Lecture list

Anleitung zum wissenschaftlichen Arbeiten AWA; 4 cred.h; n.V.					Frey, L.
Seminar on Selected Topics of Silicon Semiconductor Technology SEM; 2 cred.h; ben. certificate; ECTS: 2,5; Tue, 14:00 - 16:15, 0.111; Preliminary meeting: 13.10.2015, 14:15 - 15:00 Uhr, 0.111				WPF ME-DH-SEM ab 6 WPF EEI-BA-MIK 5-6 WPF EEI-MA-MIK 1-4 WPF ME-BA-SEM 3-6	Scharin, M.
Einführung in die gedruckte Elektronik [GedrElektr] VORL; 2 cred.h; certificate; ECTS: 2,5; Tue, 8:15 - 9:45, 0.111					Jank, M.
Excursion Semiconductor Processing EX; 1 cred.h; certificate; Zeit und Raum n.V.					Polster, S.
Forschungspraktikum am LEB SL; certificate; ECTS: 5; Nur für EEI Master; Weitere Informationen über StudOn unter: <link wird noch eingefügt>; Nach Vereinbarung; Nur für EEI Master; Weitere Informationen über StudOn unter: <Link wird noch eingefügt>					Dirnecker, T.
Semiconductor Devices VORL; 2 cred.h; ECTS: 5; Physikalische Grundlagen der Halbleiterbauelemente; Tue, 10:15 - 11:45, H9; single appointment on 16.10.2015, single appointment on 23.10.2015, 10:15 - 11:45, H8				WPF MT-MA-MEL ab 1 PF EEI-BA 3 PF BPT-BA-E 3 PF WING-BA-IKS 5 WPF MT-BA-BV ab 5	Frey, L.
Tutorium Halbleiterbauelemente TUT; 2 cred.h; Tue, 18:15 - 19:45, H9; Erster Termin: 01.12.2015				PF EEI-BA 3 PF BPT-BA-E 3 PF WING-BA-IKS 5	Stolzke, T.
Übungen zu Halbleiterbauelemente UE; 2 cred.h; Fri, 10:15 - 11:45, H8				WPF MT-MA-MEL ab 1 PF EEI-BA 3 PF WING-BA-IKS 5 PF BPT-BA-E 3 WPF MT-BA ab 5	Stolzke, T.
Integrierte Schaltungen, Leistungsbauelemente und deren Anwendungen [SEM_POWERDEVICES] SEM; ben. certificate; ECTS: 2,5; Fri, 14:15 - 15:45, 0.111; Bitte beachten Sie den Termin zur Vorbesprechung; Preliminary meeting: 16.10.2015, 13:00 - 14:00 Uhr, 0.111					Dirnecker, T. u.a.
Colloquium on Semiconductor Technology and Metrology KO; 1 cred.h; Mon, 17:15 - 18:00, Hans-Georg-Waeber-Saal; Siehe Vortragsliste auf der Homepage des LEB.					Bauer, A.
Leistungselektronik im Fahrzeug und Antriebsstrang [LE KFZ] VORL; 4 cred.h; ECTS: 5; Die Veranstaltung beinhaltet Vorlesungs- und Übungseinheiten; Mon, 8:15 - 9:45, 10:15 - 11:45, Hans-Georg-Waeber-Saal; Vorlesung: Mo., 8:15-09:45 Uhr; Übung: Mo., 10:15 -11:45 Uhr				WPF BPT-MA-E 1-3 WPF ME-BA-MG3 3-6 WPF EEI-BA-MIK 5-6 WPF EEI-MA-MIK 1-3 WF EEI-BA ab 5 WF EEI-MA ab 1 WPF ME-MA-MG3 1-3	März, M.
Semiconductor Power Devices VORL; 2 cred.h; ben. certificate; ECTS: 5; Thu, 16:00 - 17:30, 0.111				WF ME-DH-VF11 5-10 WPF ME-BA-MG3 3-6 PF EEI-BA-LE 5-6 WPF EEI-BA-EuA 5-6 PF EEI-MA-LE 1-4 WPF EEI-MA-EuA 1-4 WPF ME-MA-MG3 1-3 WPF BPT-MA-E 1-3	Erlbacher, T.
Übung zu Leistungshalbleiterbauelemente UE; 2 cred.h; Erster Übungstermin in der 2. Vorlesungswoche; Wed, 12:15 - 13:45, 0.111; starting 21.10.2015				WF ME-DH-VF11 5-10 WPF ME-BA-MG3 3-6 PF EEI-BA-LE 5-6 WPF EEI-BA-EuA 5-6 WPF EEI-MA-EuA 1-4 PF EEI-MA-LE 1-4 WPF ME-MA-MG3 1-3 WPF BPT-MA-E 1-3	Albrecht, M.
Optical Lithography: Technology, Physical Effects, and Modelling VORL; 2 cred.h; Thu, 10:15 - 11:45, Hans-Georg-Waeber-Saal				WF EEI-MA ab 1 WF ME-DH ab 7 WF AOT-GL ab 1 PF NT-MA 1	Erdmann, A.
Übung zu Optical Lithography UE; 2 cred.h; Für Master AOT verpflichtende Zusatzveranstaltung, für andere Studiengänge freiwillig; Thu, 12:15 - 13:45, Hans-Georg-Waeber-Saal, 0.157-115; On 29th Oct, 19th Nov and 10th Dec the course starts only at 13.00.				WF AOT-GL ab 1 PF NT-MA 1	Erdmann, A.
Laboratory on Semiconductor and Device Metrology PR; 3 cred.h; certificate; ECTS: 2,5; Voraussetzung: Vorlesungen Technologie integrierter Schaltungen und/oder Halbleiter- und Bauelementemesstechnik; Das Praktikum findet ggf. als Blockpraktikum in der vorlesungsfreien Zeit statt. Termin nach Vereinbarung. Anmeldung über StudOn; Preliminary meeting: 23.10.2015, 14:00 - 14:30 Uhr, BR 1.161				WPF EEI-BA-MIK 5-6 WPF EEI-MA-MIK 1-4 WPF ME-DH-PEEI 5-10	Dirnecker, T. Krach, F.
Laboratory on Microelectronics [PrakMikro] PR; 3 cred.h; certificate; ECTS: 2,5; Nur für Studenten im Bachelorstudium EEI mit Studienrichtung Mikroelektronik belegbar!!; Preliminary meeting: 13.10.2015, 10:00 - 11:30 Uhr, 0.111				WPF EEI-BA-MIK 5-6	Scharin, M.
	tbd.				Krach, F.
	Versuchstermine werden in der Vorbesprechung festgelegt				Krach, F.
	tbd.				Röber, J.
	Versuchstermine werden in der Vorbesprechung festgelegt				Röber, J.
	tbd.				Frickel, J. Glein, R.
	Versuchstermine werden in der Vorbesprechung festgelegt				Frickel, J. Glein, R.
Laboratory on Silicon Semiconductor Processing [Prak TeSi] PR; 3 cred.h; certificate; ECTS: 2,5; Hinweis: Das Praktikum wird im Wintersemester 2015/16 nicht angeboten; Zeit und Raum n.V.				WPF ME-DH-PEEI ab 5 WPF EEI-MA-MIK 1-4 WPF EEI-BA-MIK 5-6 WPF EEI-BA-LE 5-6 WPF EEI-MA-LE 1-4 WPF ME-MA ab 1	Dirnecker, T.
Reinraumpraktikum [RRPrak] PR; 6 cred.h; ECTS: 5; Teilnahme an der Vorbesprechung am 16.10. ist verpflichtend! Anmeldung bei StudOn notwendig. Praktikumszeiten donnerstags werden nach Gruppeneinteilung bekanntgegeben.; Preliminary meeting: 16.10.2015, 14:00 - 15:30 Uhr, Hans-Georg-Waeber-Saal				PF NT-BA 5	Scharin, M. Matthus, Ch.D. Dirnecker, T.
	Thu	8:00 - 9:00, 13:00 - 14:00	0.111		Matthus, Ch.D.
	Thu	8:00 - 9:00, 13:00 - 14:00	BR 1.161		Scharin, M.
	Thu Thu	9:00 - 13:00 14:00 - 18:00	BR 1.161, 0.111 BR 1.161		Matthus, Ch.D. Scharin, M.
	Findet u.a. im Reinraum des LEB statt. Gruppeneinteilung am Semesterbeginn.				Matthus, Ch.D. Scharin, M.
Seminar über Bachelorarbeiten [Sem BA] SEM; 2 cred.h; ECTS: 2,5; Fri, 10:15 - 11:45, 0.111					Dirnecker, T.
Seminar on Theses SEM; 2 cred.h; Fri, 12:15 - 13:45, 0.111; (Termine werden bekannt gegeben und sind auf der Homepage des Lehrstuhls zu finden					Matthus, Ch.D.
Technology of Semiconductor Manufacturing Equipment VORL; 2 cred.h; ben. certificate; ECTS: 2,5; Tue, 10:15 - 11:45, Raum n.V., (außer Tue 10.11.2015, Tue 17.11.2015, Tue 1.12.2015, Tue 8.12.2015, Tue 15.12.2015); Die Vorlesung findet im Seminarraum 2 am Fraunhofer IISB (Schottkystr. 10, 1. OG) statt. Termin am 22.12.: Reinraumbesichtigung; Preliminary meeting: 14.10.2015, 15:15 - 16:00 Uhr				WF EEI-MA ab 1 WF EEI-BA ab 5 WPF ME-BA-MG10 3-6 WPF ME-MA-MG10 1-3 WF WW-DH-EL 7-13	Pfitzner, L. Schmutz, W.
Technology of Integrated Circuits VORL; 3 cred.h; ECTS: 5; benoteter Schein möglich; Tue, 16:00 - 18:15, Hans-Georg-Waeber-Saal; single appointment on 3.11.2015, single appointment on 17.11.2015, 16:00 - 18:30, H6				WPF BPT-MA-E 1-3 PF EEI-BA-MIK 5-6 WPF EEI-BA-MIK 5-6 PF EEI-MA-MIK 1-4 WPF EEI-MA-MIK 1-4 PF INF-NF-EEI 5 WPF ME-BA-MG4 3-6 WPF ME-MA-MG4 1-3 WF NT-MA ab 1	Frey, L.
Übung zu Technologie integrierter Schaltungen UE; 1 cred.h; Veranstaltung nach Absprache evtl. 14-tägig; Mon, 16:15 - 17:45, H6, 0.111; Die Übung findet 14-tägig als 2-stündige Veranstaltung statt. Der Beginn der Übung wird in der Vorlesung bekannt gegeben,				PF EEI-BA-MIK 5-6 WPF EEI-BA-MIK 5-6 PF EEI-MA-MIK 1-4 WPF EEI-MA-MIK 1-4 PF INF-NF-EEI ab 5 WPF ME-BA-MG4 3-6 WPF ME-MA-MG4 1-3 WF NT-MA ab 1 WPF BPT-MA-E 1-3	Matthus, Ch.D.
Technologie medizinischer Mikrosysteme VORL; 2 cred.h; ECTS: 2,5; Mon, 14:15 - 15:45, 0.111				WPF MT-MA-MEL ab 2	Dirnecker, T.
Virtuelle Vorlesung Halbleiterbauelemente (vhb) VORL; 4 cred.h; enthält 2 SWS Übung; in Kooperation mit Prof. Schmidt-Landsiedel (TU München), Anmeldung bei der virtuellen Hochschule Bayern (vhb)					Ryssel, H. u.a.
Virtuelle Vorlesung Technologie und Architektur mikroelektronischer Schaltungen (vhb) VORL; 4 cred.h; enthält 2 SWS Übung; Anmeldung bei der virtuellen Hochschule Bayern (vhb)					Ryssel, H.
Reliability and Failure Analysis of Integrated Circuits VORL; 2 cred.h; ben. certificate; ECTS: 4; Wed, 16:15 - 17:45, 0.111				WPF BPT-MA-E 1-3 WPF EEI-BA-MIK 5-6 WPF EEI-MA-MIK 1-4	Pichler, P.
Übung zu Zuverlässigkeit und Fehleranalyse integrierter Schaltungen UE; 1 cred.h; ben. certificate; Erster Termin der Übung wird in der Vorlesung bekannt gegeben.				WPF BPT-MA-E 1-3 WPF EEI-BA-MIK 5-6 WPF EEI-MA-MIK 1-4	Pichler, P.



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Chair of Electron Devices (Prof. Dr. Frey)

Einführung in die gedruckte Elektronik [GedrElektr]

Integrierte Schaltungen, Leistungsbauelemente und deren Anwendungen [SEM_POWERDEVICES]

Leistungselektronik im Fahrzeug und Antriebsstrang [LE KFZ]

Laboratory on Microelectronics [PrakMikro]

Laboratory on Silicon Semiconductor Processing [Prak TeSi]

Reinraumpraktikum [RRPrak]

Seminar über Bachelorarbeiten [Sem BA]