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Rasterelektronenmikroskopie in Materialforschung und Nanotechnologie (REM_WW9)- Lecturer
- Prof. Dr. rer. nat. habil. Erdmann Spiecker
- Details
- Vorlesung
2 cred.h, ECTS studies, ECTS credits: 3, Sprache Deutsch
Time and place: Mon 10:15 - 11:45, 3.31, Martensstr. 5
starting 23.10.2017
- Fields of study
- WPF MWT-MA-MNF ab 1
WPF NT-MA ab 1
WF MWT-MA-EL ab 1
WPF MWT-MA-AWE ab 1
- Contents
- • Komponenten eines REM
• Elastische/inelastische Wechselwirkung Elektron-Probe,
Wechselwirkungsvolumen, Sekundär-/Rückstreuelektronenerzeugung
• Kontrastmechanismen mit Bezug auf die verschiedenen Detektorsysteme
• Elektronenbeugung und ihre Anwendung im REM
• Rastertransmissionsmikroskopie (STEM)
• Quantitative Röntgenspektroskopie
• Fokussierte Ionenstrahlen (Dual-Beam FIB, He-Ionenmikroskopie)
• Präparationsspezifische Probleme
• Anwendungsbeispiele
- ECTS information:
- Credits: 3
- Additional information
- Expected participants: 15, Maximale Teilnehmerzahl: 30
- Verwendung in folgenden UnivIS-Modulen
- Startsemester WS 2017/2018:
- Kernfach Mikro- und Nanostrukturforschung für MWT (MNF_M1_MWT)
- Kernfach Mikro- und Nanostrukturforschung für NT (MNF_M6_NT)
- Kernfachmodul Allgemeine Werkstoffeigenschaften (M1-MWT-WW1/M6-NT-WW1)
- Nebenfach Mikro- und Nanostrukturforschung für MWT (MNF_M2/M3_MWT)
- Nebenfach Mikro- und Nanostrukturforschung für NT (MNF_M7_NT)
- Department: Chair of Micro- and Nanostructure Research
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