| Robustes, Bildgebendes, Absolut Messendes Interferometer als 3D-Sensor mit großer Höhenauflösung und Messdistanz und hoherDatenrate Es wurde ein Mehrwellenlängen-Interferometer entwickelt, mit dem die Topographie technischer Objekte aus einer Entfernung von ca. einem Meter dreidimensional vermessen werden kann. Gegenüber einem Triangulations-Sensor bietet dieser Sensor den Vorteil einer schlanken Messgeometrie und damit die
Möglichkeit zur abschattungsfreien 3D-Erfassung. Durch eine
neuartige Diversity-Technik konnte das "Speckle-Problem", das bei der interferometrischen Vermessung rauher Oberflächen entsteht, behoben werden. So konnten Objekte
aus unterschiedlichen Materialien, wie zum Beispiel Retrofolie, Metall, Papier, Holz oder Straßenasphalt vermessen werden. Dabei wurde der Messstrahl mit einer Ablenkgeschwindigkeit von bis zu 2,1m/s in einem Meter Entfernung über das Objekt geführt. | Projektleitung:
Prof. Dr. Gerd Leuchs, Dr. Harald Telle
Beteiligte:
Dipl.-Phys. Johannes Trautner, Dipl.-Phys. Karl Walcher, Dipl.-Phys. Regis Danielian, Dipl.-Phys. Manfred Krauß, Dr. Bernd Bodermann
Laufzeit: 1.7.1998 - 30.6.2002
Förderer:
Deutsche Forschungsgemeinschaft
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| Trautner, Johannes ; Leuchs, Gerd: Interferometrische Einrichtung zur Messung der Lage eines reflektierenden Objektes. Schutzrecht DE 100 38 346 Patentschrift (1.1.2000) | | Trautner, Johannes ; Walcher, Karl ; Leuchs, Gerd ; Bodermann, Bernd ; Telle, Harald: Mehrwellenlängen-Interferometrie zur absoluten Abstandsmessung und 3D-Bildgebung. In: Technisches Messen 67 (2000), S. 406-409 | | Trautner, Johannes ; Walcher, Karl ; Krauß, Manfred ; Leuchs, Gerd ; Bodermann, B. ; Telle, H.R. : Interferometrischer 3D-Sensor zur berührungslosen Vermessung technischer Oberflächen. In: VDI-Berichte 1572 (2000), S. 159-164 | | Trautner, Johannes ; Leuchs, Gerd: Diversity Detection of Speckles for Double-Wavelength Interferometry on Rough Surfaces. In: Applied Optics 41 (2002), Nr. 29, S. 6200-6210 |
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