Seminar zu Fragen des Entwurfs Sicherheitskritischer Schaltungen (SemFESS)2.5 ECTS
(englische Bezeichnung: Seminar on Selected Problems of the Design of Integrated Circuits)
(Prüfungsordnungsmodul: Wahlmodulbereich aus der FAU)

Lectures:

• • Seminar zu Fragen des Entwurfs Sicherheitskritischer Schaltungen
    (Hauptseminar, 2 SWS, Sebastian M. Sattler, Thu, 14:15 - 15:45, SR 01.030)

Die allgemeine Modulbeschreibung des Prüfungsordnungsmoduls Wahlmodulbereich aus der FAU finden Sie hier.

Inhalt:

Inhalt des Seminars sind wissenschaftlich und technologisch aktuelle Themen der Lehr- und Forschungsgebiete des LZS:

• Alle Ebenen des Entwurfs Sicherheitskritischer Schaltungen oder Systeme

• Modellierung, Simulation und Test Sicherheitskritischer Schaltungen

• Algorithmen, Methoden und Werkzeuge für den rechnergestützten Entwurf

• Anwendungen von Sicherheitskritischen Schaltungen und Mikrosystemen

Organisatorisches:

Entwurf Integrierter Schaltungen I und/oder II

Weitere Informationen:

Verwendbarkeit des Moduls / Einpassung in den Musterstudienplan:

1. Elektrotechnik, Elektronik und Informationstechnik (Master of Science)
   (Po-Vers. 2015s | TechFak | Elektrotechnik, Elektronik und Informationstechnik (Master of Science) | Masterprüfung | Wahlmodulbereich aus der FAU)

Studien-/Prüfungsleistungen:

Seminar zu Fragen des Entwurfs Sicherheitskritischer Schaltungen (Prüfungsnummer: 366009)

(englischer Titel: Seminar on Selected Problems of the Design of Integrated Circuits)

Prüfungsleistung, Seminarleistung, benotet, 2.5 ECTS

Anteil an der Berechnung der Modulnote: 100.0 %

weitere Erläuterungen:

• Erarbeitung des gestellten Themas innerhalb von 6 Wochen unter Anleitung eines Betreuers

• Erstellung einer mind. 10-seitigen Zusammenfassung des Seminarthemas

• Seminarvortrag von 35-40 Min. Dauer und anschließende Diskussion des Themas

Erstablegung: SS 2018, 1. Wdh.: WS 2018/2019, 2. Wdh.: keine Wiederholung

1. Prüfer:

Sebastian M. Sattler