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Ausgewählte Kapitel der Silicium-Halbleitertechnologie (SemAKSH)2.5 ECTS
Modulverantwortliche/r: Lothar Frey Lehrende:
Lothar Frey
Startsemester: |
SS 2014 | Dauer: |
1 Semester | Turnus: |
halbjährlich (WS+SS) |
Präsenzzeit: |
30 Std. | Eigenstudium: |
45 Std. | Sprache: |
Deutsch |
Lehrveranstaltungen:
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Ausgewählte Kapitel der Silicium-Halbleitertechnologie
(Seminar, 2 SWS, Marina Scharin, Di, 14:15 - 15:45, 0.111; Einzeltermine am 25.6.2014, 2.7.2014, 9.7.2014, 10:15 - 11:45, 0.111; Zeit und Ort flexibel in Absprache mit den Studenten möglich; Vorbesprechung: 16.4.2014, 10:15 - 11:00 Uhr, 0.111)
Empfohlene Voraussetzungen:
Kenntnisse aus den Vorlesungen Technologie Integrierter Schaltungen und/oder Prozessintegration und Bauelementearchitektur wünschenswert und von Vorteil
Inhalt:
Inhalt des Seminars ist die selbstständige Erarbeitung und schlüssige Darstellung eines Themas aus dem Gebiet der Silicium-Halbleitertechnologie. Als Grundlage dienen dabei Literaturvorgaben der Betreuer, die durch eigene Recherchen ergänzt werden sollen. Die Teilnehmer referieren im Rahmen eines 30-minütigen Vortrags über ihre Ergebnisse. Die Einzelthemen werden in jedem Semester neu gewählt.
Lernziele und Kompetenzen:
Die Studierenden
- Fachkompetenz
- Evaluieren (Beurteilen)
- sind in der Lage, ausgewählte Themen aus dem Themenfeld Halbleitertechnologie nach entsprechender Literaturrecherche eigenständig zu vertiefen, Sachverhalte einzuschätzen und in einem Vortrag zur präsentieren.
- Lern- bzw. Methodenkompetenz
- führen eine Literaturrecherche zu wissenschaftlichen Themen durch
können wissenschaftliche Inhlate übersichtlich darstellen
treffen durch Analyse der Materialsammlung eine geeignete, angemessene Stoffauswahl
- Selbstkompetenz
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Literatur:
Organisatorisches:
Teilnahme an Vorbesprechung notwendig
Verwendbarkeit des Moduls / Einpassung in den Musterstudienplan: Das Modul ist im Kontext der folgenden Studienfächer/Vertiefungsrichtungen verwendbar:
- Elektrotechnik, Elektronik und Informationstechnik (Master of Science): 1-4. Semester
(Po-Vers. 2010 | Studienrichtung Mikroelektronik | Hauptseminare Mikroelektronik)
Studien-/Prüfungsleistungen:
Seminar Ausgewählte Kapitel der Silicium-Halbleitertechnologie (Prüfungsnummer: 78001)
- Prüfungsleistung, mehrteilige Prüfung, benotet
- Anteil an der Berechnung der Modulnote: 100.0 %
- weitere Erläuterungen:
Portfolioprüfung: Ausarbeitung + Vortrag
- Erstablegung: SS 2014, 1. Wdh.: WS 2014/2015, 2. Wdh.: keine Wiederholung
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