Zuverlässigkeit und Fehleranalyse integrierter Schaltungen- Lecturer
- Priv.-Doz. Dr. Peter Pichler
- Details
- Vorlesung
2 cred.h, benoteter certificate, ECTS studies, ECTS credits: 4, Sprache Deutsch
Time and place: Wed 12:15 - 13:45, 0.111
- Fields of study
- WPF EEI-BA-MIK 5-6
WPF EEI-MA-MIK 1-4
- Contents
- Wirtschaftlicher Erfolg beim Einsatz elektronischer Bauelemente hängt unter anderem von deren Lebensdauer ab. Zu geringe Lebensdaueren führen zu überproportionalen Garantieleistungen und Ansehensverlusten der Marke, zu hohe Lebensdauern deuten auf zu hohe Produktionskosten oder zu hohe Sicherheitsreserven hin. Neben einer Einführung in die mathematische Beschreibung von Zuverlässigeitsbetrachtungen bietet die Vorlesung eine Diskussion der relevanten Ausfallmechanismen von elektronischen Bauelementen und eine Übersicht über die Fehleranalyse an ausgefallenen Bauelementen.
- ECTS information:
- Title:
- Reliability and Failure Analysis of Integrated Circuits
- Credits: 4
- Additional information
- Keywords: Zuverlässigkeit, Fehleranalyse, Integrierte Schaltungen, Ausfallmechanismen, Messverfahren zur Qualitätssicherung
Expected participants: 10
www: http://www.studon.uni-erlangen.de/crs92001.html
- Assigned lectures
- UE: Übung zu Zuverlässigkeit und Fehleranalyse integrierter Schaltungen
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Lecturer: Priv.-Doz. Dr. Peter Pichler
Time and place: Wed 10:15 - 11:45, room tbd; comments on time and place: Übung findet im Seminarsaal 1 am Fraunhofer-Institut IISB (Schottkystr. 10) statt.
www: http://www.studon.uni-erlangen.de/crs92001.html
- Verwendung in folgenden UnivIS-Modulen
- Startsemester WS 2013/2014:
- Zuverlässigkeit und Fehleranalyse integrierter Schaltungen (ZUFIS)
- Department: Chair of Electron Devices (Prof. Dr. Frey)
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