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Advanced Semiconductor Technologies - Characterization and Advanced Defect Imaging of PV Modules and Systems (AST-DefIm-PR)
- Dozentinnen/Dozenten
- Prof. Dr. Christoph J. Brabec, Dr. Jens Hauch
- Angaben
- Praktikum
1 SWS, ECTS-Studium, ECTS-Credits: 1, Sprache Englisch
Zeit und Ort: n.V.
- Studienfächer / Studienrichtungen
- WF MWT-MA-WET ab 1 (ECTS-Credits: 1)
WF NT-MA-WET ab 1 (ECTS-Credits: 1)
WF ET-MA-MWT ab 1 (ECTS-Credits: 1)
- ECTS-Informationen:
- Credits: 1
- Zusätzliche Informationen
- Erwartete Teilnehmerzahl: 15, Maximale Teilnehmerzahl: 20
- Institution: Lehrstuhl für Werkstoffwissenschaften (Materialien der Elektronik und der Energietechnologie)
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