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  Rastersondenmikroskopie / Nanoindentierung (SPMNI)

Lecturers
Dr.-Ing. Benoit Merle, Eva Preiss, M. Sc.

Details
Vorlesung mit Übung
3 cred.h, ECTS studies, ECTS credits: 4, Sprache Deutsch
Time and place: Tue 10:15 - 11:45, H14; Thu 8:15 - 9:45, 0.157-115
starting 24.10.2017

Fields of study
PF NT-MA 1 (ECTS-Credits: 4)
WPF MWT-MA-AWE ab 1 (ECTS-Credits: 4)

Contents
Die Rastersondenmikroskopie und die Nanoindentierung sind verwandte Methoden, die es unter der Anwendung einer Sonde erlauben, eine Probe hinsichtlich Topographie oder mechanischer Eigenschaften lokal zu charakterisieren. Ziel der Vorlesung ist, die Grundlagen der Methoden sowie deren wichtigste Anwendungen zu erläutern. Die Inhalte im Einzelnen:
Rastersondenmikroskopie
  • Experimenteller Aufbau (Rastersondenmikroskop und Sonden)

  • Rasterkraftmikroskopie (Betriebsmodi)

  • Rastertunnelmikroskopie (Tunneleffekt und Betriebsprinzip)

  • Bilddatenverarbeitung

Nanoindentierung

  • Grundlagen der Härteprüfung

  • Experimenteller Aufbau eines Nanoindenters

  • Grundlagen der Kontaktmechanik (Sneddon, Hertz)

  • Oliver-Pharr Auswertemethode

  • Fortgeschrittene Methoden zur Bestimmung lokaler mechanischer Eigenschaften (Dehnratenabhängigkeit, Fließspannung, theoretische Festigkeit, Dynamische Charakterisierung)

ECTS information:
Credits: 4

Additional information
Expected participants: 25

Verwendung in folgenden UnivIS-Modulen
Startsemester WS 2017/2018:
Allgemeine Werkstoffeigenschaften (M2/M3) (M2/M3-MWT-WW1)
Kernfach Mikro- und Nanostrukturforschung für MWT (MNF_M1_MWT)
Kernfachmodul Allgemeine Werkstoffeigenschaften (M1-MWT-WW1/M6-NT-WW1)
Nanocharakterisierung (NanoChar M1-NT)

Department: Chair of General Materials Properties
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