|
|
course list >> Technische Fakultät (Tech) >> International Production Engineering and Management (IP) >> Bachelorstudiengang >>
|
International Elective Modules, Hochschulpraktikum
| |
Finite Elements Practical [FE PR] -
- Lecturers:
- Stefan Riehl, Vera Luchscheider
- Details:
- Praktikum, 4 cred.h, ECTS: 2,5, nur Fachstudium
- Dates:
- Tue, 13:00 - 18:00, CIP-Pool MB Konrad-Zuse-Str. 3
from 23.4.2013 to 25.6.2013
Preliminary meeting: Monday, 15.4.2013, 8:30 - 9:15 Uhr, H15
- Fields of study:
- WPF IP-BA 4
- Prerequisites / Organisational information:
-
|
| |
Praktikum Produktionstechnologien für die Leistungselektronik [PEPLab] -
- Lecturers:
- Uwe Scheuermann, Assistenten
- Details:
- Praktikum, certificate, ECTS: 2,5
- Dates:
- Termin für die Vorbesprechung: siehe StudON. Die Einzelversuche finden in den in den Labors am Lehrstuhl FAPS statt. Außerdem wird eine Exkursion zu SEMIKRON angeboten.
- Fields of study:
- WPF IP-BA 4-6
- Prerequisites / Organisational information:
- Weitere Informationen bei:
Dipl.-Wirtsch.-Ing. Martin Müller
- Contents:
- Die Leistungselektronik gewinnt zunehmend an Bedeutung und wird derzeit vor allem durch Anwendungen mit Bezug zu regenerativen Energien und Elektromobilität getrieben. In fünf Versuchen werden unterschiedliche Aspekte der Auslegung und der Produktion leistungselektronischer Baugruppen behandelt.
Im ersten Versuch wird die optimale Platzierung von Leistungsbauelementen auf dem keramischen Substrat hinsichtlich elektrischer und thermischer Eigenschaften analysiert. Mit Hilfe von Softwaretools werden die (gegensätzlichen) Anforderungen und Wechselwirkungen verdeutlicht.
Der zweite Versuch behandelt das Dickdrahtbonden zur elektrischen Kontaktierung zwischen Halbleitbauelement und Substrat. Es gilt in iterativen Schritten die optimalen Prozessparameter zu bestimmen, die Anlage für Serien-Bonds vorzubereiten und die Testbaugruppen elektrisch/thermisch zu charakterisieren.
Die Löttechnologie ist ein weit verbreitetes Verfahren zur elektrischen und thermischen Ankontaktierung. In Versuch drei wird das Verfahren für die Kontaktierung Substrat/Grundplatte angewendet und qualifiziert (Röntgen/Ultraschall).
Neben den klassischen Verfahren der AVT wird im Praktikum in Versuch vier eine exemplarische Baugruppe auf Basis eines neuartigen Moduls mit Druckfederkontakten bis hin zur Gehäusemontage und dem Verguss hergestellt. Die Funktionalität wird an einem Demonstrations-Wechselrichter verifiziert.
Versuch fünf beschäftigt sich mit der thermischen Charakteri-sierung von leistungselektronischen Baugruppen, da dem thermischen Management eine enorme Bedeutung bei der Auslegung von Leistungselektronik zukommt. Es werden vergleichende Temperaturmessungen am Prüfstand unter anwendungsnahen Belastungsfällen durchgeführt. Dabei werden unterschiedlichen Messverfahren (Thermographie, Messung über Temperatursensoren, VCE(T)-Methode) eingesetzt und, entsprechend den gestellten Anforderungen und Belastungsarten, geeignete Messmethoden abgeleitet.
|
| |
Automated Manufacturing Systems [SEM FAPS] -
- Lecturers:
- Assistenten, Andreas Reinhardt, Franziska Schäfer
- Details:
- Seminar, 2 cred.h, graded certificate, ECTS: 2,5
- Dates:
- Wed, 14:00 - 17:00, SR FAPS 0.035
Die Vorbesprechung findet am Mittwoch den 24.04. um 14:00 Uhr im Seminarraum „Stator“ am Lehrstuhl FAPS, Fürther Straße 246b in Nürnberg statt. Dort werden die Termine für die einzelnen Vorträge im Juni/Juli bekannt gegeben.
- Fields of study:
- WPF IP-BA 6
- Prerequisites / Organisational information:
- Prüfung: in Form eines Vortrags, 20 Minuten + Diskussion
- Contents:
- Der Zweck des Seminars ist die selbstständige Ausarbeitung eines wissenschaftlichen Referats zu einem vorgegebenen Thema aus dem oben genannten Bereich zu erlernen. Zudem sollen Erfahrungen im möglichst freien Vortrag eines bestimmten, in kurzer Zeit angeeigneten, Wissens erworben werden, wobei der Vortragende im Anschluss an den Vortrag (20 Minuten) in der Diskussionsrunde Rede und Antwort stehen muss (5-10 Minuten). Die schriftliche Ausarbeitung zu dem Vortrag ist auf zwei Seiten beschränkt, wobei auf wissenschaftliche Korrektheit und angemessene Form großer Wert gelegt wird. Die Bewertungskriterien des Vortrags berücksichtigen neben der Einhaltung der Zeit auch den Stil (freie Rede, Formulierung, Auftreten, Qualität des unterstützenden Materials) und den Inhalt. Bei der Zusammenarbeit mit dem Betreuer wird auf selbstständiges Arbeiten sowie auf eine effiziente Kooperation geachtet.
|
| |
International Supply Chain Management [ISCM] -
- Lecturers:
- Jochen Bönig, Johannes Götz
- Details:
- Vorlesung, 4 cred.h, ECTS: 5
- Dates:
- Kurs an der Virtuellen Hochschule Bayern (vhb). Zur Teilnahme ist eine Anmeldung und Registrierung bei der vhb erforderlich!
- Fields of study:
- WPF IP-BA 3-5
- Prerequisites / Organisational information:
- Ansprechpartner für Vorlesung und Anmeldung: Johannes Götz
Zur Kursteilnahme ist eine Anmeldung bei der virtuellen Hoschule Bayern notwendig.
Kurslink
- Contents:
- Ziel der virtuellen Vorlesung ist ein Überblick über die Aufgaben eines Supply Chain Managers auf dem internationalen Parkett:
Der Kurs gliedert sich in folgende Lerneinheiten:
Integrated logistics, procurement, materials management and production Material inventory and material requirements in the enterprise Analysis of cost reduction in materials management Management of procurement and purchasing Procurement strategies Warehouse management, picking systems, in-plant material handling, packaging Distribution logistics, global tracking and tracing Modes of transport in international logistics Disposal logistics Logistics controlling Global logistic structures and value chains IT systems in supply chain management Sustainable global structures of production and logistics Summary
Zur praktischen Vertiefung werden im Rahmen des Kurses 3 Case Studies durchgeführt.
|
| |
Introduction to the Finite Element Method [IFEM (V/Ü)] -
- Lecturer:
- Duc-Khoi Vu
- Details:
- Vorlesung mit Übung, 4 cred.h, ECTS: 5
- Dates:
- Mon, Thu, 16:15 - 17:45, SR TM
Tue, 16:15 - 17:45, H1 Egerlandstr.3
- Fields of study:
- WPF IP-BA 5-6
- Prerequisites / Organisational information:
- Grundkenntnisse in Mathematik
- Contents:
- Einführung in die Finite Elemente Methode
Anwendung der Finiten Elemente Methode bei der Modellierung von Stabwerken Anwendung der Finiten Elemente Methode bei der Modellierung von Balkenstrukturen Finite Elemente Methode bei Wärmeleitung Finite Elemente Methode in der Elastizität Finite Elemente Methode in der Elektrostatik
|
| |
Optical Manufacturing Metrology [OMM] -
- Lecturer:
- Tino Hausotte
- Details:
- Vorlesung mit Übung
- Dates:
- Mon, 8:15 - 9:45, SR FAPS 0.035
starting 22.4.2013
- Fields of study:
- WPF IP-BA 5-6
- Prerequisites / Organisational information:
-
- Contents:
- Introduction: manufacturing metrology and main task: fields of industrial metrology, main tasks (control the conformity, readjusting/correcting of process parameters), objectives and aims (ensure the function, interchangeability, correction parameters for manufacturing processes) • measuring, testing, monitoring • equipment in manufacturing metrology • optics (theories: quantum, wave, ray), effects, properties and principles of measurement
Geometrical tolerances: basic (GPS) Framework, duality principle and operations (partition, extraction, filtration, association, collection, construction) • definitions of geometric elements, standard geometrical elements • geometrical parameters of workpieces, classification system for form deviations • linear and angular dimensions (terms and definitions) • ISO-system for tolerances of linear sizes (terms and definitions, types of fits, code system) • symbols and drawing indication of geometrical tolerances • definition of form tolerances • datums • orientation, location and run-out tolerances • several essential specifications for GPS (CT, E, M, F) • surface texture parameters (determination, types) Measurement and Evaluation Strategies: determination of measurement strategy, probing strategy and evaluation strategy (Minimum and recommended number of probing points, Nyquist‘s Criterion, probing of feature segments, evaluation criteria) • influences on the uncertainty of measurement results (uncertainty of measurement, Golden Rule) Optical Principles and Components: Theories of optics • Geometrical optics (reflection, refraction, fibre optic components, ray tracing, lenses, aberration, beam splitter, mirrors, prisms, reflectors) • Wave optics (wave equations, polarisation, polarisers, beam-splitting polarisers, coherence and interference, diffraction ) • Quantum optics (spontaneous emission, light-emitting-diodes and detectors, stimulated emission, laser, photoelectric effect and detectors) Tolerances of optical Components: reference wavelengths • testing areas and volumes • dimensioning of lenses and of edges, dimension and protective chamfers • specification of angle • material specification (stress birefringence, bubbles and other inclusions, inhomogeneities and striae) • surface treatment and coating Scales and Encoders: Abbe comparator principal (traceability, 1th order and 2nd order error, Abbe comparator) • linear encoder (principle, Moiré-effect and reticle, detection of motion direction) • output signals and demodulation of encoder signals (counting and resolution enhancement) • reading head of encoders (imaging and interferential measuring principle, transmitted and reflected light) • reference marks • absolute encoders (U- and V-scanning and Gray code) Interferometer for length measurements: interference and interferometer • Michelson-Interferometer • superposition of waves, Basics of the interference, Interference of light waves • homodyne and heterodyne principal • interference at a Michelson-Interferometer • interference of a homodyne interferometer • demodulation at a homodyne interferometer (dead path) • demodulation at a heterodyne Interferometer • refractive index of air (dependency, measurement) • coherence (spatial and temporal, interferograms with two monochromatic light, white light) • He-Ne-Laser (modes and mode distances, stability) • interferometer setups and adjustment Interferometer for surface measurements: interference of equal inclination • interference of equal thickness • multiple beam interference • demodulation with phase shifting (principle, generation of phase shift, unwrapping) • application of Fizeau Interferometry • interference microscopes (setups, evaluation) Optical Surface Measurements: microscope designs, measuring microscope • numerical aperture and resolution • focus variation • confocal microscope (principle, setups, laser-scanning microscope) • chromatic white-light sensor • laser autofocus method (characteristic curve, principles with astigmatic lens and Foucault knife) • summary: optical probing
- Recommended literature:
- Yoshizawa, T.: Handbook of optical Metrology: Principles and Applications. Boca Raton, CRC Press, 2009
Gåsvik, K. J.: Optical metrology. New York, Wiley, 2002 Benteley, J. P.: Principles of Measurement Systems. Essex, Prentice Hall, 1995 International Vocabulary of Metrology – Basic and General Concepts and Associated Terms, VIM, 3rd edition, JCGM 200:2008
|
|
|
|