|
|
Rastersondenmikroskopie / Nanoindentierung (SPMNI)- Dozentinnen/Dozenten
- Dr.-Ing. Benoit Merle, Eva Preiss, M. Sc., M.Sc. Jan Philipp Liebig
- Angaben
- Vorlesung mit Übung
3 SWS, ECTS-Studium, ECTS-Credits: 4, Sprache Deutsch
Zeit und Ort: Di 10:15 - 11:45, 3.31, Martensstr. 5; Fr 10:15 - 11:00, 0.157-115
- Studienfächer / Studienrichtungen
- PF NT-MA 2 (ECTS-Credits: 4)
- Inhalt
- Die Rastersondenmikroskopie und die Nanoindentierung sind verwandte Methoden, die es unter der Anwendung einer Sonde erlauben, eine Probe hinsichtlich Topographie oder mechanischer Eigenschaften lokal zu charakterisieren. Ziel der Vorlesung ist, die Grundlagen der Methoden sowie deren wichtigste Anwendungen zu erläutern.
Die Inhalte im Einzelnen:
Rastersondenmikroskopie
Experimenteller Aufbau (Rastersondenmikroskop und Sonden) Rasterkraftmikroskopie (Betriebsmodi) Rastertunnelmikroskopie (Tunneleffekt und Betriebsprinzip) Bilddatenverarbeitung
Nanoindentierung
Grundlagen der Härteprüfung Experimenteller Aufbau eines Nanoindenters Grundlagen der Kontaktmechanik (Sneddon, Hertz) Oliver-Pharr Auswertemethode Fortgeschrittene Methoden zur Bestimmung lokaler mechanischer Eigenschaften (Dehnratenabhängigkeit, Fließspannung, theoretische Festigkeit, Dynamische Charakterisierung)
- ECTS-Informationen:
- Credits: 4
- Zusätzliche Informationen
- Erwartete Teilnehmerzahl: 6
- Verwendung in folgenden UnivIS-Modulen
- Startsemester WS 2015/2016:
- Nanocharakterisierung (NanoChar)
- Institution: Chair of General Materials Properties
|
 |
|
|
UnivIS ist ein Produkt der Config eG, Buckenhof |
|
|