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Advanced Processes (AP)

 

Process Technologies [PT]

VORL; 2 SWS; Schein; ECTS: 5,0; Mo, 14:15 - 15:45, Raum n.V.
PF MAP-S-AP 2 Freund, H.
Kaspereit, M.
Freitag, D.
 
 

Process Technologies Exercises

UE; 1 SWS; Schein; Mi, 10:15 - 11:45, KS II
PF MAP-S-AP 2 Kaiser, M.
Freitag, D.
Kaspereit, M.
Freund, H.
 
 

Sustainable Technologies [SusTech]

VORL; Online; 1 SWS; ECTS: 1,5; Di, 9:00 - 9:45; via Zoom, details available on StudOn, please register: https://www.studon.fau.de/crs3784892.html
PF MAP-S-AP 2 Franken, T.  
 

Thin films: processing, characterization and functionalities.

VORL; Online; 1 SWS; ben. Schein; ECTS: 1,5; Im SS21 findet nicht statt. Stadt dieser VL ist "Advanced Semiconductor Technologies - Processing (including Lab Work Organic Electronics Processing) (AST-Processing)" zu hören. findet aus aktuellem Anlass mittels Zoom-Live-Übertragung statt. Anmeldung im StudOn ist erforderlich. Zugangsdaten zu ZOOM werden über StudOn mitgeteilt.; Mi, 12:15 - 13:45, 3.71; Vorbesprechung: 12.4.2021, 11:30 - 12:00 Uhr
PF MAP-S-AP 2 Egelhaaf, H.-J.  
 

Thin films: processing, characterization and functionalities (Extension)

VORL; Online; 1 SWS; ben. Schein; ECTS: 1; Wird in SS21 nicht gehalten. Stadt dieser VL ist "Advanced Semiconductor Technologies - Processing (including Lab Work Organic Electronics Processing) (AST-Processing)" zu hören. Vertiefung zur VL Thin films: processing, characterization and functionalities, findet über ZOOM statt.; Mi, 12:15 - 13:45; Vorbesprechung: 12.4.2021, 11:30 - 12:00 Uhr
WPF MAP-S-AP ab 2 Egelhaaf, H.-J.  


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