 17:15 - 18:00, Hans-Georg-Waeber-Saal
Siehe Vortragsliste auf der Homepage des LEB.

Semiconductor Power Devices

Lecturer:: Tobias Erlbacher
Details:: Vorlesung, 2 cred.h, graded certificate, ECTS: 5
Dates:: Thu, 16:15 - 17:45, room tbd
Vorlesung wird aufgezeichnet und über das FAU-Videoportal zur Verfügung gestellt.
Fields of study:: WPF WING-MA-ET-EN 1-3
WPF ME-BA-MG3 3-6
PF EEI-BA-LE 5-6
WPF EEI-BA-EuA 5-6
PF EEI-MA-LE 1-4
WPF EEI-MA-EuA 1-4
WF EEI-BA ab 5
WF EEI-MA ab 1
WPF ME-MA-MG3 1-3
WPF BPT-MA-E 1-3
Keywords:: Leistungsbauelemente Halbleiter

Übung zu Leistungshalbleiterbauelemente

Lecturer:: Tobias Stolzke
Details:: Übung, 2 cred.h, Anmeldung über StudOn: https://www.studon.fau.de/crs3235086.html
Dates:: Wed, 8:15 - 9:45, room tbd
Fields of study:: WPF ME-BA-MG3 3-6
PF EEI-BA-LE 5-6
WPF EEI-BA-EuA 5-6
WPF EEI-MA-EuA 1-4
PF EEI-MA-LE 1-4
WF EEI-BA ab 5
WF EEI-MA ab 1
WPF ME-MA-MG3 1-3
WPF BPT-MA-E 1-3
WPF WING-MA-ET-EN 1-3

Optical Lithography: Technology, Physical Effects, and Modelling

Lecturer:: Andreas Erdmann
Details:: Vorlesung, 2 cred.h, Die Vorlesung findet voraussichtlich über Zoom statt. Weitere Hinweise finden Sie im StudOn-Kurs zur Vorlesung.
Dates:: Thu, 10:15 - 11:45, room tbd
Fields of study:: WF EEI-MA ab 1
WF EEI-BA ab 5
WF EEI-MA ab 1
WF AOT-GL ab 1
PF NT-MA 1

Übung zu Optical Lithography

Lecturer:: Andreas Erdmann
Details:: Übung, 2 cred.h, Für Master AOT verpflichtende Zusatzveranstaltung, für andere Studiengänge freiwillig
Dates:: Tue, 16:15 - 17:45, BR 1.161
Fields of study:: WF AOT-GL ab 1
PF NT-MA 1
WF EEI-BA ab 5
WF EEI-MA ab 1

Laboratory on Semiconductor and Device Metrology

Lecturers:: Michael Niebauer, u.a.
Details:: Praktikum, 3 cred.h, certificate, ECTS: 2,5, nur Fachstudium, Voraussetzung: Vorlesungen Technologie integrierter Schaltungen und/oder Halbleiter- und Bauelementemesstechnik
Dates:: Das Praktikum wird voraussichtlich als Blockpraktikum in der vorlesungsfreien Zeit stattfinden. Ein Termin zur Vorbesprechung wird zu Beginn des Semesters bekannt gegeben.
Fields of study:: WPF EEI-BA-MIK 5-6
WPF EEI-MA-MIK 1-4
WPF ME-MA-P-EEI 1-4

Laboratory on Microelectronics [PrakMikro] Lecturers: Tobias Stolzke, Tobias Dirnecker Details: Praktikum, 3 cred.h, certificate, ECTS: 2,5, nur Fachstudium, Nur EEI-BA Mikroelektronik; Der Vorbesprechungstermin ist eine Pflichtveranstaltung und muss wahrgenommen werden. Fields of study: WPF EEI-BA-MIK 5-6 Prerequisites / Organisational information: Nur für Studenten im Bachelorstudium EEI mit Studienrichtung Mikroelektronik belegbar.
	tbd.	Deeg, F.
Versuchstermine werden in der Vorbesprechung festgelegt
	tbd.	Stolzke, T.
Versuchstermine werden in der Vorbesprechung festgelegt
	tbd.	Frickel, J.
Versuchstermine werden in der Vorbesprechung festgelegt
	tbd.	Beck, Ch.
Versuchstermine werden in der Vorbesprechung festgelegt

Laboratory on Silicon Semiconductor Processing [Prak TeSi]

Lecturer:: Tobias Dirnecker
Details:: Praktikum, 3 cred.h, certificate, ECTS: 2,5, nur Fachstudium, Hinweis: Das Praktikum wird im Wintersemester nicht angeboten
Dates:: to be determined
Fields of study:: WPF ME-MA-P-EEI 1-4
WPF EEI-MA-MIK 1-4
WPF EEI-BA-MIK 5-6
WPF EEI-BA-LE 5-6
WPF EEI-MA-LE 1-4
WPF ME-MA ab 1

Reinraum- und Halbleiterpraktikum [RRPrak] Lecturers: Julius Marhenke, Tobias Dirnecker Details: Praktikum, 6 cred.h, ECTS: 5, nur Fachstudium, Teilnahme an der Vorbesprechung (über Zoom; Uhrzeit wird noch bekannt gegeben) ist verpflichtend! Anmeldung bei StudOn notwendig. Praktikumszeiten donnerstags werden nach Gruppeneinteilung bekanntgegeben. Dates: Preliminary meeting: Thursday, 5.11.2020 Fields of study: PF NT-BA 5
	Thu	8:00 - 11:00, 13:00 - 16:00	0.111	Marhenke, J. Assistenten
	Thu	8:00 - 11:00, 13:00 - 16:00	BR 1.161	Dirnecker, T. Assistenten
	Thu Thu	9:00 - 13:00 14:00 - 18:00	BR 1.161, 0.111 BR 1.161	Assistenten
Findet u.a. im Reinraum des LEB statt. Gruppeneinteilung am Semesterbeginn.				Assistenten

Seminar über Bachelorarbeiten [Sem BA]

Lecturers:: Tobias Stolzke, Tobias Dirnecker
Details:: Seminar, 2 cred.h, ECTS: 2,5
Dates:: Fri, 10:15 - 11:45, 0.111

Seminar on Theses

Lecturers:: Tobias Dirnecker, Tobias Stolzke
Details:: Seminar, 2 cred.h
Dates:: Fri, 12:15 - 13:45, 0.111
(Termine werden bekannt gegeben und sind auf der Homepage des Lehrstuhls zu finden

Technology of Integrated Circuits

Lecturer:: Tobias Erlbacher
Details:: Vorlesung, 3 cred.h, ECTS: 5, nur Fachstudium, https://www.studon.fau.de/crs3251753.html
Dates:: Vorlesung wird aufgezeichnet und über das FAU-Videoportal zur Verfügung gestellt.
Fields of study:: WPF BPT-MA-E 1-3
PF EEI-BA-MIK 5-6
WPF EEI-BA-MIK 5-6
PF EEI-MA-MIK 1-4
WPF EEI-MA-MIK 1-4
WF EEI-BA ab 5
WF EEI-MA ab 1
PF INF-NF-EEI 5
WPF ME-BA-MG4 3-6
WPF ME-MA-MG4 1-3
WF NT-MA ab 1

Übung zu Technologie integrierter Schaltungen

Lecturer:: Michael Niebauer
Details:: Übung, 1 cred.h, nur Fachstudium, Veranstaltung wird ohne Präsenztermine im digitalen Format angeboten (StudOn)
Dates:: to be determined
Fields of study:: PF EEI-BA-MIK 5-6
WPF EEI-BA-MIK 5-6
PF EEI-MA-MIK 1-4
WPF EEI-MA-MIK 1-4
WF EEI-BA ab 5
WF EEI-MA ab 1
PF INF-NF-EEI ab 5
WPF ME-BA-MG4 3-6
WPF ME-MA-MG4 1-3
WF NT-MA ab 1
WPF BPT-MA-E 1-3

Reliability and Failure Analysis of Integrated Circuits

Lecturer:: Peter Pichler
Details:: Vorlesung, 2 cred.h, graded certificate, ECTS: 4, Vorlesung findet digital statt. Anmeldung zur Vorlesung bitte per Email an den Dozenten: peter.pichler@fau.de
Dates:: Mon, 10:15 - 11:45, room tbd
Vorlesung findet wöchentlich (Mo 10:15 - 11:45) digital statt.
Fields of study:: WPF EEI-BA-MIK 5-6
WPF EEI-MA-MIK 1-4
WPF BPT-MA-E 1-3
WF EEI-BA ab 5
WF EEI-MA ab 1
Keywords:: Zuverlässigkeit, Fehleranalyse, Integrierte Schaltungen, Ausfallmechanismen, Messverfahren zur Qualitätssicherung

Übung zu Zuverlässigkeit und Fehleranalyse integrierter Schaltungen

Lecturer:: Peter Pichler
Details:: Übung, 1 cred.h, graded certificate, nur Fachstudium
Dates:: Weitere Informationen zur Übung werden in der Vorlesung bekannt gegeben.
Fields of study:: WPF EEI-BA-MIK 5-6
WPF EEI-MA-MIK 1-4
WPF BPT-MA-E 1-3
WF EEI-BA ab 5
WF EEI-MA ab 1



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