Transmission Electron Microscopy in Material Science II (Prüfungsordnungsmodul)5 ECTSDie Beschreibung eines Prüfungsordnungsmoduls enthält allgemeine
Angaben zur Verwendbarkeit und zu den Rahmenbedingungen für Prüfungen,
so wie sie in den Prüfungsordnungen festgelegt sind. Zusätzlich kann eine allgemeine Modulbeschreibung, die übergreifend
für alle konkreten (UnivIS-)Module gilt, enthalten sein. Die
konkreten Modulbeschreibungen mit Angaben zu den
Lehrveranstaltungen und Prüfungsdetails sind unter den zugeordneten
UnivIS-Modulen zu finden.
Verwendbarkeit des Moduls / Einpassung in den Musterstudienplan:
- Materialwissenschaft und Werkstofftechnik (Master of Science)
(Po-Vers. 2020w | TechFak | Materialwissenschaft und Werkstofftechnik (Master of Science) | 1. und 2. Wahlfach | Transmission Electron Microscopy in Material Science II)
- Nanotechnologie (Master of Science)
(Po-Vers. 2020w | TechFak | Nanotechnologie (Master of Science) | Gesamtkonto | 1. und 2. Naturwissenschaftlich-technisches Wahlmodul | Transmission Electron Microscopy in Material Science II)
Studien-/Prüfungsleistungen:
- Transmission Electron Microscopy in Material Science II (Prüfungsnummer: 62871)
- Prüfungsleistung, mündliche Prüfung, Drittelnoten (mit 4,3), 5 Leistungspunkte
- Anteil an der Berechnung der Modulnote: 100.0 %
UnivIS-Module:UnivIS-Module im aktuellen Semester (SS 2021):
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