| Aufbau und Charakterisierung von Guinier Diffraktometern mit Szintillationszähler und Bildplattendetektor Am Lehrstuhl für Kristallographie und Strukturphysik wurden im Rahmen dieses Projektes zwei Guinier Pulverdiffraktometer aufgebaut und ihre Geräteeigenschaften charakterisiert. Beide Diffraktometer stehen jetzt für den routinemäßigen Einsatz in Forschung und Lehre zur Verfügung. Die Diffraktometer arbeiten mit Kupfer Ka1Strahlung. Detektorseitig sind sie mit einer Bildplatte für Beugungsaufnahmen mit kurzen Belichtungszeiten, und einem Szintillationszähler ausgerüstet. Das letztgenannte Gerät besitzt bis zu kleinsten Beugungswinkeln ein gutes Signal/Untergrundverhältnis, so dass Untersuchungen von Materialien mit großen Gitterperioden möglich werden. Eine kommerziell erhältliche Probenheizung wurde an den Diffraktometern getestet. Beide Geräte werden z.Zt vornehmlich zur Charakterisierung oxidischer Phasen wie Ta-Oxiden und Perowskiten eingesetzt. | Projektleitung:
Prof. Dr. Rainer Hock
Beteiligte:
Dipl.-Phys. Markus Baier
Stichwörter:
Guinier Diffraktometer; Probenheizung; instrumentelle Charakterisierung
Laufzeit: 1.2.2001 - 31.1.2002
Kontakt:
Hock, Rainer
Telefon 25188, Fax 25182, E-Mail: rainer.hock@fau.de
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