Ausgewählte Kapitel der Silicium-Halbleitertechnologie (SemAKSH)2.5 ECTS

Lectures:

• • Ausgewählte Kapitel der Silicium-Halbleitertechnologie
    (Seminar, 2 SWS, Marina Scharin, Tue, 14:15 - 15:45, 0.111; single appointment on 25.6.2014, single appointment on 2.7.2014, single appointment on 9.7.2014, 10:15 - 11:45, 0.111; Zeit und Ort flexibel in Absprache mit den Studenten möglich; Preliminary meeting: 16.4.2014, 10:15 - 11:00 Uhr, 0.111)

Empfohlene Voraussetzungen:

Kenntnisse aus den Vorlesungen Technologie Integrierter Schaltungen und/oder Prozessintegration und Bauelementearchitektur wünschenswert und von Vorteil

Inhalt:

Inhalt des Seminars ist die selbstständige Erarbeitung und schlüssige Darstellung eines Themas aus dem Gebiet der Silicium-Halbleitertechnologie. Als Grundlage dienen dabei Literaturvorgaben der Betreuer, die durch eigene Recherchen ergänzt werden sollen. Die Teilnehmer referieren im Rahmen eines 30-minütigen Vortrags über ihre Ergebnisse. Die Einzelthemen werden in jedem Semester neu gewählt.

Lernziele und Kompetenzen:

Die Studierenden

Fachkompetenz

Evaluieren (Beurteilen)

• sind in der Lage, ausgewählte Themen aus dem Themenfeld Halbleitertechnologie nach entsprechender Literaturrecherche eigenständig zu vertiefen, Sachverhalte einzuschätzen und in einem Vortrag zur präsentieren.

Lern- bzw. Methodenkompetenz

• führen eine Literaturrecherche zu wissenschaftlichen Themen durch

• können wissenschaftliche Inhlate übersichtlich darstellen

• treffen durch Analyse der Materialsammlung eine geeignete, angemessene Stoffauswahl
  

Selbstkompetenz

• können komplexe Sachverhalte anschaulich vor Publikum präsentieren

• sind in der Lage, technische Sachverhalte zu diskutieren

Literatur:

• Folien der Vorlesungen Technologie integrierter Schaltungen und Prozessintegration und Bauelementearchitekturen

• Ausgewählte Literatur der jeweiligen Seminarbetreuer
  

Organisatorisches:

Teilnahme an Vorbesprechung notwendig

Studien-/Prüfungsleistungen:

Seminar Ausgewählte Kapitel der Silicium-Halbleitertechnologie (Prüfungsnummer: 78001)

Prüfungsleistung, mehrteilige Prüfung, benotet

Anteil an der Berechnung der Modulnote: 100.0 %

weitere Erläuterungen:
Portfolioprüfung: Ausarbeitung + Vortrag

• 30-minütiger Vortrag

• Kurzzusammenfassung des Themas
  

Erstablegung: SS 2014, 1. Wdh.: WS 2014/2015, 2. Wdh.: keine Wiederholung

1. Prüfer:

Lothar Frey