UnivIS
Information system of Friedrich-Alexander-University Erlangen-Nuremberg © Config eG 
FAU Logo
  Collection/class schedule    module collection Home  |  Legal Matters  |  Contact  |  Help    
search:      semester:   
 Lectures   Staff/
Facilities
   Room
directory
   Research-
report
   Publications   Internat.
contacts
   Thesis
offers
   Phone
book
 
 
 Layout
 
short

verbose

printable version

 
 
class schedule

 
 
 Extras
 
tag all

untag all

export to XML

 
 
 Also in UnivIS
 
course list

lecture directory

 
 
events calendar

job offers

furniture and equipment offers

 
 
Departments >> Faculty of Engineering >> Department of Electrical-Electronic-Communication Engineering >>

Chair of Electron Devices (Prof. Dr. Frey)

 

Anleitung zum wissenschaftlichen Arbeiten [AnWiAr]

AWA; 4 cred.h; Zeit und Raum n.V.
  Frey, L.  
 

Seminar on Selected Topics of Silicon Semiconductor Technology [SEM TeSi]

SEM; 2 cred.h; ben. certificate; ECTS: 2,5; Tue, 14:15 - 15:45, 0.111; Zeit und Ort flexibel in Absprache mit den Studenten möglich; Preliminary meeting: 14.4.2015, 13:00 - 14:00 Uhr, 0.111
WPF ME-DH-SEM ab 6
WPF EEI-BA-MIK 5-6
WPF EEI-MA-MIK 1-4
WPF ME-BA-SEM 3-6
Scharin, M.  
 

Forschungspraktikum am LEB [Prak FOR-LEB]

SL; certificate; ECTS: 5; Nur für EEI Master; Weitere Informationen über StudOn unter: http://www.studon.uni-erlangen.de/crs573783.html; Nach Vereinbarung; Nur für EEI Master; Weitere Informationen über StudOn unter: http://www.studon.uni-erlangen.de/crs573783.html
  Dirnecker, T.  
 

Semiconductor and Device Measurement Techniques [HBMT-V]

VORL; 3 cred.h; ben. certificate; ECTS: 5; Die Übung ist in die Vorlesungseinheiten integriert.; Tue, 8:15 - 11:45, Hans-Georg-Waeber-Saal
WPF WW-DH-MIC ab 6
WPF EEI-BA-MIK 5-6
WPF EEI-MA-MIK 1-4
WPF ME-DH-VF11 ab 6
WPF ME-BA-MG4 5-6
WPF ME-MA-MG4 1-3
WPF MWT-MA-MIC ab 1
WF MWT-BA 5-6
WPF NT-MA ab 1
Hürner, A.
Polster, S.
 
 

Übung zu Halbleiter- und Bauelementemesstechnik [HBMT-Ü]

UE; 1 cred.h; Die Übung ist in die Vorlesungseinheiten (Di. 08:15 - 11:45) integriert.; Termin der Übung ist vorläufig und wird in der ersten Semesterwoche in Absprache mit den Studenten festgelegt.
WPF WW-DH-MIC ab 5
WPF EEI-MA-MIK 1-4
WPF EEI-BA-MIK 5-6
WPF ME-DH-VF11 ab 8
WPF ME-BA-MG4 5-6
WPF ME-MA-MG4 1-3
WPF MWT-MA-MIC ab 1
WF MWT-BA ab 5
WPF NT-MA ab 1
Polster, S.
Hürner, A.
 
 

Semiconductor Devices [HBEL-V]

VORL; 2 cred.h; Anf; Tue, 8:15 - 9:45, H9; single appointment on 14.4.2015, 12:15 - 13:45, H12
WF MS-MA ab 1
PF ME-BA 4
PF MT-MA-MEL 1-2
WF C-MA ab 1
WF MWT-MA-TS ab 1
Frey, L.  
 

Tutorium Halbleiterbauelemente [HBEL-Tut]

TUT; 2 cred.h; Tue, 10:15 - 11:45, H12; 1. Termin nach Absprache ab Mitte des Semesters
PF ME-BA 4
PF MT-MA-MEL 1-2
Assistenten  
 

Übungen zu Halbleiterbauelemente [HBEL-Ü]

UE; 2 cred.h; Tue, 12:15 - 13:45, H12; starting 21.4.2015
PF ME-BA 4
PF MT-MA-MEL 1-2
WF MS-MA ab 1
WF C-MA ab 1
WF MWT-MA-TS ab 1
Albrecht, M.  
 

Integrierte Schaltungen, Leistungsbauelemente und deren Anwendungen [SEM_POWER]

SEM; ben. certificate; ECTS: 2,5; Fri, 13:15 - 14:45, 0.111; Preliminary meeting: 17.4.2015, 14:30 - 15:15 Uhr, 0.111
WF EEI-MA ab 1
WF EEI-BA ab 5
WF ME-BA-SEM 6
WF ME-MA-SEM 3
Dirnecker, T.
u.a.
 
 

Colloquium on Semiconductor Technology and Metrology [KO HLMT]

KO; 1 cred.h; Mon, 17:15 - 18:00, Hans-Georg-Waeber-Saal
  Bauer, A.  
 

Nano IV: Halbleiter [Nano IV]

VORL; 2 cred.h; ECTS: 2,5; Veranstaltung für Studiengang Nanotechnologie; Mon, 12:15 - 13:45, H5
PF NT-BA 4
PF NT-BA-S 3
Dirnecker, T.  
 

Nanoelectronics [NANOEL]

VORL; 2 cred.h; Fri, 12:15 - 13:45, Hans-Georg-Waeber-Saal
PF NT-MA 2
WPF EEI-BA-MIK 5-6
WPF EEI-MA-MIK 1-4
Frey, L.
Jank, M.
 
 

Praktikum Automobilelektronik [Prak AutoEl]

PR; certificate; ECTS: 2,5; Weitere Informationen zu Ort und Raum werden über StudOn bekannt gegeben, Die Teilnahme an der Vorbesprechung ist obligatorisch.; Preliminary meeting: 23.2.2015
  Dirnecker, T.
u.a.
 
 

Laboratory on Semiconductor and Device Metrology [Prak HLMT]

PR; 3 cred.h; certificate; ECTS: 2,5; Weitere Informationen im StudOn-Bereich: http://www.studon.uni-erlangen.de/crs1192549.html; Zeit n.V., BR 1.161; Durchführung ggf. als Blockpraktikum in den Semesterferien; Preliminary meeting: 17.4.2015, 14:30 - 15:00 Uhr, BR 1.161
WPF EEI-BA-MIK 5-6
WPF EEI-MA-MIK 1-4
WPF ME-MA-P 2-3
Krach, F.  
 

Laboratory on Mechatronic Systems [MechSysPrak]

PR; 6 cred.h; certificate; ECTS: 5
PF ME-BA 4 Dirnecker, T.  
     single appointment on 13.4.20159:00 - 12:00Hans-Georg-Waeber-Saal  Dirnecker, T. 
     single appointment on 8.7.20159:00 - 12:30Hans-Georg-Waeber-Saal  Dirnecker, T. 
 Beginn der Abschlussveranstaltung ist 09:00 Uhr
 

Laboratory on Microelectronics [PrakMikro]

PR; 3 cred.h; certificate; ECTS: 2,5; Preliminary meeting: 16.4.2015, 12:30 - 14:00 Uhr, 0.111
WPF EEI-BA-MIK 5-6 Scharin, M.  
     tbd.    Frickel, J. 
 P1 LIKE-Praktikumsraum
     tbd.    Rasim, F.R. 
     tbd.    Röber, J. 
     single appointment on 15.5.2015, single appointment on 22.5.2015, single appointment on 29.5.20159:00 - 10:00BR 1.161  Scharin, M. 
 

Laboratory on Silicon Semiconductor Processing [Prak TeSi]

PR; 3 cred.h; certificate; ECTS: 2,5; Preliminary meeting: 13.4.2015, 16:00 - 17:00 Uhr, 0.111
WPF ME-DH-PEEI ab 5
WPF EEI-MA-MIK 1-4
WPF EEI-BA-MIK 5-6
WPF EEI-BA-LE 5-6
WPF EEI-MA-LE 1-4
WPF ME-MA ab 1
  
     Wed8:15 - 11:450.111  Dirnecker, T. 
     Wed13:00 - 14:30BR 1.161  N.N. 
 

Process and Device Simulation [SimP&B-V]

VORL; 2 cred.h; ben. certificate; ECTS: 2,5; Zur Lehrveranstaltung werden freiwillige Übungen angeboten; Wed, 16:00 - 17:30, Raum n.V.; Vorlesung: Mi., 16:00-17:30 Uhr im Seminarraum 1 des IISB (Schottkystr.10); (Kontakt: juergen.lorenz@iisb.fraunhofer.de)
WF EEI-BA ab 5
WF EEI-MA-MIK ab 1
Lorenz, J.  
 

Übungen zu Prozess- und Bauelemente-Simulation [SimP&B-Ü]

UE; 2 cred.h; Die Übung stellt ein freiwilliges Zusatzangebot dar.; Wed, 10:15 - 11:45, BR 1.161; Übung und Vorbesprechung finden im Seminarraum 1 des IISB (Schottkystr.10), terminliche Verlegung der Vorlesung nach Absprache möglich (Kontakt: juergen.lorenz@iisb.fraunhofer.de)
WF EEI-BA ab 5
WF EEI-MA-MIK ab 1
Lorenz, J.  
 

Process Integration and Device Architecture [PiBa-V]

VORL; 2 cred.h; ben. certificate; ECTS: 5; Tue, 14:15 - 15:45, Hans-Georg-Waeber-Saal
WPF ME-BA-MG4 5-6
PF EEI-BA-MIK 5-6
PF EEI-MA-MIK 1-4
WPF ME-MA-MG4 1-3
WPF NT-MA ab 1
Frey, L.  
 

Excursion Semiconductor Processing [TeSi-EX]

EX; 1 cred.h; certificate; Wird in den Veranstaltungen des Lehrstuhls bekannt gegeben
  Assistenten  
 

Übungen zu Prozessintegration und Bauelementearchitekturen [PiBa-Ü]

UE; 2 cred.h; Fri, 8:15 - 9:45, 0.111, Hans-Georg-Waeber-Saal
WPF ME-BA-MG4 5-6
PF EEI-BA-MIK 5-6
PF EEI-MA-MIK 1-4
WPF ME-MA-MG4 1-3
WPF NT-MA ab 1
Matthus, Ch.D.  
 

Seminar über Bachelorarbeiten (Sem BA)

SEM; 2 cred.h; Fri, 10:30 - 13:00, 0.111, (außer Fri 11.9.2015); to 30.9.2015; Vortragstermine werden per Aushang auf den Lehrstuhlseiten bekannt gegeben
  Dirnecker, T.
Matthus, Ch.D.
u.a.
 
 

Seminar on Theses [SEM Stud MA]

SEM; 2 cred.h; Fri, 10:30 - 13:00, 0.111, (außer Fri 11.9.2015); single appointment on 13.3.2015, 11:15 - 14:30, 0.111; block seminar 18.7.2015-30.9.2015 Fri, 13:00 - 15:00, 0.111, (außer Fri 11.9.2015); to 30.9.2015; In Kooperation mit FhG IISB.
  Matthus, Ch.D.
Dirnecker, T.
u.a.
 
 

Virtuelle vhb-Vorlesung Halbleiterbauelemente [vhb-HBEL]

VORL; 4 cred.h; enthält 2 SWS Übung; in Kooperation mit Prof. Schmidt-Landsiedel (TU München), Anmeldung bei der virtuellen Hochschule Bayern (vhb)
  Ryssel, H.
u.a.
 
 

Virtuelle vhb-Vorlesung Technologie und Architektur mikroelektronischer Schaltungen [vhb-TAmS]

VORL; 4 cred.h; enthält 2 SWS Übung; Anmeldung bei der virtuellen Hochschule Bayern (vhb)
  Ryssel, H.  


UnivIS is a product of Config eG, Buckenhof