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Kristallzüchtung und Halbleitertechnologie (CG-NT)10 ECTS
(englische Bezeichnung: Crystal Growth and Semiconductor Technology)
(Prüfungsordnungsmodul: Naturwissenschaftlich - technisches Wahlmodul)

Modulverantwortliche/r: Peter Wellmann
Lehrende: Peter Wellmann, Uwe Scheuermann


Start semester: WS 2017/2018Duration: 2 semesterCycle: halbjährlich (WS+SS)
Präsenzzeit: 120 Std.Eigenstudium: 180 Std.Language: Deutsch und Englisch

Lectures:


Die allgemeine Modulbeschreibung des Prüfungsordnungsmoduls Naturwissenschaftlich - technisches Wahlmodul finden Sie hier.

Empfohlene Voraussetzungen:

Bachelor in Materialwissenschaften, Nanotechnologie, Energietechnik, Elektrotechnik, Physik, Chemie oder in einem vergleichbaren Studiengang

Inhalt:

Grundlagen des Kristallwachstums und der Halbleitertechnologie

  • Grundlagen des Kristallwachstums

  • Grundlagen der Silizium Halbleitertechnologie (Oxidation, Dotierung mittels Diffusion und Ionenimplantation, Ätzen, Metallisierung, Lithografie, Packaging)

Elektronische Bauelemente und Materialfragen

  • Korrelation von Bauelementfunktion (Bipola-Diode, Bipolar-Transistor, Schottky-Diode, Feldeffekt-Transistor, Leucht- und Laserdiode) Mit Materialeigenschaften

  • Grundlagen der Epitaxie

Lernziele und Kompetenzen:

  • Die Studierenden erwerben fundierte Kenntnisse über Materialeigenschaften und deren Anwendung in elektronischen Bauelementen.
  • Kennenlernen experimenteller Techniken in den Werkstoffwissenschaften, Verfassen von technischen Berichten, Teamarbeit


Verwendbarkeit des Moduls / Einpassung in den Musterstudienplan:

  1. Nanotechnologie (Master of Science)
    (Po-Vers. 2015w | TechFak | Nanotechnologie (Master of Science) | Masterprüfung | Naturwissenschaftlich - technisches Wahlmodul)

Studien-/Prüfungsleistungen:

Kristalzüchtung und Halbleitertechnologie (Prüfungsnummer: 824008)
Prüfungsleistung, mündliche Prüfung, Dauer (in Minuten): 20, benotet
Anteil an der Berechnung der Modulnote: 100.0 %
Prüfungssprache: Deutsch und Englisch

Erstablegung: WS 2017/2018, 1. Wdh.: SS 2018
1. Prüfer: Peter Wellmann

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