Lecture list

Anleitung zum wissenschaftlichen Arbeiten AWA; 4 cred.h; n.V.					Frey, L.
Seminar on Selected Topics of Silicon Semiconductor Technology SEM; 2 cred.h; ben. certificate; ECTS: 2,5; single appointment on 28.1.2015, 9:30 - 12:00, 0.111; Preliminary meeting: 7.10.2014, 14:15 - 15:00 Uhr, 0.111				WPF ME-DH-SEM ab 6 WPF EEI-BA-MIK 5-6 WPF EEI-MA-MIK 1-4 WPF ME-BA-SEM 3-6	Scharin, M.
Einführung in die gedruckte Elektronik [GedrElektr] VORL; 2 cred.h; certificate; ECTS: 2,5; Tue, 8:15 - 9:45, 0.111					Jank, M.
Excursion Semiconductor Processing EX; 1 cred.h; certificate; Zeit und Raum n.V.					Polster, S.
Forschungspraktikum am LEB SL; certificate; ECTS: 5; Nur für EEI Master; Weitere Informationen über StudOn unter: <link wird noch eingefügt>; Nach Vereinbarung; Nur für EEI Master; Weitere Informationen über StudOn unter: <Link wird noch eingefügt>					Dirnecker, T.
Semiconductor Devices VORL; 2 cred.h; ECTS: 5; Physikalische Grundlagen der Halbleiterbauelemente; Fri, 12:15 - 13:45, H9				PF EEI-BA 3 PF EEI-BA-S 2 PF BPT-BA-E 3 PF WING-BA-IKS 5	Frey, L.
Tutorium Halbleiterbauelemente TUT; 2 cred.h; Mon, 10:15 - 11:45, H9				PF EEI-BA 3 PF EEI-BA-S 2 PF BPT-BA-E 3 PF WING-BA-IKS 5	Albrecht, M.
Übungen zu Halbleiterbauelemente UE; 2 cred.h; Tue, 14:15 - 15:45, H8				PF EEI-BA 3 PF EEI-BA-S 2 PF WING-BA-IKS 5 PF BPT-BA-E 3	Albrecht, M.
Integrierte Schaltungen, Leistungsbauelemente und deren Anwendungen [SEM_POWERDEVICES] SEM; ben. certificate; ECTS: 2,5; Fri, 12:15 - 15:00, 0.111; single appointment on 16.1.2015, 9:00 - 11:15, 0.111; single appointment on 23.1.2015, 9:00 - 10:00, 0.111; starting 24.10.2014; Bitte beachten Sie den Termin zur Vorbesprechung am 07.10.; Preliminary meeting: 7.10.2014, 14:15 - 15:00 Uhr, 0.111					Dirnecker, T. u.a.
Colloquium on Semiconductor Technology and Metrology KO; 1 cred.h; Mon, 17:15 - 18:00, Hans-Georg-Waeber-Saal; Siehe Vortragsliste auf der Homepage des LEB.					Bauer, A.
Leistungselektronik im Fahrzeug und Antriebsstrang [LE KFZ] V/UE; 4 cred.h; ECTS: 5; Mon, 8:30 - 10:00, 14:00 - 15:30, Hans-Georg-Waeber-Saal; Vorlesung: Mo., 8:30-10:00 Uhr; Übung: Mo., 14:00 -15:30 Uhr; Preliminary meeting: 6.10.2014, 9:00 - 10:00 Uhr, Hans-Georg-Waeber-Saal				WPF ME-BA-MG3 3-6 WPF EEI-BA-MIK 5-6 WPF EEI-MA-MIK 1-3 WF EEI-BA ab 5 WF EEI-MA ab 1 WPF ME-MA-MG3 1-3	März, M.
Semiconductor Power Devices VORL; 2 cred.h; ben. certificate; ECTS: 5; Tue, 16:15 - 17:45, 0.111				WF ME-DH-VF11 5-10 WPF ME-BA-MG3 3-6 PF EEI-BA-LE 5-6 WPF EEI-BA-EuA 5-6 PF EEI-MA-LE 1-4 WPF EEI-MA-EuA 1-4 WPF ME-MA-MG3 1-3	Erlbacher, T.
Übung zu Leistungshalbleiterbauelemente UE; 2 cred.h; ben. certificate; Fri, 16:15 - 17:45, 0.111				WF ME-DH-VF11 5-10 WPF ME-BA-MG3 3-6 PF EEI-BA-LE 5-6 WPF EEI-BA-EuA 5-6 WPF EEI-MA-EuA 1-4 PF EEI-MA-LE 1-4 WPF ME-MA-MG3 1-3	Hürner, A.
Optical Lithography: Technology, Physical Effects, and Modelling VORL; 2 cred.h; Wed, 10:00 - 11:30, Hans-Georg-Waeber-Saal				WF EEI-MA ab 1 WF ME-DH ab 7 WF AOT-GL ab 1	Erdmann, A.
Übung zu Optical Lithography UE; 2 cred.h; Für Master AOT verpflichtende Zusatzveranstaltung, für andere Studiengänge freiwillig; Wed, 12:00 - 14:00, AOT-Bibliothek; On 29th Oct, 19th Nov and 10th Dec the course starts only at 13.00.				WF AOT-GL ab 1	Erdmann, A.
Praktikum Automobilelektronik [Prak AutoEl] PR; certificate; ECTS: 2,5; Preliminary meeting: 23.2.2015, 8:30 - 9:30 Uhr, 0.111					Dirnecker, T. u.a.
	block seminar 23.2.2015-27.2.2015 Mon, Tue, Wed, Thu, Fri	0:00 - 24:00	EL 4.11/12		Gardill, M. u.a.
	Weitere Informationen zu Ort und Raum werden über StudOn bekannt gegeben.				Gardill, M. u.a.
Laboratory on Semiconductor and Device Metrology PR; 3 cred.h; certificate; ECTS: 2,5; Voraussetzung: Vorlesungen Technologie integrierter Schaltungen und/oder Halbleiter- und Bauelementemesstechnik; Das Praktikum findet ggf. als Blockpraktikum in der vorlesungsfreien Zeit statt. Termin nach Vereinbarung. Anmeldung über StudOn; Preliminary meeting: 9.10.2014, 16:15 - 16:45 Uhr, BR 1.161				WPF EEI-BA-MIK 5-6 WPF EEI-MA-MIK 1-4 WPF ME-DH-PEEI 5-10	Krach, F.
Laboratory on Microelectronics [PrakMikro] PR; 3 cred.h; certificate; ECTS: 2,5; Nur für Studenten im Bachelorstudium EEI mit Studienrichtung Mikroelektronik belegbar!!; Preliminary meeting: 10.10.2014, 10:15 - 11:15 Uhr, BR 1.161				WPF EEI-BA-MIK 5-6	Krach, F.
	tbd.				Krach, F.
	Versuchstermine werden in der Vorbesprechung festgelegt				Krach, F.
	tbd.				Frickel, J. Glein, R.
	Versuchstermine werden in der Vorbesprechung festgelegt				Frickel, J. Glein, R.
	single appointment on 5.11.2014, single appointment on 19.11.2014, single appointment on 3.12.2014	16:00 - 20:00	EL 4.13		Schröter, S.
	Versuchstermine werden in der Vorbesprechung festgelegt				Schröter, S.
Laboratory on Silicon Semiconductor Processing PR; 3 cred.h; certificate; ECTS: 2,5; Vorlesung Technologie integrierter Schaltungen vorausgesetzt; Wed, 8:30 - 12:30, Raum n.V.; Wed, 8:30 - 10:00, 0.111; to 3.12.2014; !Hinweis: Das Praktikum wird im Wintersemester 2014/15 nicht angeboten!				WPF ME-DH-PEEI 5-10 WPF EEI-BA-MIK ab 5 WPF EEI-MA-MIK ab 1 WPF EEI-MA-LE ab 1 WPF EEI-BA-LE ab 5 WPF ME-MA-P 1-3	Dirnecker, T. Assistenten
Reinraumpraktikum [RRPrak] PR; 6 cred.h; ECTS: 5; Teilnahme an Vorbereitungstreffen verpflichtend! Anmeldung bei StudOn notwendig. Praktikumszeiten (08:00-12:00 oder 13:00-17:00) werden nach Gruppeneinteilung bekanntgegeben.				PF NT-BA 5	Scharin, M.
	tbd.				Scharin, M.
	Thu	8:00 - 9:00, 13:00 - 14:00	0.111		Polster, S.
	Thu	8:00 - 9:00, 13:00 - 14:00	BR 1.161		Scharin, M.
	Thu	9:00 - 13:00, 14:00 - 18:00	BR 1.161		Polster, S. Scharin, M.
	Findet u.a. im Reinraum des LEB statt. Gruppeneinteilung am Semesterbeginn.				Polster, S. Scharin, M.
Seminar über Bachelorarbeiten [Sem BA] SEM; 2 cred.h; ECTS: 2,5; Zeit und Raum n.V.					Dirnecker, T.
Seminar on Theses SEM; 2 cred.h; Fri, 10:00 - 12:15, 0.111; (Termine werden bekannt gegeben und sind auf der Homepage des Lehrstuhls zu finden					Albrecht, M.
Technology of Semiconductor Manufacturing Equipment VORL; 2 cred.h; ben. certificate; ECTS: 2,5; single appointment on 23.1.2015, 9:00 - 18:00, Hans-Georg-Waeber-Saal; single appointment on 24.1.2015, 9:00 - 14:00, Hans-Georg-Waeber-Saal; single appointment on 27.2.2015, 9:00 - 18:00, Hans-Georg-Waeber-Saal; single appointment on 28.2.2015, 9:00 - 14:00, Hans-Georg-Waeber-Saal; starting 22.10.2014; Vorbesprechung im Seminarsaal 2 (neben Hans-Georg-Waeber-Saal), IISB, Schottkystr. 10; 1. Stock; Zeit und Ort der Vorlesung: wird in der Vorbesprechung am 22.10. festgelegt.; Preliminary meeting: 22.10.2014, 15:15 - 16:00 Uhr				WF EEI-MA ab 1 WF EEI-BA ab 5 WPF ME-BA-MG10 3-6 WPF ME-MA-MG10 1-3 WF WW-DH-EL 7-13	Pfitzner, L. Schmutz, W.
Technology of Integrated Circuits VORL; 3 cred.h; ECTS: 5; benoteter Schein möglich; Tue, 14:15 - 16:30, Hans-Georg-Waeber-Saal				PF EEI-BA-MIK 5-6 WPF EEI-BA-MIK 5-6 PF EEI-MA-MIK 1-4 WPF EEI-MA-MIK 1-4 PF INF-NF-EEI 5 WPF ME-BA-MG4 3-6 WPF ME-MA-MG4 1-3 WF NT-MA ab 1	Frey, L.
Übung zu Technologie integrierter Schaltungen UE; 1 cred.h; Veranstaltung nach Absprache evtl. 14-tägig; Mon, 10:15 - 11:45, Hans-Georg-Waeber-Saal, 0.111; starting 13.10.2014; Die Übung findet 14-tägig als 2-stündige Veranstaltung statt. Der Beginn der Übung wird in der Vorlesung bekannt gegeben,				PF EEI-BA-MIK 5-6 WPF EEI-BA-MIK 5-6 PF EEI-MA-MIK 1-4 WPF EEI-MA-MIK 1-4 PF INF-NF-EEI ab 5 WPF ME-BA-MG4 3-6 WPF ME-MA-MG4 1-3 WF NT-MA ab 1	Polster, S.
Technologie medizinischer Mikrosysteme VORL; 2 cred.h; ECTS: 2,5; Fri, 8:15 - 9:45, 0.111, (außer Fri 7.11.2014, Fri 14.11.2014, Fri 21.11.2014, Fri 28.11.2014, Fri 5.12.2014, Fri 12.12.2014, Fri 19.12.2014, Fri 9.1.2015, Fri 16.1.2015, Fri 23.1.2015, Fri 30.1.2015); Tue, 8:30 - 10:00, BR 1.161				WPF MT-MA-MEL ab 2	Dirnecker, T.
Virtuelle Vorlesung Halbleiterbauelemente (vhb) VORL; 4 cred.h; enthält 2 SWS Übung; in Kooperation mit Prof. Schmidt-Landsiedel (TU München), Anmeldung bei der virtuellen Hochschule Bayern (vhb)					Ryssel, H. u.a.
Virtuelle Vorlesung Technologie und Architektur mikroelektronischer Schaltungen (vhb) VORL; 4 cred.h; enthält 2 SWS Übung; Anmeldung bei der virtuellen Hochschule Bayern (vhb)					Ryssel, H.
Reliability and Failure Analysis of Integrated Circuits VORL; 2 cred.h; ben. certificate; ECTS: 4; Wed, 14:15 - 15:45, 0.111				WPF EEI-BA-MIK 5-6 WPF EEI-MA-MIK 1-4	Pichler, P.
Übung zu Zuverlässigkeit und Fehleranalyse integrierter Schaltungen UE; 1 cred.h; ben. certificate; Wed, 16:00 - 16:45, 0.111				WPF EEI-BA-MIK 5-6 WPF EEI-MA-MIK 1-4	Pichler, P.



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Chair of Electron Devices (Prof. Dr. Frey)

Einführung in die gedruckte Elektronik [GedrElektr]

Integrierte Schaltungen, Leistungsbauelemente und deren Anwendungen [SEM_POWERDEVICES]

Leistungselektronik im Fahrzeug und Antriebsstrang [LE KFZ]

Praktikum Automobilelektronik [Prak AutoEl]

Laboratory on Microelectronics [PrakMikro]

Reinraumpraktikum [RRPrak]

Seminar über Bachelorarbeiten [Sem BA]