Zuverlässigkeit und Fehleranalyse integrierter Schaltungen- Lecturer
- Priv.-Doz. Dr. Peter Pichler
- Details
- Vorlesung
2 cred.h, benoteter certificate, ECTS studies, ECTS credits: 4, Sprache Deutsch
Time and place: Wed 12:15 - 13:45, Hans-Georg-Waeber-Saal (außer Wed 31.10.2012, Wed 7.11.2012); single appointment on 7.11.2012 12:15 - 13:45, 0.111; comments on time and place: Vorlesung findet am 31.10. im Seminarraum 2 am IISB statt
- Fields of study
- WPF ME-DH-VF11 5-7 (ECTS-Credits: 2,5)
WPF EEI-BA-MIK 5-6
WPF EEI-MA-MIK 1-4
WPF ME-BA-MG11 3-6
WPF ME-MA-MG11 1-3
- Contents
- Wirtschaftlicher Erfolg beim Einsatz elektronischer Bauelemente hängt unter anderem von deren Lebensdauer ab. Zu geringe Lebensdaueren führen zu überproportionalen Garantieleistungen und Ansehensverlusten der Marke, zu hohe Lebensdauern deuten auf zu hohe Produktionskosten oder zu hohe Sicherheitsreserven hin. Neben einer Einführung in die mathematische Beschreibung von Zuverlässigeitsbetrachtungen bietet die Vorlesung eine Diskussion der relevanten Ausfallmechanismen von elektronischen Bauelementen und eine Übersicht über die Fehleranalyse an ausgefallenen Bauelementen.
- ECTS information:
- Title:
- Reliability and Failure Analysis of Integrated Circuits
- Credits: 4
- Additional information
- Keywords: Zuverlässigkeit, Fehleranalyse, Integrierte Schaltungen, Ausfallmechanismen, Messverfahren zur Qualitätssicherung
Expected participants: 10
www: http://www.studon.uni-erlangen.de/crs92001.html
- Assigned lectures
- UE: Übung zu Zuverlässigkeit und Fehleranalyse integrierter Schaltungen
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Lecturer: Priv.-Doz. Dr. Peter Pichler
Time and place: n.V.; comments on time and place: Zeit und Ort nach Vereinbarung
www: http://www.studon.uni-erlangen.de/crs92001.html
- Verwendung in folgenden UnivIS-Modulen
- Startsemester WS 2012/2013:
- Zuverlässigkeit und Fehleranalyse integrierter Schaltungen (ZUFIS)
- Department: Chair of Electron Devices (Prof. Dr. Frey)
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