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Departments >> Faculty of Sciences >> Department of Physics >> Institute of Optics, Information and Photonics >> Chair of Experimental Physics >>
Robustes, Bildgebendes, Absolut Messendes Interferometer als 3D-Sensor mit großer Höhenauflösung und Messdistanz und hoherDatenrate

Es wurde ein Mehrwellenlängen-Interferometer entwickelt, mit dem die Topographie technischer Objekte aus einer Entfernung von ca. einem Meter dreidimensional vermessen werden kann. Gegenüber einem Triangulations-Sensor bietet dieser Sensor den Vorteil einer schlanken Messgeometrie und damit die Möglichkeit zur abschattungsfreien 3D-Erfassung. Durch eine neuartige Diversity-Technik konnte das "Speckle-Problem", das bei der interferometrischen Vermessung rauher Oberflächen entsteht, behoben werden. So konnten Objekte aus unterschiedlichen Materialien, wie zum Beispiel Retrofolie, Metall, Papier, Holz oder Straßenasphalt vermessen werden. Dabei wurde der Messstrahl mit einer Ablenkgeschwindigkeit von bis zu 2,1m/s in einem Meter Entfernung über das Objekt geführt.
Project manager:
Prof. Dr. Gerd Leuchs, Dr. Harald Telle

Project participants:
Dipl.-Phys. Johannes Trautner, Dipl.-Phys. Karl Walcher, Dipl.-Phys. Regis Danielian, Dipl.-Phys. Manfred Krauß, Dr. Bernd Bodermann

Duration: 1.7.1998 - 30.6.2002

Sponsored by:
Deutsche Forschungsgemeinschaft

Publications
Trautner, Johannes ; Leuchs, Gerd: Interferometrische Einrichtung zur Messung der Lage eines reflektierenden Objektes. Schutzrecht DE 100 38 346 examined granted patent (1.1.2000)
Trautner, Johannes ; Walcher, Karl ; Leuchs, Gerd ; Bodermann, Bernd ; Telle, Harald: Mehrwellenlängen-Interferometrie zur absoluten Abstandsmessung und 3D-Bildgebung. In: Technisches Messen 67 (2000), pp 406-409
Trautner, Johannes ; Walcher, Karl ; Krauß, Manfred ; Leuchs, Gerd ; Bodermann, B. ; Telle, H.R. : Interferometrischer 3D-Sensor zur berührungslosen Vermessung technischer Oberflächen. In: VDI-Berichte 1572 (2000), pp 159-164
Trautner, Johannes ; Leuchs, Gerd: Diversity Detection of Speckles for Double-Wavelength Interferometry on Rough Surfaces. In: Applied Optics 41 (2002), No. 29, pp 6200-6210
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