| SPP 1500 - Dependable Embedded Systems, Assoziiertes Teilprojekt "CRAU - Compositional System Level Reliability Analysis in the Presence of Uncertainties" Die anhaltende Mikrominiaturisierung heutiger elektronischer Schaltungen
und im Speziellen der Transistoren ist der Hauptgrund für deren
zunehmende inhärente Unzuverlässigkeit. Die Vision dieses Projekts ist
die Erforschung und Entwicklung einer Methodik zur
Zuverlässigkeitsanalyse auf Systemebene und zum Entwurf zuverlässiger
elektronischer Systeme, die aus unzuverlässigen Komponenten bestehen.
Das Projekt fokussiert sich auf die Entwicklung einer Methodik zur
kompositionellen Zuverlässigkeitsanalyse, die (a) verschiedene
Zuverlässigkeitsanalyseverfahren über die Grenzen verschiedener
Abstraktionsebenen hinweg kombiniert und (b) Unsicherheiten im Entwurf,
in der Fertigung und in der Umgebung eines Systems berücksichtigt.
Erste Ergebnisse zeigen, dass die Flexibilität und Anwendbarkeit der Methodik über die Grenzen von Abstraktionsebenen hinweg entscheidend ist, um die verschiedenen positiven wie negativen Effekte von
zuverlässigkeitssteigernden Maßnahmen effizient zu analysieren. Dadurch wird eine systemweite Kosten-Nutzen-Analyse ermöglicht.
Gefördert durch die Deutsche Forschungsgemeinschaft (DFG) als Projekt TE 163/16-1 und weiter gefördert durch die Deutsche Forschungsgemeinschaft (DFG) als GL 819/1-2 und TE 163/16-2. | Projektleitung:
Prof. Dr.-Ing. Michael Glaß, Prof. Dr.-Ing. Jürgen Teich
Beteiligte:
Dr.-Ing. Hananeh Aliee, Dr.-Ing. Faramarz Khosravi
Stichwörter:
reliability cross-level analysis compositional embedded systems
Laufzeit: 1.12.2010 - 30.4.2017
Förderer:
Deutsche Forschungsgemeinschaft
Kontakt:
Glaß, Michael
E-Mail: michael.glass@fau.de
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