Advanced Processes (AP)
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VORL; 2 SWS; Schein; ECTS: 5,0; Di, 14:15 - 15:45, EE 0.135
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PF MAP-S-AP 2
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Freund, H.
Kaspereit, M.
Freitag, D.
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UE; 1 SWS; Schein; Fr, 10:15 - 11:45, KS II
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PF MAP-S-AP 2
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Kaiser, M.
Freitag, D.
Kaspereit, M.
Freund, H.
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VORL; 1 SWS; ECTS: 1,5; starts 18 May, eventually in a digital format, if the situation does not allow face-to-face lectures; Mo, 10:15 - 11:45, 0.85; ab 18.5.2020
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PF MAP-S-AP 2
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Datsevich, L.
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VORL; 1 SWS; ben. Schein; ECTS: 1,5; findet aus aktuellem Anlass mittels Zoom-Live-Übertragung statt. Anmeldung im StudOn ist erforderlich. Zugangsdaten zu ZOOM werden über StudOn mitgeteilt.; Mo, 12:15 - 13:45, Raum n.V.; ab 27.4.2020; Vorbesprechung: 21.4.2020, 14:00 - 15:00 Uhr
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PF MAP-S-AP 2
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Egelhaaf, H.-J.
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VORL; 3 SWS; ECTS: 5; Do, 12:15 - 13:45, H6; Die Vorlesung wird online stattfinden, bis eine Präsenzlehre wieder möglich sein wird. Nähere Informationen zur Vorlesung werden über das entsprechende StudOn Portal vermittelt. Wir bitten Sie, sich daher möglichst bis zum 20.04.20 im StudOn Portal anzumelden.
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PF MAP-S-AP 2
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Thommes, M.
Freitag, D.
Müller, K.
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V/UE; 1 SWS; Do, 14:15 - 15:45, KS I
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PF MAP-S-AP 2
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Thommes, M.
Drescher, M.
Kriesten, M.
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VORL; 1 SWS; ben. Schein; ECTS: 1; Vertiefung zur VL Thin films: processing, characterization and functionalities, findet über ZOOM statt.; die VL findet montags, 12:15 - 13:45 statt; Vorbesprechung: 21.4.2020, 14:00 - 15:00 Uhr
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WPF MAP-S-AP ab 2
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Egelhaaf, H.-J.
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