International Elective Modules, Hochschulpraktikum
Fertigungstechnisches Praktikum I [FTP I] -
- Dozentinnen/Dozenten:
- Stefan Härter, Assistenten
- Angaben:
- Praktikum, 2 SWS, Schein, ECTS: 2,5, nur Fachstudium, Anmeldung: über StudOn
- Termine:
- Termine und Ort: Bekanntgabe auf StudOn
- Studienrichtungen / Studienfächer:
- WPF IP-BA 4-6
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Fertigungstechnisches Praktikum I, Versuch 4 [PrMB] -
- Dozent/in:
- Gregor Endler
- Angaben:
- Praktikum, Teilnehmer müssen sich am Aushang FAPS, Egerlandstr. 7 eintragen.
- Termine:
- Di, 8:00 - 12:00, 12:30 - 16:30, 01.152
- Studienrichtungen / Studienfächer:
- WPF IP-BA 4
- Voraussetzungen / Organisatorisches:
- Inhalt: http://www6.informatik.uni-erlangen.de/DE/teaching/curriculum/prmb/
StudOn:
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Finite-Elemente-Praktikum [FE PR] -
- Dozentinnen/Dozenten:
- Stefan Riehl, Vera Luchscheider
- Angaben:
- Praktikum, 4 SWS, ECTS: 2,5, nur Fachstudium
- Termine:
- Di, 13:00 - 18:00, CIP-Pool MB Konrad-Zuse-Str. 3
vom 23.4.2013 bis zum 25.6.2013
Vorbesprechung: Montag, 15.4.2013, 8:30 - 9:15 Uhr, H15
- Studienrichtungen / Studienfächer:
- WPF IP-BA 4
- Voraussetzungen / Organisatorisches:
-
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Lasertechnisches Praktikum [LTPrak] -
- Dozent/in:
- Ulf Quentin
- Angaben:
- Praktikum, Schein, Anmeldung über StudOn.
- Termine:
- Der vorläufige Terminplan findet sich im Studon
- Studienrichtungen / Studienfächer:
- WPF IP-BA 4-6
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Praktikum Mikroproduktionstechnologie [PMPT] -
- Dozent/in:
- Marion Merklein
- Angaben:
- Praktikum, 2 SWS
- Termine:
- Die Anmeldung zum Praktikum erfolgt über Studon. Weitere Informationen werden rechtzeitig auf der LFT-Homepage bekannt gegeben!
- Studienrichtungen / Studienfächer:
- WPF IP-BA 4-6
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Praktikum Produktionstechnologien für die Leistungselektronik [PEPLab] -
- Dozentinnen/Dozenten:
- Uwe Scheuermann, Assistenten
- Angaben:
- Praktikum, Schein, ECTS: 2,5
- Termine:
- Termin für die Vorbesprechung: siehe StudON. Die Einzelversuche finden in den in den Labors am Lehrstuhl FAPS statt. Außerdem wird eine Exkursion zu SEMIKRON angeboten.
- Studienrichtungen / Studienfächer:
- WPF IP-BA 4-6
- Voraussetzungen / Organisatorisches:
- Weitere Informationen bei:
Dipl.-Wirtsch.-Ing. Martin Müller (mailto:martin.mueller@faps.uni-erlangen.de)
- Inhalt:
- Die Leistungselektronik gewinnt zunehmend an Bedeutung und wird derzeit vor allem durch Anwendungen mit Bezug zu regenerativen Energien und Elektromobilität getrieben. In fünf Versuchen werden unterschiedliche Aspekte der Auslegung und der Produktion leistungselektronischer Baugruppen behandelt.
Im ersten Versuch wird die optimale Platzierung von Leistungsbauelementen auf dem keramischen Substrat hinsichtlich elektrischer und thermischer Eigenschaften analysiert. Mit Hilfe von Softwaretools werden die (gegensätzlichen) Anforderungen und Wechselwirkungen verdeutlicht.
Der zweite Versuch behandelt das Dickdrahtbonden zur elektrischen Kontaktierung zwischen Halbleitbauelement und Substrat. Es gilt in iterativen Schritten die optimalen Prozessparameter zu bestimmen, die Anlage für Serien-Bonds vorzubereiten und die Testbaugruppen elektrisch/thermisch zu charakterisieren.
Die Löttechnologie ist ein weit verbreitetes Verfahren zur elektrischen und thermischen Ankontaktierung. In Versuch drei wird das Verfahren für die Kontaktierung Substrat/Grundplatte angewendet und qualifiziert (Röntgen/Ultraschall).
Neben den klassischen Verfahren der AVT wird im Praktikum in Versuch vier eine exemplarische Baugruppe auf Basis eines neuartigen Moduls mit Druckfederkontakten bis hin zur Gehäusemontage und dem Verguss hergestellt. Die Funktionalität wird an einem Demonstrations-Wechselrichter verifiziert.
Versuch fünf beschäftigt sich mit der thermischen Charakteri-sierung von leistungselektronischen Baugruppen, da dem thermischen Management eine enorme Bedeutung bei der Auslegung von Leistungselektronik zukommt. Es werden vergleichende Temperaturmessungen am Prüfstand unter anwendungsnahen Belastungsfällen durchgeführt. Dabei werden unterschiedlichen Messverfahren (Thermographie, Messung über Temperatursensoren, VCE(T)-Methode) eingesetzt und, entsprechend den gestellten Anforderungen und Belastungsarten, geeignete Messmethoden abgeleitet.
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Praktikum energieeffiziente Produktion [EEP] -
- Dozent/in:
- Sven Kreitlein
- Angaben:
- Praktikum, ECTS: 2,5
- Termine:
- Der Termin für die Einführungsveranstaltung wird noch bekannt gegeben.
- Studienrichtungen / Studienfächer:
- WPF IP-BA 3-6
- Voraussetzungen / Organisatorisches:
- Das Praktikum findet in Abstimmung mit Partnern aus der Industrie statt.
Bitte richten Sie Ihre Anfrage an Herrn Sven Kreitlein
mailto:sven.kreitlein@faps.uni-erlangen.de
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Praktikum industrielle Entwicklung [PiE] -
- Dozent/in:
- Michael Pfeffer
- Angaben:
- Praktikum, Schein, ECTS: 5, maximale Teilnehmerzahl siehe StudOn
- Termine:
- die Termine, die Themenbeschreibungen und weitere Informationen sind auf StudOn http://www.studon.uni-erlangen.de/cat4772.html zu finden.
- Studienrichtungen / Studienfächer:
- WPF IP-BA 3-6
- Voraussetzungen / Organisatorisches:
- Voraussetzung:
Exzellente Grundlagen- und Orientierungsprüfungen (GOP). Weitere Informationen zur Anmeldung siehe StudOn: http://www.studon.uni-erlangen.de/cat4772.html
- Inhalt:
- Im Rahmen des Praktikums wird im Wettbewerb mit anderen Gruppen ein industrierelevantes Projekt im Team bearbeitet.
Das Praktikum beginnt mit einer Exkursion zum Industriepartner. Hier wird die Aufgabenstellung erläutert und es erfolgt eine Einteilung in Projektteams. Die zu lösende Aufgabe stellt z. B. die Entwicklung eines mechatronischen Systems von der Idee bis hin zur Gestaltung von Konstruktionszeichnungen und Stücklisten oder die technische und betriebswirtschaftliche Optimierung einer Fertigungslinie auf Basis selbst ermittelter Fertigungsdaten dar. Das Team benennt einen Teamleiter und bearbeitet die Aufgabenstellung eigenverantwortlich. In einem zweiwöchentlichen Meeting mit dem wissenschaftlichen Betreuer wird der Projektfortschritt diskutiert und angepasst. Im Rahmen einer Abschlussveranstaltung präsentieren die Teams den Industriepartnern ihr entwickeltes Konzept, wobei eine der Lösungen prämiert wird.
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Hauptseminar Fertigungsautomatisierung und Produktionssystematik [SEM FAPS] -
- Dozentinnen/Dozenten:
- Assistenten, Andreas Reinhardt, Franziska Schäfer
- Angaben:
- Seminar, 2 SWS, benoteter Schein, ECTS: 2,5
- Termine:
- Mi, 14:00 - 17:00, SR FAPS 0.035
Die Vorbesprechung findet am Mittwoch den 24.04. um 14:00 Uhr im Seminarraum „Stator“ am Lehrstuhl FAPS, Fürther Straße 246b in Nürnberg statt. Dort werden die Termine für die einzelnen Vorträge im Juni/Juli bekannt gegeben.
- Studienrichtungen / Studienfächer:
- WPF IP-BA 6
- Voraussetzungen / Organisatorisches:
- Prüfung: in Form eines Vortrags, 20 Minuten + Diskussion
- Inhalt:
- Der Zweck des Seminars ist die selbstständige Ausarbeitung eines wissenschaftlichen Referats zu einem vorgegebenen Thema aus dem oben genannten Bereich zu erlernen. Zudem sollen Erfahrungen im möglichst freien Vortrag eines bestimmten, in kurzer Zeit angeeigneten, Wissens erworben werden, wobei der Vortragende im Anschluss an den Vortrag (20 Minuten) in der Diskussionsrunde Rede und Antwort stehen muss (5-10 Minuten). Die schriftliche Ausarbeitung zu dem Vortrag ist auf zwei Seiten beschränkt, wobei auf wissenschaftliche Korrektheit und angemessene Form großer Wert gelegt wird. Die Bewertungskriterien des Vortrags berücksichtigen neben der Einhaltung der Zeit auch den Stil (freie Rede, Formulierung, Auftreten, Qualität des unterstützenden Materials) und den Inhalt. Bei der Zusammenarbeit mit dem Betreuer wird auf selbstständiges Arbeiten sowie auf eine effiziente Kooperation geachtet.
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Industrielles Management in der Praxis [Ind_Pra] -
- Dozentinnen/Dozenten:
- Stefan Landwehr, Markus Ernst
- Angaben:
- Seminar, 2 SWS, Bewerbung erforderlich - siehe StudOn
- Termine:
- Zeit/Ort n.V.
- Studienrichtungen / Studienfächer:
- WPF IP-BA 3-6
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Operations and Logistics I -
- Dozent/in:
- Lothar Czaja
- Angaben:
- Seminar, 2 SWS
- Termine:
- Do, 9:45 - 11:15, LG Hermann Gutmann-Hörsaal (H2/155 Plätze)
- Studienrichtungen / Studienfächer:
- WPF IP-BA 3-6
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Seminar Optical Manufacturing Metrology [SEM OMM] -
- Dozentinnen/Dozenten:
- Tino Hausotte, Assistenten
- Angaben:
- Seminar, 2 SWS
- Termine:
- Mo, 16:00 - 17:30, SR FAPS 0.035
Vorbesprechung in der 3. VE der Lehrveranstaltung OMM
ab 6.5.2013
- Studienrichtungen / Studienfächer:
- WPF IP-BA 5-6
- Voraussetzungen / Organisatorisches:
- Vortragssprache: Englisch
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Innovation - Übung (I&E I) -
- Dozent/in:
- Nina Feller
- Angaben:
- Übung
- Termine:
- Mi, 16:45 - 18:15, LG easyCredit-Hörsaal (H5/384 Plätze)
- Studienrichtungen / Studienfächer:
- WPF IP-BA 3-6
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Engineering of Solid State Lasers [ENGSSL] -
- Dozentinnen/Dozenten:
- Ilya Alexeev, Christoph Pflaum
- Angaben:
- Vorlesung, 2 SWS, benoteter Schein, ECTS: 2,5
- Termine:
- Fr, 8:30 - 10:00, SR PGS 00.029
- Studienrichtungen / Studienfächer:
- WPF IP-BA 3-6
- Inhalt:
- The targeted audience is master level students who are interested in expanding their theoretical and practical knowledge in the field of solid state laser engineering.
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Innovation - Vorlesung (I&E I) -
- Dozentinnen/Dozenten:
- Kai-Ingo Voigt, Nina Feller
- Angaben:
- Vorlesung, 2 SWS
- Termine:
- Do, 11:30 - 13:00, LG MÜLLER MEDIEN-Hörsaal (H6/240 Plätze)
Do
- Studienrichtungen / Studienfächer:
- WPF IP-BA 3-6
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International Supply Chain Management [ISCM] -
- Dozentinnen/Dozenten:
- Jochen Bönig, Johannes Götz
- Angaben:
- Vorlesung, 4 SWS, ECTS: 5
- Termine:
- Kurs an der Virtuellen Hochschule Bayern (vhb). Zur Teilnahme ist eine Anmeldung und Registrierung bei der vhb erforderlich!
- Studienrichtungen / Studienfächer:
- WPF IP-BA 3-5
- Voraussetzungen / Organisatorisches:
- Ansprechpartner für Vorlesung und Anmeldung: Johannes Götz (mailto:goetz@faps.uni-erlangen.de)
Zur Kursteilnahme ist eine Anmeldung bei der virtuellen Hoschule Bayern notwendig.
Kurslink (http://kurse.vhb.org/VHBPORTAL/kursprogramm/kursprogramm.jsp?kDetail=true&COURSEID=4589,56,737,1)
- Inhalt:
- Ziel der virtuellen Vorlesung ist ein Überblick über die Aufgaben eines Supply Chain Managers auf dem internationalen Parkett:
Der Kurs gliedert sich in folgende Lerneinheiten:
Integrated logistics, procurement, materials management and production
Material inventory and material requirements in the enterprise
Analysis of cost reduction in materials management
Management of procurement and purchasing
Procurement strategies
Warehouse management, picking systems, in-plant material handling, packaging
Distribution logistics, global tracking and tracing
Modes of transport in international logistics
Disposal logistics
Logistics controlling
Global logistic structures and value chains
IT systems in supply chain management
Sustainable global structures of production and logistics
Summary
Zur praktischen Vertiefung werden im Rahmen des Kurses 3 Case Studies durchgeführt.
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Introduction to the Finite Element Method [IFEM (V/Ü)] -
- Dozent/in:
- Duc-Khoi Vu
- Angaben:
- Vorlesung mit Übung, 4 SWS, ECTS: 5
- Termine:
- Mo, Do, 16:15 - 17:45, SR TM
Di, 16:15 - 17:45, H1 Egerlandstr.3
- Studienrichtungen / Studienfächer:
- WPF IP-BA 5-6
- Voraussetzungen / Organisatorisches:
- Grundkenntnisse in Mathematik
- Inhalt:
- Einführung in die Finite Elemente Methode
Anwendung der Finiten Elemente Methode bei der Modellierung von Stabwerken
Anwendung der Finiten Elemente Methode bei der Modellierung von Balkenstrukturen
Finite Elemente Methode bei Wärmeleitung
Finite Elemente Methode in der Elastizität
Finite Elemente Methode in der Elektrostatik
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Optical Manufacturing Metrology [OMM] -
- Dozent/in:
- Tino Hausotte
- Angaben:
- Vorlesung mit Übung
- Termine:
- Mo, 8:15 - 9:45, SR FAPS 0.035
ab 22.4.2013
- Studienrichtungen / Studienfächer:
- WPF IP-BA 5-6
- Voraussetzungen / Organisatorisches:
- The lecture will be presented in English
Lecture notes will be available for download on the learning platform StudOn (http://www.studon.uni-erlangen.de/cat1205.html) . The password will be disclosed in the first lecture.
Contact for organizational questions: Dipl.-Ing. Bogdan Galovskyi (http://www.fmt.tf.fau.de/wir-ueber-uns/mitarbeiter/gal.shtml)
- Inhalt:
- Introduction: manufacturing metrology and main task: fields of industrial metrology, main tasks (control the conformity, readjusting/correcting of process parameters), objectives and aims (ensure the function, interchangeability, correction parameters for manufacturing processes) • measuring, testing, monitoring • equipment in manufacturing metrology • optics (theories: quantum, wave, ray), effects, properties and principles of measurement
Geometrical tolerances: basic (GPS) Framework, duality principle and operations (partition, extraction, filtration, association, collection, construction) • definitions of geometric elements, standard geometrical elements • geometrical parameters of workpieces, classification system for form deviations • linear and angular dimensions (terms and definitions) • ISO-system for tolerances of linear sizes (terms and definitions, types of fits, code system) • symbols and drawing indication of geometrical tolerances • definition of form tolerances • datums • orientation, location and run-out tolerances • several essential specifications for GPS (CT, E, M, F) • surface texture parameters (determination, types)
Measurement and Evaluation Strategies: determination of measurement strategy, probing strategy and evaluation strategy (Minimum and recommended number of probing points, Nyquist‘s Criterion, probing of feature segments, evaluation criteria) • influences on the uncertainty of measurement results (uncertainty of measurement, Golden Rule)
Optical Principles and Components: Theories of optics • Geometrical optics (reflection, refraction, fibre optic components, ray tracing, lenses, aberration, beam splitter, mirrors, prisms, reflectors) • Wave optics (wave equations, polarisation, polarisers, beam-splitting polarisers, coherence and interference, diffraction ) • Quantum optics (spontaneous emission, light-emitting-diodes and detectors, stimulated emission, laser, photoelectric effect and detectors)
Tolerances of optical Components: reference wavelengths • testing areas and volumes • dimensioning of lenses and of edges, dimension and protective chamfers • specification of angle • material specification (stress birefringence, bubbles and other inclusions, inhomogeneities and striae) • surface treatment and coating
Scales and Encoders: Abbe comparator principal (traceability, 1th order and 2nd order error, Abbe comparator) • linear encoder (principle, Moiré-effect and reticle, detection of motion direction) • output signals and demodulation of encoder signals (counting and resolution enhancement) • reading head of encoders (imaging and interferential measuring principle, transmitted and reflected light) • reference marks • absolute encoders (U- and V-scanning and Gray code)
Interferometer for length measurements: interference and interferometer • Michelson-Interferometer • superposition of waves, Basics of the interference, Interference of light waves • homodyne and heterodyne principal • interference at a Michelson-Interferometer • interference of a homodyne interferometer • demodulation at a homodyne interferometer (dead path) • demodulation at a heterodyne Interferometer • refractive index of air (dependency, measurement) • coherence (spatial and temporal, interferograms with two monochromatic light, white light) • He-Ne-Laser (modes and mode distances, stability) • interferometer setups and adjustment
Interferometer for surface measurements: interference of equal inclination • interference of equal thickness • multiple beam interference • demodulation with phase shifting (principle, generation of phase shift, unwrapping) • application of Fizeau Interferometry • interference microscopes (setups, evaluation)
Optical Surface Measurements: microscope designs, measuring microscope • numerical aperture and resolution • focus variation • confocal microscope (principle, setups, laser-scanning microscope) • chromatic white-light sensor • laser autofocus method (characteristic curve, principles with astigmatic lens and Foucault knife) • summary: optical probing
- Empfohlene Literatur:
- Yoshizawa, T.: Handbook of optical Metrology: Principles and Applications. Boca Raton, CRC Press, 2009
Gåsvik, K. J.: Optical metrology. New York, Wiley, 2002
Benteley, J. P.: Principles of Measurement Systems. Essex, Prentice Hall, 1995
International Vocabulary of Metrology – Basic and General Concepts and Associated Terms, VIM, 3rd edition, JCGM 200:2008
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