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Departments >> Faculty of Engineering >> Department of Electrical-Electronic-Communication Engineering >>

Chair of Electron Devices (Prof. Dr. Frey)

 

Anleitung zum wissenschaftlichen Arbeiten [AnWiAr]

AWA; 4 cred.h; Zeit und Raum n.V. 		  Frey, L.  
 

Seminar on Selected Topics of Silicon Semiconductor Technology [SEM TeSi]

SEM; 2 cred.h; ben. certificate; ECTS: 2,5; Tue, 14:15 - 15:45, 0.111; single appointment on 25.6.2014, single appointment on 2.7.2014, single appointment on 9.7.2014, 10:15 - 11:45, 0.111; Zeit und Ort flexibel in Absprache mit den Studenten möglich; Preliminary meeting: 16.4.2014, 10:15 - 11:00 Uhr, 0.111 		WPF ME-DH-SEM ab 6
WPF EEI-BA-MIK 5-6
WPF EEI-MA-MIK 1-4
WPF ME-BA-SEM 3-6 		Scharin, M.  
 

Automotive Power Electronics [KfZ-EL]

VORL; 2 cred.h; ECTS: 2,5; Der wöchentliche Termin wird in Abstimmung mit den Studenten in der Vorbesprechung am 09.04. festgelegt.; Wed, 12:15 - 13:45, Hans-Georg-Waeber-Saal, (außer Wed 9.4.2014); Bitte Vorbesprechungstermin beachten. Verlegung der VL ggf. in Absprache mit Studierenden möglich; Preliminary meeting: 9.4.2014, 18:00 - 19:00 Uhr, Hans-Georg-Waeber-Saal 		WF ME-BA 5-6
WF ME-MA 1-4
WPF ME-BA-MG3 5-6
WPF EEI-MA-MIK 1-4
WPF EEI-BA-MIK 5-6
WPF ME-MA-MG3 1-3 		März, M.  
 

Forschungspraktikum am LEB [Prak FOR-LEB]

SL; certificate; ECTS: 5; Nur für EEI Master; Weitere Informationen über StudOn unter: http://www.studon.uni-erlangen.de/crs573783.html; Nach Vereinbarung; Nur für EEI Master; Weitere Informationen über StudOn unter: http://www.studon.uni-erlangen.de/crs573783.html 		  Dirnecker, T.  
 

Semiconductor and Device Measurement Techniques [HBMT-V]

VORL; 3 cred.h; ben. certificate; ECTS: 5; Tue, 8:15 - 11:45, Hans-Georg-Waeber-Saal 		WPF WW-DH-MIC ab 6
WPF EEI-BA-MIK 5-6
WPF EEI-MA-MIK 1-4
WPF ME-DH-VF11 ab 6
WPF ME-BA-MG4 5-6
WPF ME-MA-MG4 1-3
WPF MWT-MA-MIC ab 1
WF MWT-BA 5-6
WPF NT-MA ab 1 		Hürner, A.
Polster, S. 		 
 

Übung zu Halbleiter- und Bauelementemesstechnik [HBMT-Ü]

UE; 1 cred.h; Fri, 16:15 - 17:45, Hans-Georg-Waeber-Saal; Termin der Übung ist vorläufig und wird in der ersten Semesterwoche in Absprache mit den Studenten festgelegt. 		WPF WW-DH-MIC ab 5
WPF EEI-MA-MIK 1-4
WPF EEI-BA-MIK 5-6
WPF ME-DH-VF11 ab 8
WPF ME-BA-MG4 5-6
WPF ME-MA-MG4 1-3
WPF MWT-MA-MIC ab 1
WF MWT-BA ab 5
WPF NT-MA ab 1 		Polster, S.
Hürner, A. 		 
 

Semiconductor Devices [HBEL-V]

VORL; 2 cred.h; Anf; Tue, 16:15 - 17:45, H5 		WF MS-MA ab 1
PF ME-BA 4
PF MT-MA-MEL 1-2
WF C-MA ab 1
WF MWT-MA-TS ab 1 		Frey, L.  
 

Tutorium Halbleiterbauelemente [HBEL-Tut]

TUT; 2 cred.h; Fri, 12:15 - 13:45, H6; 1. Termin nach Absprache ab Mitte des Semesters 		PF ME-BA 4
PF MT-MA-MEL 1-2 		Assistenten  
 

Übungen zu Halbleiterbauelemente [HBEL-Ü]

UE; 2 cred.h; Mon, 12:15 - 13:45, H6 		PF ME-BA 4
PF MT-MA-MEL 1-2
WF MS-MA ab 1
WF C-MA ab 1
WF MWT-MA-TS ab 1 		Albrecht, M.  
 

Integrierte Schaltungen, Leistungsbauelemente und deren Anwendungen [SEM_POWER]

SEM; ben. certificate; ECTS: 2,5; Fri, 13:15 - 14:45, 0.111; Preliminary meeting: 16.4.2014, 10:15 - 11:00 Uhr, 0.111 		WF EEI-MA ab 1
WF EEI-BA ab 5
WF EEI-BA-S ab 5
WF ME-BA-SEM 6
WF ME-MA-SEM 3 		Wunder, B.
u.a. 		 
 

Colloquium on Semiconductor Technology and Metrology [KO HLMT]

KO; 1 cred.h; Mon, 17:15 - 18:00, Hans-Georg-Waeber-Saal 		  Bauer, A.  
 

Nano IV: Halbleiter [Nano IV]

VORL; 2 cred.h; ECTS: 2,5; Veranstaltung für Studiengang Nanotechnologie; Thu, 10:15 - 11:45, H5 		PF NT-BA 4
PF NT-BA-S 3 		Dirnecker, T.  
 

Nanoelectronics [NANOEL]

VORL; 2 cred.h; Fri, 12:15 - 13:45, Hans-Georg-Waeber-Saal; am 16.04. im Seminarsaal II (neben Hans-Georg-Waeber-Saal) 		PF NT-MA 2
WPF EEI-BA-MIK 5-6
WPF EEI-MA-MIK 1-4 		Frey, L.
Jank, M. 		 
 

Laboratory on Semiconductor and Device Metrology [Prak HLMT]

PR; 3 cred.h; certificate; ECTS: 2,5; Weitere Informationen im StudOn-Bereich: http://www.studon.uni-erlangen.de/crs931952.html; Zeit n.V., BR 1.161; Durchführung ggf. als Blockpraktikum in den Semesterferien; Preliminary meeting: 11.4.2014, 15:00 - 15:30 Uhr, BR 1.161 		WPF EEI-BA-MIK 5-6
WPF EEI-MA-MIK 1-4
WPF ME-MA-P 2-3 		Krach, F.  
 

Laboratory on Mechatronic Systems [MechSysPrak]

PR; 6 cred.h; certificate; ECTS: 5 		PF ME-BA 4
PF ME-BA-S 5 		Dirnecker, T.  
     single appointment on 7.4.201410:15 - 12:45Hans-Georg-Waeber-Saal  Dirnecker, T. 
     single appointment on 2.7.201415:00 - 18:00Hans-Georg-Waeber-Saal  Dirnecker, T. 
 

Laboratory on Microelectronics [PrakMikro]

PR; 3 cred.h; certificate; ECTS: 2,5; Preliminary meeting: 11.4.2014, 14:00 - 15:00 Uhr, BR 1.161 		WPF EEI-BA-MIK 5-6 Krach, F.  
     tbd.    Frickel, J. 
 P1 LIKE-Praktikumsraum
     tbd.    N.N. 
     tbd.    Krach, F. 
     Thu13:00 - 18:00EL 4.13  Rascher, J.
Schröter, S.		 
 

Laboratory on Silicon Semiconductor Processing [Prak TeSi]

PR; 3 cred.h; certificate; ECTS: 2,5; !Auchtung: Das Praktikum wird im Sommersemester 2014 nicht angeboten!; Wed, 8:15 - 11:45, 0.111, (außer Wed 16.4.2014); !Auchtung: Das Praktikum wird im Sommersemester 2014 nicht angeboten! 		WPF ME-DH-PEEI ab 5
WPF EEI-MA-MIK 1-4
WPF EEI-BA-MIK 5-6
WPF EEI-BA-S 5-6
WPF EEI-BA-LE 5-6
WPF EEI-MA-LE 1-4
WPF ME-MA ab 1 		Dirnecker, T.  
 

Process and Device Simulation [SimP&B-V]

VORL; 2 cred.h; ben. certificate; ECTS: 2,5; Zur Lehrveranstaltung werden freiwillige Übungen angeboten; Wed, 16:00 - 17:30, Raum n.V., (außer Wed 9.4.2014); starting 16.4.2014; Vorlesung: Mi., 16:00-17:30 Uhr im Seminarraum 1 des IISB (Schottkystr.10); (Kontakt: juergen.lorenz@iisb.fraunhofer.de); Preliminary meeting: 10.4.2014, 9:15 - 10:15 Uhr 		WF EEI-BA ab 5
WF EEI-MA-MIK ab 1 		Lorenz, J.  
 

Übungen zu Prozess- und Bauelemente-Simulation [SimP&B-Ü]

UE; 2 cred.h; Die Übung stellt ein freiwilliges Zusatzangebot dar.; Tue, 12:15 - 13:45, Raum n.V., (außer Tue 8.4.2014); starting 15.4.2014; Übung und Vorbesprechung finden im Seminarraum 1 des IISB (Schottkystr.10), terminliche Verlegung der Vorlesung nach Absprache möglich (Kontakt: juergen.lorenz@iisb.fraunhofer.de); Preliminary meeting: 10.4.2014, 9:15 - 10:15 Uhr 		WF EEI-BA ab 5
WF EEI-MA-MIK ab 1 		Lorenz, J.  
 

Process Integration and Device Architecture [PiBa-V]

VORL; 2 cred.h; ben. certificate; ECTS: 5; Tue, 14:15 - 15:45, Hans-Georg-Waeber-Saal 		WPF ME-BA-MG4 5-6
PF EEI-BA-MIK 5-6
PF EEI-MA-MIK 1-4
WPF ME-MA-MG4 1-3
WPF NT-MA ab 1 		Frey, L.  
 

Excursion Semiconductor Processing [TeSi-EX]

EX; 1 cred.h; certificate; Wird in den Veranstaltungen des Lehrstuhls bekannt gegeben 		  Assistenten  
 

Übungen zu Prozessintegration und Bauelementearchitekturen [PiBa-Ü]

UE; 2 cred.h; Mon, 8:15 - 9:45, H6; starting 14.4.2014 		WPF ME-BA-MG4 5-6
PF EEI-BA-MIK 5-6
PF EEI-MA-MIK 1-4
WPF ME-MA-MG4 1-3
WPF NT-MA ab 1 		Weis, S.  
 

Seminar on Theses [SEM StudA]

SEM; 2 cred.h; Fri, 10:30 - 13:00, 0.111, (außer Fri 26.9.2014); to 30.9.2014; In Kooperation mit FhG IISB. 		  Wunder, B.  
 

Virtuelle Übung zu Produktion in der Siliciumtechnologie [PRIDE-vÜ]

UE; Freiwilliges Zusatzangebot; Anmeldung über die Internetseite des Lehrstuhls für Elektronische Bauelemente; zur Verbesserung der Prüfungsvorbereitung LEB-Teil 		  N.N.  
 

Virtuelle vhb-Vorlesung Halbleiterbauelemente [vhb-HBEL]

VORL; 4 cred.h; enthält 2 SWS Übung; in Kooperation mit Prof. Schmidt-Landsiedel (TU München), Anmeldung bei der virtuellen Hochschule Bayern (vhb) 		  Ryssel, H.
u.a. 		 
 

Virtuelle vhb-Vorlesung Technologie und Architektur mikroelektronischer Schaltungen [vhb-TAmS]

VORL; 4 cred.h; enthält 2 SWS Übung; Anmeldung bei der virtuellen Hochschule Bayern (vhb) 		  Ryssel, H.  


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