Advanced Processes (AP)
|
VORL; 2 SWS; Schein; ECTS: 5,0; Mo, 14:15 - 15:45, Raum n.V.
|
PF MAP-S-AP 2
|
Freund, H.
Kaspereit, M.
Freitag, D.
|
|
|
UE; 1 SWS; Schein; Mi, 10:15 - 11:45, KS II
|
PF MAP-S-AP 2
|
Kaiser, M.
Freitag, D.
Kaspereit, M.
Freund, H.
|
|
|
VORL; Online; 1 SWS; ECTS: 1,5; Di, 9:00 - 9:45; via Zoom, details available on StudOn, please register: https://www.studon.fau.de/crs3784892.html
|
PF MAP-S-AP 2
|
Franken, T.
|
|
|
VORL; Online; 1 SWS; ben. Schein; ECTS: 1,5; Im SS21 findet nicht statt. Stadt dieser VL ist "Advanced Semiconductor Technologies - Processing (including Lab Work Organic Electronics Processing) (AST-Processing)" zu hören. findet aus aktuellem Anlass mittels Zoom-Live-Übertragung statt. Anmeldung im StudOn ist erforderlich. Zugangsdaten zu ZOOM werden über StudOn mitgeteilt.; Mi, 12:15 - 13:45, 3.71; Vorbesprechung: 12.4.2021, 11:30 - 12:00 Uhr
|
PF MAP-S-AP 2
|
Egelhaaf, H.-J.
|
|
|
VORL; Online; 1 SWS; ben. Schein; ECTS: 1; Wird in SS21 nicht gehalten. Stadt dieser VL ist "Advanced Semiconductor Technologies - Processing (including Lab Work Organic Electronics Processing) (AST-Processing)" zu hören. Vertiefung zur VL Thin films: processing, characterization and functionalities, findet über ZOOM statt.; Mi, 12:15 - 13:45; Vorbesprechung: 12.4.2021, 11:30 - 12:00 Uhr
|
WPF MAP-S-AP ab 2
|
Egelhaaf, H.-J.
|
|
|