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Chair of Electron Devices (Prof. Dr. Frey)
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Laboratory on Microelectronics [PrakMikro] -
- Lecturers:
- Tobias Stolzke, Tobias Dirnecker
- Details:
- Praktikum, 3 cred.h, certificate, ECTS: 2,5, nur Fachstudium, Nur EEI-BA Mikroelektronik; Der Vorbesprechungstermin ist eine Pflichtveranstaltung und muss wahrgenommen werden.
- Fields of study:
- WPF EEI-BA-MIK 5-6
- Prerequisites / Organisational information:
- Nur für Studenten im Bachelorstudium EEI mit Studienrichtung Mikroelektronik belegbar.
| | | tbd. | | | |
Stolzke, T. | |
Versuchstermine werden in der Vorbesprechung festgelegt |
| | tbd. | | | |
Beck, Ch. | |
Versuchstermine werden in der Vorbesprechung festgelegt |
| | tbd. | | | |
Deeg, F. | |
Versuchstermine werden in der Vorbesprechung festgelegt |
| | tbd. | | | |
Frickel, J. | |
Versuchstermine werden in der Vorbesprechung festgelegt |
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Reinraum- und Halbleiterpraktikum [RRPrak] -
- Lecturers:
- Julius Marhenke, Tobias Dirnecker
- Details:
- Praktikum, 6 cred.h, ECTS: 5, nur Fachstudium, Teilnahme an der Vorbesprechung (über Zoom; Uhrzeit wird noch bekannt gegeben) ist verpflichtend! Anmeldung bei StudOn notwendig. Praktikumszeiten donnerstags werden nach Gruppeneinteilung bekanntgegeben.
- Dates:
- Preliminary meeting: Thursday, 5.11.2020
- Fields of study:
- PF NT-BA 5
| | | Thu | 8:00 - 11:00, 13:00 - 16:00 | 0.111 | |
Marhenke, J. Assistenten | |
| | Thu | 8:00 - 11:00, 13:00 - 16:00 | BR 1.161 | |
Dirnecker, T. Assistenten | |
| | Thu Thu | 9:00 - 13:00 14:00 - 18:00 | BR 1.161, 0.111 BR 1.161 | |
Assistenten | |
Findet u.a. im Reinraum des LEB statt. Gruppeneinteilung am Semesterbeginn. |
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Reliability and Failure Analysis of Integrated Circuits -
- Lecturer:
- Peter Pichler
- Details:
- Vorlesung, 2 cred.h, graded certificate, ECTS: 4, Vorlesung findet digital statt. Anmeldung zur Vorlesung bitte per Email an den Dozenten: peter.pichler@fau.de
- Dates:
- Mon, 10:15 - 11:45, room tbd
Vorlesung findet wöchentlich (Mo 10:15 - 11:45) digital statt.
- Fields of study:
- WPF EEI-BA-MIK 5-6
WPF EEI-MA-MIK 1-4
WPF BPT-MA-E 1-3
WF EEI-BA ab 5
WF EEI-MA ab 1
- Keywords:
- Zuverlässigkeit, Fehleranalyse, Integrierte Schaltungen, Ausfallmechanismen, Messverfahren zur Qualitätssicherung
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