UnivIS
Informationssystem der Friedrich-Alexander-Universität Erlangen-Nürnberg © Config eG 
FAU Logo
  Sammlung/Stundenplan    Modulbelegung Home  |  Rechtliches  |  Kontakt  |  Hilfe    
Suche:      Semester:   
 
 Darstellung
 
Druckansicht

 
 
Modulbeschreibung (PDF)

 
 
 Außerdem im UnivIS
 
Vorlesungs- und Modulverzeichnis nach Studiengängen

Vorlesungsverzeichnis

 
 
Veranstaltungskalender

Stellenangebote

Möbel-/Rechnerbörse

 
 

Mikroskopie und Nanocharakterisierung von Werkstoffen (MWT-M2/M3-Mik&NanoChar)12.5 ECTS
(englische Bezeichnung: Microscopy and Nanocharacterization of Materials)
(Prüfungsordnungsmodul: Mikroskopie und Nanocharakterisierung von Werkstoffen)

Modulverantwortliche/r: Erdmann Spiecker
Lehrende: Erdmann Spiecker, Benoit Merle, Stefanie Fladischer


Startsemester: WS 2015/2016Dauer: 2 SemesterTurnus: jährlich (WS)
Präsenzzeit: 120 Std.Eigenstudium: 255 Std.Sprache: Deutsch

Lehrveranstaltungen:


Inhalt:

Elektronenmikroskopie I:

  • Beschreibung schneller Elektronen

  • Grundlagen der Elektronenoptik

  • Komponenten eines TEM

  • Wechselwirkung Elektron-Materie

  • Elektronenbeugung

  • Abbildungsmodi (HF, DF, HRTEM)

  • Kontrastentstehung im TEM

  • Charakterisierung von Kristalldefekten (Versetzungen, SF,…)

  • Anwendungsbeispiele

Elektronenmikroskopie II:

  • Konvergente Elektronenstrahlbeugung (CBED)

  • Hochaufgelöste Transmissionselektronen-mikroskopie (HRTEM)

  • Rastertransmissionselektronenmikroskopie (STEM): Z-Kontrast

  • Elektronentomographie: 3D-Analysen (ET)

  • Energiedispersive Röntgenanalyse (EDX): Chemische Analyse auf Nanoskala

  • Elektronen-Energie-Verlust-Spektroskopie (EELS) und Energiegefilterte TEM (EFTEM): Chemische Analyse und Untersuchung von Bindungs-eigenschaften

  • Anwendungsbeispiele

Rasterelektronenmikroskopie:

  • Komponenten eines REM (Quelle, Elektronenoptik, Detektoren), Elektronenstrahl (Aberration – Strahldurchmesser, Konvergenzwinkel - Schärfentiefe)

  • Elastische/inelastische Wechselwirkung Elektron-Probe, Wechselwirkungsvolumen, Sekundär-/Rückstreuelektronenerzeugung

  • Kontrastmechanismen mit Bezug auf die verschiedenen Detektorsysteme (Abhändigkeit von geräte-/materialspezifischen Parametern)

  • Elektronenbeugung + spezielle Methoden

  • Rastertransmissionsmikroskopie (STEM)

  • Quantitative Röntgenspektroskopie

  • Präparationsspezifische Probleme

  • Anwendungsbeispiele

Mikro/ Nanomechanik:

  • Größeneffekte in der Plastizität: Härtungsmechanismen, Dehngradientenplastizität, Eindruckgrößeneffekte

  • Mechanische Eigenschaften dünner Schichten, Pillars und Whiskers

  • Testverfahren für dünne Schichten: Stoney Gleichung, Bulge Test

  • Grenzflächenhaftfestigkeit dünner Schichten

  • Elast. Kontaktmechanik: Adhäsion, Hertz, Sneddon

  • Plast. Kontaktmechanik: Constraint Faktor

  • Nanoindentierung: Oliver/Pharr Methode, dynamische Indentierung

Lernziele und Kompetenzen:

Folgende Lernziele werden angestrebt:

  • Vertieftes Erlernen mikroskopischer Verfahren zur Untersuchung von Materialien auf kleinen Längenskalen

  • Vertieftes Erlernen der vielfältigen Verfahren der Elektronenmikroskopie und deren Anwendung in den Material- und Nanowissenschaften

  • Erwerben fundierter Kenntnisse über den Einsatz von Rastersondenverfahren

  • Erlernen der Methoden der Nanoindentierung und deren Einsatz zur lokalen Untersuchung von mechanischen Materialeigenschaften

  • Erlernen der Einsatzmöglichkeiten hochaufgelöster mikroskopischer Verfahren zur Untersuchung von Nanomaterialien

  • Vertiefung der Zusammenhänge zwischen der chemischen Zusammensetzung, der Struktur und den Eigenschaften von Werkstoffen

  • erwerben fundierter Kenntnisse über die Grundlagen zum Aufbau der verschiedenen Werkstoffklassen,

  • Vertiefung der erlernten Inhalte durch Übungen und praktische Kurse an den Mikroskopen (REM, TEM, AFM)

  • Erweiterung des Wissenshorizonts durch angewandte Beispiele und Übungen

Literatur:

  • Vorlesungsskripte
  • Williams & Carter, Transmission Electron Microscopy, Springer Verlag

  • Reimer & Kohl, Transmission Electron Microscopy, Springer Verlag

  • Fultz & Howe

  • Reimer, Scanning Electron Microscopy, Springer Verlag

  • Goodhew, Humphreys and Beanland, Electron Microscopy and Analysis, Taylor & Francis

  • P. Haasen, Physikalische Metallkunde, Springer Verlag

  • G. Gottstein, Physikalische Grundlagen der Materialkunde, Spinger Verlag

  • Weitere Fachliteratur

Bemerkung:

Vergleiche bei den einzelnen Veranstaltungen.

Organisatorisches:

Vergleiche bei den einzelnen Veranstaltungen.


Verwendbarkeit des Moduls / Einpassung in den Musterstudienplan:

  1. Materialwissenschaft und Werkstofftechnik (Master of Science)
    (Po-Vers. 2010 | Module M1 - M3 (gegliedert nach Kernfächern) | Kernfach Allgemeine Werkstoffeigenschaften | 2. Werkstoffwissenschaftliches Modul (M2) | Mikroskopie und Nanocharakterisierung von Werkstoffen)
  2. Materialwissenschaft und Werkstofftechnik (Master of Science)
    (Po-Vers. 2010 | Module M1 - M3 (gegliedert nach Kernfächern) | Kernfach Werkstoffkunde und Technologie der Metalle | 2. Werkstoffwissenschaftliches Modul (M2) | Mikroskopie und Nanocharakterisierung von Werkstoffen)
  3. Materialwissenschaft und Werkstofftechnik (Master of Science)
    (Po-Vers. 2010 | Module M1 - M3 (gegliedert nach Kernfächern) | Kernfach Werkstoffkunde und Technologie der Metalle | 3. Werkstoffwissenschaftliches Modul (M3) | Mikroskopie und Nanocharakterisierung von Werkstoffen)
  4. Materialwissenschaft und Werkstofftechnik (Master of Science)
    (Po-Vers. 2010 | Module M1 - M3 (gegliedert nach Kernfächern) | Kernfach Glas und Keramik | 2. Werkstoffwissenschaftliches Modul (M2) | Mikroskopie und Nanocharakterisierung von Werkstoffen)
  5. Materialwissenschaft und Werkstofftechnik (Master of Science)
    (Po-Vers. 2010 | Module M1 - M3 (gegliedert nach Kernfächern) | Kernfach Glas und Keramik | 3. Werkstoffwissenschaftliches Modul (M3) | Mikroskopie und Nanocharakterisierung von Werkstoffen)
  6. Materialwissenschaft und Werkstofftechnik (Master of Science)
    (Po-Vers. 2010 | Module M1 - M3 (gegliedert nach Kernfächern) | Kernfach Korrosion und Oberflächentechnik | 2. Werkstoffwissenschaftliches Modul (M2) | Mikroskopie und Nanocharakterisierung von Werkstoffen)
  7. Materialwissenschaft und Werkstofftechnik (Master of Science)
    (Po-Vers. 2010 | Module M1 - M3 (gegliedert nach Kernfächern) | Kernfach Korrosion und Oberflächentechnik | 3. Werkstoffwissenschaftliches Modul (M3) | Mikroskopie und Nanocharakterisierung von Werkstoffen)
  8. Materialwissenschaft und Werkstofftechnik (Master of Science)
    (Po-Vers. 2010 | Module M1 - M3 (gegliedert nach Kernfächern) | Kernfach Polymerwerkstoffe | 2. Werkstoffwissenschaftliches Modul (M2) | Mikroskopie und Nanocharakterisierung von Werkstoffen)
  9. Materialwissenschaft und Werkstofftechnik (Master of Science)
    (Po-Vers. 2010 | Module M1 - M3 (gegliedert nach Kernfächern) | Kernfach Polymerwerkstoffe | 3. Werkstoffwissenschaftliches Modul (M3) | Mikroskopie und Nanocharakterisierung von Werkstoffen)
  10. Materialwissenschaft und Werkstofftechnik (Master of Science)
    (Po-Vers. 2010 | Module M1 - M3 (gegliedert nach Kernfächern) | Kernfach Werkstoffe in der Elektrotechnik | 2. Werkstoffwissenschaftliches Modul (M2) | Mikroskopie und Nanocharakterisierung von Werkstoffen)
  11. Materialwissenschaft und Werkstofftechnik (Master of Science)
    (Po-Vers. 2010 | Module M1 - M3 (gegliedert nach Kernfächern) | Kernfach Werkstoffe in der Elektrotechnik | 3. Werkstoffwissenschaftliches Modul (M3) | Mikroskopie und Nanocharakterisierung von Werkstoffen)
  12. Materialwissenschaft und Werkstofftechnik (Master of Science)
    (Po-Vers. 2010 | Module M1 - M3 (gegliedert nach Kernfächern) | Kernfach Werkstoffe in der Medizin | 2. Werkstoffwissenschaftliches Modul (M2) | Mikroskopie und Nanocharakterisierung von Werkstoffen)
  13. Materialwissenschaft und Werkstofftechnik (Master of Science)
    (Po-Vers. 2010 | Module M1 - M3 (gegliedert nach Kernfächern) | Kernfach Werkstoffe in der Medizin | 3. Werkstoffwissenschaftliches Modul (M3) | Mikroskopie und Nanocharakterisierung von Werkstoffen)
  14. Materialwissenschaft und Werkstofftechnik (Master of Science)
    (Po-Vers. 2010 | Module M1 - M3 (gegliedert nach Kernfächern) | Kernfach Werkstoffsimulation | 2. Werkstoffwissenschaftliches Modul (M2) | Mikroskopie und Nanocharakterisierung von Werkstoffen)
  15. Materialwissenschaft und Werkstofftechnik (Master of Science)
    (Po-Vers. 2010 | Module M1 - M3 (gegliedert nach Kernfächern) | Kernfach Werkstoffsimulation | 3. Werkstoffwissenschaftliches Modul (M3) | Mikroskopie und Nanocharakterisierung von Werkstoffen)

Studien-/Prüfungsleistungen:

Modulprüfung "Mikroskopie und Nanocharakterisierung von Werkstoffen" (MWT-M2/M3-Mik&NanoChar) (Prüfungsnummer: 64001)
Prüfungsleistung, mündliche Prüfung, Dauer (in Minuten): 20, benotet
Anteil an der Berechnung der Modulnote: 100.0 %

Erstablegung: SS 2016, 1. Wdh.: WS 2016/2017
1. Prüfer: Erdmann Spiecker

UnivIS ist ein Produkt der Config eG, Buckenhof