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Departments >> Faculty of Engineering >> Department of Electrical-Electronic-Communication Engineering >>

Chair of Electron Devices (Prof. Dr. Frey)

 

Seminar on Selected Topics of Silicon Semiconductor Technology

SEM; Online/Präsenz; 2 cred.h; ben. certificate; ECTS: 2,5; Anmeldung über StudOn; Kenntnisse aus "Technologie integrierter Schaltungen" und/oder "Prozessintegration" werden vorausgesetzt.; Tue, 14:15 - 15:45, 0.111; Die Teilnahme an der Vorbesprechung ist obligatorisch.
WPF ME-MA-SEM-EEI 3
WPF EEI-BA-MIK 5-6
WPF EEI-MA-MIK 1-4
WPF ME-BA-SEM 3-6
Marhenke, J.  
 

Einführung in die gedruckte Elektronik [GedrElektr]

VORL; Online/Präsenz; 2 cred.h; certificate; ECTS: 2,5; Anmeldung über StudOn: https://www.studon.fau.de/crs3235071.html; Wed, 8:15 - 9:45, 0.111
WF EEI-BA ab 5
WF EEI-MA ab 1
Jank, M.  
 

Forschungspraktikum am LEB

SL; Online/Präsenz; certificate; ECTS: 5; Nur für EEI Master; Weitere Informationen über StudOn unter: <link wird noch eingefügt>; Nach Vereinbarung; Nur für EEI Master; Weitere Informationen über StudOn unter: <Link wird noch eingefügt>
  Dirnecker, T.  
 

Semiconductor Devices

VORL; Online; 2 cred.h; ECTS: 5; Physikalische Grundlagen der Halbleiterbauelemente; Wed, 14:15 - 15:45; Anmeldung über StudOn: https://www.studon.fau.de/crs3235231.html
WPF MT-MA-MEL ab 1
PF EEI-BA 3
PF BPT-BA-E 3
PF BPT-MA-M-E ab 1
WPF MT-BA-BV ab 5
Dirnecker, T.  
 

Tutorium Halbleiterbauelemente

TUT; Online; 2 cred.h; Mon, 8:15 - 9:45; Erster Termin: wird noch bekanntgegeben
PF EEI-BA 3
PF BPT-BA-E 3
WPF MT-BA-BV 5-6
Martens, Ch.  
 

Übungen zu Halbleiterbauelemente

UE; Online; 2 cred.h; Mon, 14:15 - 15:45
WPF MT-MA-MEL ab 1
PF EEI-BA 3
PF BPT-BA-E 3
PF BPT-MA-M-E ab 1
WPF MT-BA ab 5
Martens, Ch.  
 

Integrierte Schaltungen, Leistungsbauelemente und deren Anwendungen [SEM_POWERDEVICES]

SEM; Online/Präsenz; 2 cred.h; ben. certificate; ECTS: 2,5; Für weitere Informationen wenden Sie sich bitte an Tobias Dirnecker (tobias.dirnecker@fau.de)
  Dirnecker, T.  
 

Colloquium on Semiconductor Technology and Metrology

KO; 1 cred.h; Mon, 17:15 - 18:00, Hans-Georg-Waeber-Saal; Siehe Vortragsliste auf der Homepage des LEB.
  Bauer, A.  
 

Semiconductor Power Devices

VORL; Online; 2 cred.h; ben. certificate; ECTS: 5; Thu, 16:15 - 17:45; Vorlesung wird aufgezeichnet und über das FAU-Videoportal zur Verfügung gestellt.
WPF WING-MA-ET-EN 1-3
WPF ME-BA-MG3 3-6
PF EEI-BA-LE 5-6
WPF EEI-BA-EuA 5-6
PF EEI-MA-LE 1-4
WPF EEI-MA-EuA 1-4
WF EEI-BA ab 5
WF EEI-MA ab 1
WPF ME-MA-MG3 1-3
WPF BPT-MA-E 1-3
Erlbacher, T.  
 

Übung zu Leistungshalbleiterbauelemente

UE; Online; 2 cred.h; Anmeldung über StudOn: https://www.studon.fau.de/crs3235086.html; Wed, 8:15 - 9:45
WPF ME-BA-MG3 3-6
PF EEI-BA-LE 5-6
WPF EEI-BA-EuA 5-6
WPF EEI-MA-EuA 1-4
PF EEI-MA-LE 1-4
WF EEI-BA ab 5
WF EEI-MA ab 1
WPF ME-MA-MG3 1-3
WPF BPT-MA-E 1-3
WPF WING-MA-ET-EN 1-3
Stolzke, T.  
 

Optical Lithography: Technology, Physical Effects, and Modelling

VORL; Online; 2 cred.h; Die Vorlesung findet voraussichtlich über Zoom statt. Weitere Hinweise finden Sie im StudOn-Kurs zur Vorlesung.; Thu, 10:15 - 11:45
WF EEI-MA ab 1
WF EEI-BA ab 5
WF EEI-MA ab 1
WF AOT-GL ab 1
PF NT-MA 1
Erdmann, A.  
 

Übung zu Optical Lithography

UE; Online; 2 cred.h; Für Master AOT verpflichtende Zusatzveranstaltung, für andere Studiengänge freiwillig; Tue, 16:15 - 17:45, BR 1.161
WF AOT-GL ab 1
PF NT-MA 1
WF EEI-BA ab 5
WF EEI-MA ab 1
Erdmann, A.  
 

Laboratory on Semiconductor and Device Metrology

PR; Online/Präsenz; 3 cred.h; certificate; ECTS: 2,5; Voraussetzung: Vorlesungen Technologie integrierter Schaltungen und/oder Halbleiter- und Bauelementemesstechnik; Das Praktikum wird voraussichtlich als Blockpraktikum in der vorlesungsfreien Zeit stattfinden. Ein Termin zur Vorbesprechung wird zu Beginn des Semesters bekannt gegeben.
WPF EEI-BA-MIK 5-6
WPF EEI-MA-MIK 1-4
WPF ME-MA-P-EEI 1-4
Niebauer, M.
u.a.
 
 

Laboratory on Microelectronics [PrakMikro]

PR; Online/Präsenz; 3 cred.h; certificate; ECTS: 2,5; Nur EEI-BA Mikroelektronik; Der Vorbesprechungstermin ist eine Pflichtveranstaltung und muss wahrgenommen werden.
WPF EEI-BA-MIK 5-6 Stolzke, T.
Dirnecker, T.
 
     tbd.    Stolzke, T. 
 Versuchstermine werden in der Vorbesprechung festgelegt
     tbd.    Frickel, J. 
 Versuchstermine werden in der Vorbesprechung festgelegt
     tbd.    Deeg, F. 
 Versuchstermine werden in der Vorbesprechung festgelegt
     tbd.    Beck, Ch. 
 Versuchstermine werden in der Vorbesprechung festgelegt
 

Laboratory on Silicon Semiconductor Processing [Prak TeSi]

PR; Online/Präsenz; 3 cred.h; certificate; ECTS: 2,5; Hinweis: Das Praktikum wird im Wintersemester nicht angeboten
WPF ME-MA-P-EEI 1-4
WPF EEI-MA-MIK 1-4
WPF EEI-BA-MIK 5-6
WPF EEI-BA-LE 5-6
WPF EEI-MA-LE 1-4
WPF ME-MA ab 1
Dirnecker, T.  
 

Reinraum- und Halbleiterpraktikum [RRPrak]

PR; Online/Präsenz; 6 cred.h; ECTS: 5; Teilnahme an der Vorbesprechung (über Zoom; Uhrzeit wird noch bekannt gegeben) ist verpflichtend! Anmeldung bei StudOn notwendig. Praktikumszeiten donnerstags werden nach Gruppeneinteilung bekanntgegeben.; Preliminary meeting: 5.11.2020
PF NT-BA 5 Marhenke, J.
Dirnecker, T.
 
     Thu8:00 - 11:00, 13:00 - 16:000.111  Marhenke, J.
Assistenten
 
     Thu8:00 - 11:00, 13:00 - 16:00BR 1.161  Dirnecker, T.
Assistenten
 
     Thu
Thu
9:00 - 13:00
14:00 - 18:00
BR 1.161, 0.111
BR 1.161
  Assistenten 
 Findet u.a. im Reinraum des LEB statt. Gruppeneinteilung am Semesterbeginn.
 

Seminar über Bachelorarbeiten [Sem BA]

SEM; Online/Präsenz; 2 cred.h; ECTS: 2,5; Fri, 10:15 - 11:45, 0.111
  Stolzke, T.
Dirnecker, T.
 
 

Seminar on Theses

SEM; Online/Präsenz; 2 cred.h; Fri, 12:15 - 13:45, 0.111; (Termine werden bekannt gegeben und sind auf der Homepage des Lehrstuhls zu finden
  Dirnecker, T.
Stolzke, T.
 
 

Technology of Integrated Circuits

VORL; Online; 3 cred.h; ECTS: 5; https://www.studon.fau.de/crs3251753.html; Vorlesung wird aufgezeichnet und über das FAU-Videoportal zur Verfügung gestellt.
WPF BPT-MA-E 1-3
PF EEI-BA-MIK 5-6
WPF EEI-BA-MIK 5-6
PF EEI-MA-MIK 1-4
WPF EEI-MA-MIK 1-4
WF EEI-BA ab 5
WF EEI-MA ab 1
PF INF-NF-EEI 5
WPF ME-BA-MG4 3-6
WPF ME-MA-MG4 1-3
WF NT-MA ab 1
Erlbacher, T.  
 

Übung zu Technologie integrierter Schaltungen

UE; Online; 1 cred.h; Veranstaltung wird ohne Präsenztermine im digitalen Format angeboten (StudOn)
PF EEI-BA-MIK 5-6
WPF EEI-BA-MIK 5-6
PF EEI-MA-MIK 1-4
WPF EEI-MA-MIK 1-4
WF EEI-BA ab 5
WF EEI-MA ab 1
PF INF-NF-EEI ab 5
WPF ME-BA-MG4 3-6
WPF ME-MA-MG4 1-3
WF NT-MA ab 1
WPF BPT-MA-E 1-3
Niebauer, M.  
 

Reliability and Failure Analysis of Integrated Circuits

VORL; Online; 2 cred.h; ben. certificate; ECTS: 4; Vorlesung findet digital statt. Anmeldung zur Vorlesung bitte per Email an den Dozenten: peter.pichler@fau.de; Mon, 10:15 - 11:45; Vorlesung findet wöchentlich (Mo 10:15 - 11:45) digital statt.
WPF EEI-BA-MIK 5-6
WPF EEI-MA-MIK 1-4
WPF BPT-MA-E 1-3
WF EEI-BA ab 5
WF EEI-MA ab 1
Pichler, P.  
 

Übung zu Zuverlässigkeit und Fehleranalyse integrierter Schaltungen

UE; Online; 1 cred.h; ben. certificate; Weitere Informationen zur Übung werden in der Vorlesung bekannt gegeben.
WPF EEI-BA-MIK 5-6
WPF EEI-MA-MIK 1-4
WPF BPT-MA-E 1-3
WF EEI-BA ab 5
WF EEI-MA ab 1
Pichler, P.  


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