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Departments >> Faculty of Engineering >> Department of Electrical-Electronic-Communication Engineering >>

Chair of Electron Devices (Prof. Dr. Frey)

 

Seminar on Selected Topics of Silicon Semiconductor Technology

SEM; 2 cred.h; ben. certificate; ECTS: 2,5; Anmeldung über StudOn; Kenntnisse aus "Technologie integrierter Schaltungen" und/oder "Prozessintegration" werden vorausgesetzt.; Tue, 14:15 - 15:45, 0.111; Die Teilnahme an der Vorbesprechung ist obligatorisch.; Preliminary meeting: 15.10.2019, 14:15 - 14:45 Uhr, 0.111
WPF ME-MA-SEM-EEI 3
WPF EEI-BA-MIK 5-6
WPF EEI-MA-MIK 1-4
WPF ME-BA-SEM 3-6
Marhenke, J.  
 

Einführung in die gedruckte Elektronik [GedrElektr]

VORL; 2 cred.h; certificate; ECTS: 2,5; Wed, 8:15 - 9:45, 0.111
  Jank, M.  
 

Excursion Semiconductor Processing

EX; 1 cred.h; certificate; Zeit und Raum n.V.
  Niebauer, M.  
 

Forschungspraktikum am LEB

SL; certificate; ECTS: 5; Nur für EEI Master; Weitere Informationen über StudOn unter: <link wird noch eingefügt>; Nach Vereinbarung; Nur für EEI Master; Weitere Informationen über StudOn unter: <Link wird noch eingefügt>
  Dirnecker, T.  
 

Semiconductor Devices

VORL; 2 cred.h; ECTS: 5; Physikalische Grundlagen der Halbleiterbauelemente; Thu, 14:15 - 15:45, H8; single appointment on 21.10.2019, 10:15 - 11:45, H9
WPF MT-MA-MEL ab 1
PF EEI-BA 3
PF BPT-BA-E 3
PF BPT-MA-M-E ab 1
PF WING-BA-IKS 5
WPF MT-BA-BV ab 5
Dirnecker, T.  
 

Tutorium Halbleiterbauelemente

TUT; 2 cred.h; Fri, 12:15 - 13:45, HH; Erster Termin: wird noch bekanntgegeben
PF EEI-BA 3
PF BPT-BA-E 3
PF WING-BA-IKS 5
WPF MT-BA-BV 5-6
Martens, Ch.  
 

Übungen zu Halbleiterbauelemente

UE; 2 cred.h; Mon, 10:15 - 11:45, H9, (außer Mon 14.10.2019); single appointment on 6.2.2020, 14:15 - 15:45, H8; starting 28.10.2019; Erster Termin der Übung am 28.10.2019
WPF MT-MA-MEL ab 1
PF EEI-BA 3
PF WING-BA-IKS 5
PF BPT-BA-E 3
PF BPT-MA-M-E ab 1
WPF MT-BA ab 5
Martens, Ch.  
 

Integrierte Schaltungen, Leistungsbauelemente und deren Anwendungen [SEM_POWERDEVICES]

SEM; 2 cred.h; ben. certificate; ECTS: 2,5; Für weitere Informationen wenden Sie sich bitte an Tobias Dirnecker (tobias.dirnecker@fau.de); Zeit und Raum n.V.
  Dirnecker, T.  
 

Colloquium on Semiconductor Technology and Metrology

KO; 1 cred.h; Mon, 17:15 - 18:00, Hans-Georg-Waeber-Saal; Siehe Vortragsliste auf der Homepage des LEB.
  Bauer, A.  
 

Semiconductor Power Devices

VORL; 2 cred.h; ben. certificate; ECTS: 5; Tue, 12:15 - 13:45, 0.111
WPF WING-MA-ET-EN 1-3
WPF WING-BA-ET-EN 5-6
WPF ME-BA-MG3 3-6
PF EEI-BA-LE 5-6
WPF EEI-BA-EuA 5-6
PF EEI-MA-LE 1-4
WPF EEI-MA-EuA 1-4
WF EEI-BA ab 4
WF EEI-MA ab 1
WPF ME-MA-MG3 1-3
WPF BPT-MA-E 1-3
Erlbacher, T.  
 

Übung zu Leistungshalbleiterbauelemente

UE; 2 cred.h; Erster Übungstermin am 14.10. entfällt; Mon, 12:15 - 13:45, 0.111, (außer Mon 14.10.2019)
WPF ME-BA-MG3 3-6
PF EEI-BA-LE 5-6
WPF EEI-BA-EuA 5-6
WPF EEI-MA-EuA 1-4
PF EEI-MA-LE 1-4
WPF ME-MA-MG3 1-3
WPF BPT-MA-E 1-3
WPF WING-MA-ET-EN 1-3
Stolzke, T.  
 

Optical Lithography: Technology, Physical Effects, and Modelling

VORL; 2 cred.h; Mon, 12:15 - 13:45, Hans-Georg-Waeber-Saal
WF EEI-MA ab 1
WF AOT-GL ab 1
PF NT-MA 1
Erdmann, A.  
 

Übung zu Optical Lithography

UE; 2 cred.h; Für Master AOT verpflichtende Zusatzveranstaltung, für andere Studiengänge freiwillig; Fri, 14:15 - 15:45, 0.111; Tue, 16:15 - 17:45, 0.157-115
WF AOT-GL ab 1
PF NT-MA 1
Erdmann, A.  
 

Laboratory on Semiconductor and Device Metrology

PR; 3 cred.h; certificate; ECTS: 2,5; Voraussetzung: Vorlesungen Technologie integrierter Schaltungen und/oder Halbleiter- und Bauelementemesstechnik; Wed, 13:00 - 17:00, 0.111; starting 23.10.2019; In Absprache mit den Teilnehmern kann das Praktikum ggf. als Blockveranstaltung in der vorlesungsfreien Zeit stattfinden. Anmeldung über StudOn.; Preliminary meeting: 18.10.2019, 10:00 - 10:30 Uhr, 0.111
WPF EEI-BA-MIK 5-6
WPF EEI-MA-MIK 1-4
WPF ME-MA-P-EEI 1-4
Niebauer, M.
u.a.
 
 

Laboratory on Microelectronics [PrakMikro]

PR; 3 cred.h; certificate; ECTS: 2,5; Nur EEI-BA Mikroelektronik; Der Vorbesprechungstermin ist eine Pflichtveranstaltung und muss wahrgenommen werden.; Preliminary meeting: 21.10.2019, 9:00 - 10:00 Uhr, BR 1.161
WPF EEI-BA-MIK 5-6 Stolzke, T.
Dirnecker, T.
 
     tbd.    Deeg, F. 
 Versuchstermine werden in der Vorbesprechung festgelegt
     tbd.    Stolzke, T. 
 Versuchstermine werden in der Vorbesprechung festgelegt
     tbd.    Beck, Ch. 
 Versuchstermine werden in der Vorbesprechung festgelegt
     tbd.    Frickel, J. 
 Versuchstermine werden in der Vorbesprechung festgelegt
 

Laboratory on Silicon Semiconductor Processing [Prak TeSi]

PR; 3 cred.h; certificate; ECTS: 2,5; Hinweis: Das Praktikum wird im Wintersemester 2019/20 nicht angeboten; Zeit und Raum n.V.
WPF ME-MA-P-EEI 1-4
WPF EEI-MA-MIK 1-4
WPF EEI-BA-MIK 5-6
WPF EEI-BA-LE 5-6
WPF EEI-MA-LE 1-4
WPF ME-MA ab 1
Dirnecker, T.  
 

Reinraum- und Halbleiterpraktikum [RRPrak]

PR; 6 cred.h; ECTS: 5; Teilnahme an der Vorbesprechung am 17.10. ist verpflichtend! Anmeldung bei StudOn notwendig. Praktikumszeiten donnerstags werden nach Gruppeneinteilung bekanntgegeben.; Preliminary meeting: 17.10.2019, 8:00 - 9:15 Uhr, Hans-Georg-Waeber-Saal
PF NT-BA 5 Marhenke, J.
Dirnecker, T.
 
     Thu8:00 - 11:00, 13:00 - 16:000.111  Assistenten 
     Thu8:00 - 11:00, 13:00 - 16:00BR 1.161  N.N. 
     Thu
Thu
9:00 - 13:00
14:00 - 18:00
BR 1.161, 0.111
BR 1.161
  Assistenten 
 Findet u.a. im Reinraum des LEB statt. Gruppeneinteilung am Semesterbeginn.
 

Seminar über Bachelorarbeiten [Sem BA]

SEM; 2 cred.h; ECTS: 2,5; Fri, 10:15 - 11:45, 0.111
  Stolzke, T.
Dirnecker, T.
 
 

Seminar on Theses

SEM; 2 cred.h; Fri, 12:15 - 13:45, 0.111; (Termine werden bekannt gegeben und sind auf der Homepage des Lehrstuhls zu finden
  Dirnecker, T.
Stolzke, T.
 
 

Technology of Semiconductor Manufacturing Equipment

VORL; 2 cred.h; ben. certificate; ECTS: 2,5; Veranstaltung wird voraussichtlich als Blockveranstaltung durchgeführt. Interessenten wenden sich bitte direkt an den Dozenten Prof. Pfitzner.; Preliminary meeting: 17.10.2019, 16:30 - 17:00 Uhr, Hans-Georg-Waeber-Saal
WF EEI-MA ab 1
WF EEI-BA ab 5
WPF ME-BA-MG10 3-6
WPF ME-MA-MG10 1-3
WF WW-DH-EL 7-13
Pfitzner, L.  
 

Technology of Integrated Circuits

VORL; 3 cred.h; ECTS: 5; benoteter Schein möglich; Thu, 14:15 - 16:30, Hans-Georg-Waeber-Saal
WPF BPT-MA-E 1-3
PF EEI-BA-MIK 5-6
WPF EEI-BA-MIK 5-6
PF EEI-MA-MIK 1-4
WPF EEI-MA-MIK 1-4
PF INF-NF-EEI 5
WPF ME-BA-MG4 3-6
WPF ME-MA-MG4 1-3
WF NT-MA ab 1
Erlbacher, T.  
 

Übung zu Technologie integrierter Schaltungen

UE; 1 cred.h; Mon, 14:15 - 15:45, Hans-Georg-Waeber-Saal; Die Übung findet in 14tägigem Rhythmus statt. Erster Termin am 21.10.2019
PF EEI-BA-MIK 5-6
WPF EEI-BA-MIK 5-6
PF EEI-MA-MIK 1-4
WPF EEI-MA-MIK 1-4
PF INF-NF-EEI ab 5
WPF ME-BA-MG4 3-6
WPF ME-MA-MG4 1-3
WF NT-MA ab 1
WPF BPT-MA-E 1-3
Niebauer, M.  
 

Reliability and Failure Analysis of Integrated Circuits

VORL; 2 cred.h; ben. certificate; ECTS: 4; Mon, 16:15 - 17:45, 0.111
WPF BPT-MA-E 1-3
WPF EEI-BA-MIK 5-6
WPF EEI-MA-MIK 1-4
Pichler, P.  
 

Übung zu Zuverlässigkeit und Fehleranalyse integrierter Schaltungen

UE; 1 cred.h; ben. certificate; Erster Termin der Übung wird in der Vorlesung bekannt gegeben.
WPF BPT-MA-E 1-3
WPF EEI-BA-MIK 5-6
WPF EEI-MA-MIK 1-4
Pichler, P.  


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