Seminar: Reliability Analysis in Embedded Systems (RA-SEM)
- Dozentinnen/Dozenten
- Faramarz Khosravi, M. Sc., Prof. Dr.-Ing. Jürgen Teich
- Angaben
- Seminar
, benoteter Schein, ECTS-Studium, ECTS-Credits: 5,0, Sprache Englisch
Zeit und Ort: Einzeltermine am 29.10.2018 14:00 - 16:00, 02.133-128; 22.2.2019 12:00 - 14:00, 02.112-128; Bemerkung zu Zeit und Ort: n.V.
- Studienfächer / Studienrichtungen
- WPF I2F-BA ab 4
WF IuK-MA ab 1
WF IuK-BA ab 4
WPF CE-MA-SEM ab 1
WPF INF-MA ab 1
- ECTS-Informationen:
- Credits: 5,0
- Zusätzliche Informationen
- www: https://www.cs12.tf.fau.de/lehre/lehrveranstaltungen/seminare/reliability-analysis-in-embedded-systems/
- Verwendung in folgenden UnivIS-Modulen
- Startsemester WS 2018/2019:
- Seminar: Reliability Analysis in Embedded Systems (RA-SEM)
- Institution: Lehrstuhl für Informatik 12 (Hardware-Software-Co-Design)
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