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Ausgewählte Kapitel der Silicium-Halbleitertechnologie (SemAKSH)2.5 ECTS (englische Bezeichnung: Seminar on Selected Topics of Silicon Semiconducter Technology)
Modulverantwortliche/r: Tobias Dirnecker Lehrende:
Tobias Dirnecker
Studienfächer/Prüfungsordnungsmodule:
Einfrieren der UnivIS-Modul-Beschreibung: 2.3.2019
Hauptseminar Ausgewählte Kapitel der Silicium-Halbleitertechnologie (23437)
Hauptseminare Mikroelektronik (30323)
Hauptseminare Mikroelektronik (34703)
Hauptseminar und Laborpraktikum Mikroelektronik (81095)
Start semester: |
SS 2019 | Duration: |
1 semester | Cycle: |
halbjährlich (WS+SS) |
Präsenzzeit: |
30 Std. | Eigenstudium: |
45 Std. | Language: |
Deutsch und Englisch |
Lectures:
Empfohlene Voraussetzungen:
Vorausgesetzt werden Kenntnisse aus den Vorlesungen Technologie Integrierter Schaltungen und/oder Prozessintegration und Bauelementearchitekturen.
Inhalt:
Inhalt des Seminars ist die selbstständige Erarbeitung und schlüssige Darstellung eines Themas aus dem Gebiet der Silicium-Halbleitertechnologie. Als Grundlage dienen dabei Literaturvorgaben der Betreuer, die durch eigene Recherchen ergänzt werden sollen. Die Teilnehmer referieren im Rahmen eines 30-minütigen Vortrags über ihre Ergebnisse. Die Einzelthemen werden in jedem Semester neu gewählt.
Lernziele und Kompetenzen:
Die Studierenden
- Fachkompetenz
- Evaluieren (Beurteilen)
- sind in der Lage, ausgewählte Themen aus dem Themenfeld Halbleitertechnologie nach entsprechender Literaturrecherche eigenständig zu vertiefen, Sachverhalte einzuschätzen und in einem Vortrag zur präsentieren.
- Lern- bzw. Methodenkompetenz
- führen eine Literaturrecherche zu wissenschaftlichen Themen durch
können wissenschaftliche Inhlate übersichtlich darstellen
treffen durch Analyse der Materialsammlung eine geeignete, angemessene Stoffauswahl
- Selbstkompetenz
-
Literatur:
Verwendbarkeit des Moduls / Einpassung in den Musterstudienplan: Das Modul ist im Kontext der folgenden Studienfächer/Vertiefungsrichtungen verwendbar:
- Elektrotechnik, Elektronik und Informationstechnik (Master of Science)
(Po-Vers. 2015s | TechFak | Elektrotechnik, Elektronik und Informationstechnik (Master of Science) | Gesamtkonto | Studienrichtung Mikroelektronik | Hauptseminar und Laborpraktikum Mikroelektronik)
Studien-/Prüfungsleistungen:
Seminar Ausgewählte Kapitel der Silicium-Halbleitertechnologie (Prüfungsnummer: 78001)
zugeh. "mein campus"-Prüfung: | - 78001 Hauptseminar Ausgewählte Kapitel der Silicium-Halbleitertechnologie (Prüfung, Form: mehrteilige Prüfung, Zehntelnoten, Dauer: -, 2.5 ECTS, Prüfung).
- 17741 Hauptseminar Mikroelektronik (Prüfung, Form: Seminarleistung, Zehntelnoten, Dauer: -, 2.5 ECTS, Platzhalter).
- 17741 Hauptseminar Mikroelektronik (Elektrotechnik, Elektronik und Informationstechnik (Master of Science) 2015s, Prüfung, Form: Seminarleistung, Zehntelnoten, Dauer: -, 2.5 ECTS, Platzhalter).
- 17741 Hauptseminar Mikroelektronik (Elektrotechnik, Elektronik und Informationstechnik (Master of Science) 2015s, Prüfung, Form: Seminarleistung, Zehntelnoten, Dauer: -, 2.5 ECTS, Platzhalter).
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- Prüfungsleistung, Seminarleistung, benotet, 2.5 ECTS
- Anteil an der Berechnung der Modulnote: 100.0 %
- weitere Erläuterungen:
Ausarbeitung + Vortrag
- Erstablegung: SS 2019, 1. Wdh.: WS 2019/2020, 2. Wdh.: keine Wiederholung
1. Prüfer: | Tobias Dirnecker (100278) |
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