| Phasenmessende Deflektometrie zur schnellen, hochgenauen und vollflächigen Vermessung spiegelnder Oberflächen Ziel des Projektes ist die Erforschung und Entwicklung eines neuen optischen Verfahrens (phasenmessende Deflektometrie). Es kann optisch spiegelnde, auch „krumme“ Freiformobjekte wie sie bei vielen industriellen Prozessen entstehen, präzise, schnell und vollflächig prüfen. Solche Objekte sind zum Beispiel Brillengläser (insbesondere kundenspezifische Asphären), lackierte Autokarosserien, Solarzellen oder Festplatten.
Zunächst soll speziell für Brillengläser die Eignung des Verfahrens untersucht und ein Demonstrator aufgebaut werden.
| Projektleitung:
apl. Prof. Dr. Gerd Häusler
Beteiligte:
Dr. Markus C. Seraphim, Dipl.-Inf. Jürgen Kaminski
Laufzeit: 1.1.2002 - 29.2.2004
Förderer:
Bayerische Forschungsstiftung
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