Anleitung zum wissenschaftlichen Arbeiten

Lecturer:

Lothar Frey

Details:

Anleitung zu wiss. Arbeiten, 4 cred.h, nur Fachstudium

Dates:

n.V.

Seminar on Selected Topics of Silicon Semiconductor Technology

Lecturer:

Marina Scharin-Mehlmann

Details:

Seminar, 2 cred.h, graded certificate, ECTS: 2,5, nur Fachstudium, Anmeldung über StudOn

Dates:

Tue, 14:15 - 15:45, 0.111
Preliminary meeting: Tuesday, 18.10.2016, 14:15 - 15:00 Uhr, 0.111

Fields of study:

WPF ME-MA-SEM-EEI 3
WPF EEI-BA-MIK 5-6
WPF EEI-MA-MIK 1-4
WPF ME-BA-SEM 3-6

Einführung in die gedruckte Elektronik [GedrElektr]

Lecturer:

Michael Jank

Details:

Vorlesung, 2 cred.h, certificate, ECTS: 2,5, nur Fachstudium

Dates:

Wed, 8:15 - 9:45, 0.111

Keywords:

gedruckte Elektronik organische OFET OTFT Polymer

Excursion Semiconductor Processing

Lecturer:

Christian David Matthus

Details:

Exkursion, 1 cred.h, certificate, nur Fachstudium

Dates:

to be determined

Forschungspraktikum am LEB

Lecturer:

Tobias Dirnecker

Details:

Sonstige Lehrveranstaltung, certificate, ECTS: 5, Nur für EEI Master; Weitere Informationen über StudOn unter: <link wird noch eingefügt>

Dates:

Nach Vereinbarung; Nur für EEI Master; Weitere Informationen über StudOn unter: <Link wird noch eingefügt>

Semiconductor Devices

Lecturer:

Lothar Frey

Details:

Vorlesung, 2 cred.h, ECTS: 5, Physikalische Grundlagen der Halbleiterbauelemente

Dates:

Tue, 10:15 - 11:45, H9
single appointment on 24.10.2016, 16:15 - 17:45, HH

Fields of study:

WPF MT-MA-MEL ab 1
PF EEI-BA 3
PF BPT-BA-E 3
PF BPT-MA-M-E ab 1
PF WING-BA-IKS 5
WPF MT-BA-BV ab 5

Keywords:

Bauelemente, Halbleiter

Tutorium Halbleiterbauelemente

Lecturer:

Tobias Stolzke

Details:

Tutorium, 2 cred.h, nur Fachstudium

Dates:

Mon, 18:00 - 19:30, HH
Erster Termin: 12.12.2016
starting 12.12.2016

Fields of study:

PF EEI-BA 3
PF BPT-BA-E 3
PF WING-BA-IKS 5

Übungen zu Halbleiterbauelemente

Lecturer:

Tobias Stolzke

Details:

Übung, 2 cred.h, nur Fachstudium

Dates:

Mon, 16:15 - 17:45, HH
single appointment on 7.2.2017, 10:15 - 11:45, H9

Fields of study:

WPF MT-MA-MEL ab 1
PF EEI-BA 3
PF WING-BA-IKS 5
PF BPT-BA-E 3
PF BPT-MA-M-E ab 1
WPF MT-BA ab 5

Integrierte Schaltungen, Leistungsbauelemente und deren Anwendungen [SEM_POWERDEVICES]

Lecturers:

Tobias Dirnecker, u.a.

Details:

Seminar, graded certificate, ECTS: 2,5, Offene Seminarthemen finden Sie im StudOn-Bereich zum Seminar unter: https://www.studon.fau.de/crs1620755.html

Dates:

Fri, 14:15 - 15:45, 0.111
single appointment on 27.1.2017, 12:00 - 14:50, 0.111
Bitte beachten Sie den Termin zur Vorbesprechung
Preliminary meeting: Friday, 21.10.2016, 14:00 - 14:30 Uhr, 0.111

Colloquium on Semiconductor Technology and Metrology

Lecturer:

Anton Bauer

Details:

Kolloquium, 1 cred.h, nur Fachstudium

Dates:

Mon, 17:15 - 18:00, Hans-Georg-Waeber-Saal
Siehe Vortragsliste auf der Homepage des LEB.

Semiconductor Power Devices

Lecturer:

Tobias Erlbacher

Details:

Vorlesung, 2 cred.h, graded certificate, ECTS: 5

Dates:

Wed, 12:15 - 13:45, 0.111

Fields of study:

WF ME-DH-VF11 5-10
WPF ME-BA-MG3 3-6
PF EEI-BA-LE 5-6
WPF EEI-BA-EuA 5-6
PF EEI-MA-LE 1-4
WPF EEI-MA-EuA 1-4
WPF ME-MA-MG3 1-3
WPF BPT-MA-E 1-3

Keywords:

Leistungsbauelemente Halbleiter

Übung zu Leistungshalbleiterbauelemente

Lecturer:

Matthäus Albrecht

Details:

Übung, 2 cred.h

Dates:

Wed, 14:15 - 15:45, 0.111

Fields of study:

WF ME-DH-VF11 5-10
WPF ME-BA-MG3 3-6
PF EEI-BA-LE 5-6
WPF EEI-BA-EuA 5-6
WPF EEI-MA-EuA 1-4
PF EEI-MA-LE 1-4
WPF ME-MA-MG3 1-3
WPF BPT-MA-E 1-3

Optical Lithography: Technology, Physical Effects, and Modelling

Lecturer:

Andreas Erdmann

Details:

Vorlesung, 2 cred.h

Dates:

Fri, 10:15 - 11:45, Hans-Georg-Waeber-Saal

Fields of study:

WF EEI-MA ab 1
WF ME-DH ab 7
WF AOT-GL ab 1
PF NT-MA 1

Übung zu Optical Lithography

Lecturer:

Andreas Erdmann

Details:

Übung, 2 cred.h, Für Master AOT verpflichtende Zusatzveranstaltung, für andere Studiengänge freiwillig

Dates:

Mon, 14:15 - 15:45, Hans-Georg-Waeber-Saal, 0.157-115

Fields of study:

WF AOT-GL ab 1
PF NT-MA 1

Laboratory on Semiconductor and Device Metrology

Lecturer:

Tobias Dirnecker

Details:

Praktikum, 3 cred.h, certificate, ECTS: 2,5, nur Fachstudium, Voraussetzung: Vorlesungen Technologie integrierter Schaltungen und/oder Halbleiter- und Bauelementemesstechnik

Dates:

Das Praktikum findet ggf. als Blockpraktikum in der vorlesungsfreien Zeit statt. Termin nach Vereinbarung. Anmeldung über StudOn
Preliminary meeting: Friday, 21.10.2016, 15:00 - 15:30 Uhr, 0.111

Fields of study:

WPF EEI-BA-MIK 5-6
WPF EEI-MA-MIK 1-4
WPF ME-MA-P-EEI 1-4

Laboratory on Microelectronics [PrakMikro]

Lecturer:

Marina Scharin-Mehlmann

Details:

Praktikum, 3 cred.h, certificate, ECTS: 2,5, nur Fachstudium, Nur für Studenten im Bachelorstudium EEI mit Studienrichtung Mikroelektronik belegbar!!

Dates:

Preliminary meeting: Wednesday, 26.10.2016, 16:00 - 17:00 Uhr, BR 1.161

Fields of study:

WPF EEI-BA-MIK 5-6

Laboratory on Silicon Semiconductor Processing [Prak TeSi]

Lecturer:

Tobias Dirnecker

Details:

Praktikum, 3 cred.h, certificate, ECTS: 2,5, nur Fachstudium, Hinweis: Das Praktikum wird im Wintersemester 2016/17 nicht angeboten

Dates:

to be determined

Fields of study:

WPF ME-MA-P-EEI 1-4
WPF EEI-MA-MIK 1-4
WPF EEI-BA-MIK 5-6
WPF EEI-BA-LE 5-6
WPF EEI-MA-LE 1-4
WPF ME-MA ab 1

Reinraumpraktikum [RRPrak]

Lecturers:

Marina Scharin-Mehlmann, Christian David Matthus, Tobias Dirnecker

Details:

Praktikum, 6 cred.h, ECTS: 5, nur Fachstudium, Teilnahme an der Vorbesprechung am 20.10. ist verpflichtend! Anmeldung bei StudOn notwendig. Praktikumszeiten donnerstags werden nach Gruppeneinteilung bekanntgegeben.

Fields of study:

PF NT-BA 5

Seminar über Bachelorarbeiten [Sem BA]

Lecturer:

Tobias Dirnecker

Details:

Seminar, 2 cred.h, ECTS: 2,5

Dates:

Fri, 10:15 - 11:45, 0.111
to 21.4.2017

Seminar on Theses

Lecturer:

Christian David Matthus

Details:

Seminar, 2 cred.h

Dates:

Fri, 12:15 - 13:45, 0.111
(Termine werden bekannt gegeben und sind auf der Homepage des Lehrstuhls zu finden
to 21.4.2017

Technology of Semiconductor Manufacturing Equipment

Lecturers:

Lothar Pfitzner, Wolfgang Schmutz

Details:

Vorlesung, 2 cred.h, graded certificate, ECTS: 2,5, nur Fachstudium

Dates:

Vorbesprechung in Seminarsaal 1 am Fraunhofer IISB, Schottkystr. 10
Preliminary meeting: Wednesday, 19.10.2016, 16:00 - 16:30 Uhr

Fields of study:

WF EEI-MA ab 1
WF EEI-BA ab 5
WPF ME-BA-MG10 3-6
WPF ME-MA-MG10 1-3
WF WW-DH-EL 7-13

Technology of Integrated Circuits

Lecturer:

Lothar Frey

Details:

Vorlesung, 3 cred.h, ECTS: 5, nur Fachstudium, benoteter Schein möglich

Dates:

Fri, 12:15 - 14:30, Hans-Georg-Waeber-Saal

Fields of study:

WPF BPT-MA-E 1-3
PF EEI-BA-MIK 5-6
WPF EEI-BA-MIK 5-6
PF EEI-MA-MIK 1-4
WPF EEI-MA-MIK 1-4
PF INF-NF-EEI 5
WPF ME-BA-MG4 3-6
WPF ME-MA-MG4 1-3
WF NT-MA ab 1

Übung zu Technologie integrierter Schaltungen

Lecturer:

Christian David Matthus

Details:

Übung, 1 cred.h, nur Fachstudium, Veranstaltung nach Absprache evtl. 14-tägig

Dates:

Mon, 12:15 - 13:45, Hans-Georg-Waeber-Saal
Die Übung findet 14-tägig als 2-stündige Veranstaltung statt. Der Beginn der Übung wird in der Vorlesung bekannt gegeben,

Fields of study:

PF EEI-BA-MIK 5-6
WPF EEI-BA-MIK 5-6
PF EEI-MA-MIK 1-4
WPF EEI-MA-MIK 1-4
PF INF-NF-EEI ab 5
WPF ME-BA-MG4 3-6
WPF ME-MA-MG4 1-3
WF NT-MA ab 1
WPF BPT-MA-E 1-3

Technologie medizinischer Mikrosysteme

Lecturer:

Tobias Dirnecker

Details:

Vorlesung, 2 cred.h, ECTS: 2,5

Dates:

Tue, 16:15 - 17:45, 0.111

Fields of study:

WPF MT-MA-MEL ab 2

Virtuelle Vorlesung Halbleiterbauelemente (vhb)

Lecturers:

Heiner Ryssel, u.a.

Details:

Vorlesung, 4 cred.h, enthält 2 SWS Übung

Dates:

in Kooperation mit Prof. Schmidt-Landsiedel (TU München), Anmeldung bei der virtuellen Hochschule Bayern (vhb)

Virtuelle Vorlesung Technologie und Architektur mikroelektronischer Schaltungen (vhb)

Lecturer:

Heiner Ryssel

Details:

Vorlesung, 4 cred.h, enthält 2 SWS Übung

Dates:

Anmeldung bei der virtuellen Hochschule Bayern (vhb)

Reliability and Failure Analysis of Integrated Circuits

Lecturer:

Peter Pichler

Details:

Vorlesung, 2 cred.h, graded certificate, ECTS: 4

Dates:

Thu, 16:15 - 17:45, 0.111

Fields of study:

WPF BPT-MA-E 1-3
WPF EEI-BA-MIK 5-6
WPF EEI-MA-MIK 1-4

Keywords:

Zuverlässigkeit, Fehleranalyse, Integrierte Schaltungen, Ausfallmechanismen, Messverfahren zur Qualitätssicherung

Übung zu Zuverlässigkeit und Fehleranalyse integrierter Schaltungen

Lecturer:

Peter Pichler

Details:

Übung, 1 cred.h, graded certificate, nur Fachstudium

Dates:

Erster Termin der Übung wird in der Vorlesung bekannt gegeben.

Fields of study:

WPF BPT-MA-E 1-3
WPF EEI-BA-MIK 5-6
WPF EEI-MA-MIK 1-4