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Departments >> Faculty of Engineering >> Department of Electrical-Electronic-Communication Engineering >>

Chair of Electron Devices (Prof. Dr. Frey)

 

Seminar on Selected Topics of Silicon Semiconductor Technology [SEM TeSi]

SEM; 2 cred.h; ben. certificate; ECTS: 2,5; Tue, 14:15 - 15:45, 0.111
WPF ME-MA-SEM-EEI 3
WPF EEI-BA-MIK 5-6
WPF EEI-MA-MIK 1-4
WPF ME-BA-SEM 3-6
Marhenke, J.  
 

Forschungspraktikum am LEB (10 ECTS) (Prak FOR-LEB_10) [Prak FOR-LEB_10]

SL; certificate; ECTS: 10; Nach Vereinbarung; Nur für EEI Master; Nach Vereinbarung; Nur für EEI Master;
  Dirnecker, T.  
 

Semiconductor and Device Measurement Techniques [HBMT-V]

VORL; 3 cred.h; ben. certificate; ECTS: 5; Vorlesung und Übung werden zunächst im digitalen Format über StudOn (https://www.studon.fau.de/crs2839802.html) stattfinden.; Tue, 8:15 - 11:45, Hans-Georg-Waeber-Saal; Vorlesung und Übung werden zunächst im digitalen Format über StudOn (https://www.studon.fau.de/crs2839802.html) stattfinden.
WPF WW-DH-MIC ab 6
WPF EEI-BA-MIK 5-6
WPF EEI-MA-MIK 1-4
WF EEI-BA ab 5
WF EEI-MA ab 1
WPF ME-BA-MG4 5-6
WPF ME-MA-MG4 1-3
WPF MWT-MA-MIC ab 1
WF MWT-BA 5-6
WPF NT-MA ab 1
WPF BPT-MA-E 1-3
Berberich, S.  
 

Übung zu Halbleiter- und Bauelementemesstechnik [HBMT-Ü]

UE; 1 cred.h; Vorlesung und Übung werden zunächst im digitalen Format über StudOn (https://www.studon.fau.de/crs2839802.html) stattfinden.; Vorlesung und Übung werden zunächst im digitalen Format über StudOn (https://www.studon.fau.de/crs2839802.html) stattfinden.
WPF WW-DH-MIC ab 5
WPF EEI-MA-MIK 1-4
WPF EEI-BA-MIK 5-6
WF EEI-BA ab 5
WF EEI-MA ab 1
WPF ME-BA-MG4 5-6
WPF ME-MA-MG4 1-3
WPF MWT-MA-MIC ab 1
WF MWT-BA ab 5
WPF NT-MA ab 1
WPF BPT-MA-E 1-3
Berberich, S.  
 

Semiconductor Devices [HBEL-V]

VORL; 2 cred.h; Anf; Hinweis: die Veranstaltung wird in diesem Semester zunächst im digitalen Format angeboten. Weitere Informationen finden Sie im StudOn-Kurs zum Modul Halbleiterbauelemente; Thu, 8:15 - 9:45, H5; single appointment on 27.4.2020, 8:15 - 9:45, H5; Hinweis: zusätzlicher Vorlesungstermin in der ersten Vorlesungswoche (23.04.), dafür am Ende des Semesters ein zusätzlicher Übungstermin!
WF MS-MA ab 1
PF ME-BA 4
WPF MT-MA-MEL ab 1
WPF MT-BA-BV ab 5
WF C-MA ab 1
WF MWT-MA-TS ab 1
PF BPT-MA-M-E ab 1
Dirnecker, T.  
 

Tutorium Halbleiterbauelemente [HBEL-Tut]

TUT; 2 cred.h; Tue, 08:15 - 09:45, 04.023; 1. Termin nach Absprache ab Mitte des Semesters
PF ME-BA 4
WPF MT-MA-MEL 1-2
Martens, Ch.  
 

Übungen zu Halbleiterbauelemente [HBEL-Ü]

UE; 2 cred.h; Hinweis: die Veranstaltung wird in diesem Semester im digitalen Format angeboten. Weitere Informationen finden Sie im StudOn-Kurs zum Modul Halbleiterbauelemente; Mon, 8:15 - 9:45, H5; starting 4.5.2020; Hinweis: Übung startet am 04. Mai; am Montag 27.04. Vorlesung anstatt Übung!
PF ME-BA 4
WPF MT-MA-MEL 1-2
WF MS-MA ab 1
WF C-MA ab 1
WF MWT-MA-TS ab 1
Martens, Ch.  
 

Integrierte Schaltungen, Leistungsbauelemente und deren Anwendungen [SEM_POWER]

SEM; 2 cred.h; ben. certificate; ECTS: 2,5; Für weitere Informationen wenden Sie sich bitte an Tobias Dirnecker (tobias.dirnecker@fau.de); Zeit und Raum n.V.
WF EEI-MA ab 1
WF EEI-BA ab 5
WF ME-BA-SEM 6
WF ME-MA-SEM 3
Stolzke, T.
u.a.
 
 

Colloquium on Semiconductor Technology and Metrology [KO HLMT]

KO; 1 cred.h; Mon, 17:15 - 18:00, Hans-Georg-Waeber-Saal
  Bauer, A.  
 

Nano IV: Halbleiter [Nano IV]

VORL; 2 cred.h; ECTS: 2,5; Veranstaltung für Studiengang Nanotechnologie. Die Veranstaltung wird zunächst im digitalen Format über StudOn (https://www.studon.fau.de/crs2847766.html) stattfinden.; Tue, 16:15 - 17:45, H16; Veranstaltung für Studiengang Nanotechnologie. Die Veranstaltung wird zunächst im digitalen Format über StudOn (https://www.studon.fau.de/crs2847766.html) stattfinden.
PF NT-BA 4 Dirnecker, T.  
 

Nanoelectronics [NANOEL]

VORL; 2 cred.h; Tue, 12:15 - 13:45, Hans-Georg-Waeber-Saal; Hinweis: Die Veranstaltung findet im digitalen Format über die StudOn-Plattform statt.
PF NT-MA 2
WPF EEI-BA-MIK 5-6
WPF EEI-MA-MIK 1-4
WF EEI-BA ab 5
WF EEI-MA ab 1
WPF BPT-MA-E 1-3
Jank, M.  
 

Laboratory on Semiconductor and Device Metrology [Prak HLMT]

PR; 3 cred.h; certificate; ECTS: 2,5; Ggf. findet das Praktikum - in Abstimmung mit den Studierenden in der Vorbesprechung - als Blockpraktikum in der vorlesungsfreien Zeit statt. Anmeldung über StudOn.
WPF EEI-BA-MIK 5-6
WPF EEI-MA-MIK 1-4
WPF ME-MA-P-EEI 2-3
Niebauer, M.  
 

Laboratory on Mechatronic Systems [MechSysPrak]

PR; 6 cred.h; certificate; ECTS: 5; Hinweis: die Veranstaltung wird in diesem Semester als digitales Praktikum angeboten. Weitere Informationen im StudOn-Bereich zum Praktikum.
PF ME-BA 4 Dirnecker, T.  
     single appointment on 22.4.202014:15 - 16:30n.V.  Dirnecker, T.
und andere
 
 Einführungsveranstaltung wird über Webmeeting oder Videokonferenz stattfinden (weitere Informationen im StudOn-Bereich zum Praktikum.
     single appointment on 15.7.202014:30 - 18:00Hans-Georg-Waeber-Saal  Dirnecker, T.
und andere
 
     Wed14:15 - 17:45BR 1.161  Dirnecker, T.
Martens, Ch.
 
 

Laboratory on Microelectronics [PrakMikro]

PR; 3 cred.h; certificate; ECTS: 2,5; Preliminary meeting: 28.4.2020, 10:00 - 11:00 Uhr, BR 1.161
WPF EEI-BA-MIK 5-6 Stolzke, T.
Dirnecker, T.
 
     tbd.    Deeg, F. 
     tbd.    Beck, Ch. 
     tbd.    Frickel, J. 
 P1 LIKE-Praktikumsraum
     tbd.    Stolzke, T. 
 

Laboratory on Silicon Semiconductor Processing [Prak TeSi]

PR; 3 cred.h; certificate; ECTS: 2,5; Preliminary meeting: 22.4.2020, 9:30 - 10:30 Uhr, 0.111
WPF EEI-MA-MIK 1-4
WPF EEI-BA-MIK 5-6
WPF EEI-BA-LE 5-6
WPF EEI-MA-LE 1-4
WPF ME-MA-P-EEI 1-3
Dirnecker, T.  
     Wed8:15 - 11:450.111  Dirnecker, T.
Marhenke, J.
Martens, Ch.
Niebauer, M.
 
 

Process and Device Simulation [SimP&B-V]

VORL; 2 cred.h; ben. certificate; ECTS: 2,5; Online-Vorlesung, Zugangsdaten nach Anmeldung bei juergen.lorenz@iisb.fraunhofer.de. Zur Lehrveranstaltung werden freiwillige Übungen angeboten, ebenfalls online.; Thu, 16:00 - 17:30, Raum n.V.; Terminänderung ggf. in Absprache möglich
WF EEI-BA ab 5
WF EEI-MA-MIK ab 1
WF EEI-MA ab 1
Lorenz, J.  
 

Übungen zu Prozess- und Bauelemente-Simulation [SimP&B-Ü]

UE; 2 cred.h; Die Übung stellt ein freiwilliges Zusatzangebot dar. Online-Übung, siehe SimP&B-V; Zeit und Raum n.V.
WF EEI-BA ab 5
WF EEI-MA-MIK ab 1
WF EEI-MA ab 1
Lorenz, J.  
 

Process Integration and Device Architecture [PiBa-V]

VORL; 2 cred.h; ben. certificate; ECTS: 5; Veranstaltung wird zunächst ohne Präsenztermine im digitalen Format angeboten (StudOn); Fri, 10:15 - 11:45, Hans-Georg-Waeber-Saal
WPF ME-BA-MG4 5-6
PF EEI-BA-MIK 5-6
PF EEI-MA-MIK 1-4
WF EEI-BA ab 5
WF EEI-MA ab 1
WPF ME-MA-MG4 1-3
WPF NT-MA ab 1
WPF BPT-MA-E 1-3
Erlbacher, T.  
 

Excursion Semiconductor Processing [TeSi-EX]

EX; 1 cred.h; certificate; Wird in den Veranstaltungen des Lehrstuhls bekannt gegeben
  Assistenten  
 

Übungen zu Prozessintegration und Bauelementearchitekturen [PiBa-Ü]

UE; 2 cred.h; Veranstaltung wird ohne Präsenztermine im digitalen Format angeboten (StudOn); Tue, 18:15 - 19:45, Hans-Georg-Waeber-Saal
WPF ME-BA-MG4 5-6
PF EEI-BA-MIK 5-6
PF EEI-MA-MIK 1-4
WF EEI-BA ab 5
WF EEI-MA ab 1
WPF ME-MA-MG4 1-3
WPF NT-MA ab 1
WPF BPT-MA-E 1-3
Niebauer, M.  
 

Seminar über Bachelorarbeiten (Sem BA)

SEM; 2 cred.h; Fri, 10:15 - 11:45, 0.111; starting 6.3.2020; Vortragstermine werden per Aushang auf den Lehrstuhlseiten bekannt gegeben
  Dirnecker, T.
Stolzke, T.
u.a.
 
 

Seminar on Theses [SEM StudA]

SEM; 2 cred.h; Fri, 12:15 - 13:45, 0.111; starting 6.3.2020; In Kooperation mit FhG IISB.
  Stolzke, T.
Dirnecker, T.
u.a.
 


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