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Rasterelektronenmikroskopie in Materialforschung und Nanotechnologie (REM_WW9)- Lecturers
- Prof. Dr. rer. nat. habil. Erdmann Spiecker, Dipl.-Ing. Thomas Przybilla, u.a.
- Details
- Vorlesung
2 cred.h, ECTS studies, ECTS credits: 3, Sprache Deutsch
Time and place: Mon 16:15 - 17:45, room tbd; comments on time and place: Course will take place digital via Zoom. For further information please join on StudOn: https://www.studon.fau.de/crs3339808_join.html . First date: 09th of November 2020.
- Fields of study
- WPF MWT-MA-MNF ab 1
WPF NT-MA ab 1
WF MWT-MA-EL ab 1
WPF MWT-MA-AWE ab 1
- Contents
- • Komponenten eines REM
• Elastische/inelastische Wechselwirkung Elektron-Probe,
Wechselwirkungsvolumen, Sekundär-/Rückstreuelektronenerzeugung
• Kontrastmechanismen mit Bezug auf die verschiedenen Detektorsysteme
• Elektronenbeugung und ihre Anwendung im REM
• Rastertransmissionsmikroskopie (STEM)
• Quantitative Röntgenspektroskopie
• Fokussierte Ionenstrahlen (Dual-Beam FIB, He-Ionenmikroskopie)
• Präparationsspezifische Probleme
• Anwendungsbeispiele
- ECTS information:
- Credits: 3
- Additional information
- Expected participants: 15, Maximale Teilnehmerzahl: 30
www: https://www.studon.fau.de/crs3339808.html
- Verwendung in folgenden UnivIS-Modulen
- Startsemester WS 2020/2021:
- Fundamentals of Micro- and Nanostructure Research NT (IMN_M6-NT)
- Kernfach Mikro- und Nanostrukturforschung für MWT (MNF_M1_MWT)
- Kernfach Mikro- und Nanostrukturforschung für NT (MNF_M6_NT)
- Kernfachmodul Allgemeine Werkstoffeigenschaften (M1-MWT-WW1/M6-NT-WW1)
- Nebenfach Mikro- und Nanostrukturforschung für MWT (MNF_M2/M3_MWT)
- Nebenfach Mikro- und Nanostrukturforschung für NT (MNF_M7_NT)
- Scanning Electron Microscopy in Materials Science and Nanotechnology (IMN_M3/4/5/10/11-MWT_M10/11-NT_SEM)
- Department: Chair of Micro- and Nanostructure Research
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