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Crystal Growth NT (CG NT)15 ECTS
(englische Bezeichnung: Crystal Growth NT)
(Prüfungsordnungsmodul: Werkstoffwissenschaftliches Wahlmodul I und II)

Modulverantwortliche/r: Peter Wellmann
Lehrende: Peter Wellmann, Jochen Friedrich, Stefan Kasperl


Start semester: WS 2014/2015Duration: 2 semesterCycle: halbjährlich (WS+SS)
Präsenzzeit: 165 Std.Eigenstudium: 285 Std.Language: Deutsch und Englisch

Lectures:


Empfohlene Voraussetzungen:

Bachelor in Materialwissenschaften, Nanotechnologie, Energietechnik, Elektrotechnik, Physik, Chemie oder in einem vergleichbaren Studiengang

Inhalt:

Grundlagen des Kristallwachstums und der Halbleitertechnologie

  • Grundlagen des Kristallwachstums

  • Grundlagen der Silizium Halbleitertechnologie (Oxidation, Dotierung mittels Diffusion und Ionenimplantation, Ätzen, Metallisierung, Lithografie, Packaging)

Elektronische Bauelemente und Materialfragen

  • Korrelation von Bauelementfunktion (Bipola-Diode, Bipolar-Transistor, Schottky-Diode, Feldeffekt-Transistor, Leucht- und Laserdiode) Mit Materialeigenschaften

  • Grundlagen der Epitaxie

Kristallwachstum - Ausgewählte Kapitel

  • Modellierung in der Kristallzüchtung

  • Ausgewählte Kapitel

  • Kristallwachstum für solare Anwendungen

Praktikum

  • Czochralski Kristallwachstum von InSb

  • Modellierung in der Kristallzüchtung

  • Halbleitercharakterisierung

Lernziele und Kompetenzen:

  • Die Studierenden erwerben fundierte Kenntnisse über Materialeigenschaften und deren Anwendung in elektronischen Bauelementen.
  • Kennenlernen experimenteller Techniken in den Werkstoffwissenschaften, Verfassen von technischen Berichten, Teamarbeit

Literatur:

Wird in den Lehrveranstaltungen angegeben.


Verwendbarkeit des Moduls / Einpassung in den Musterstudienplan:

  1. Nanotechnologie (Master of Science)
    (Po-Vers. 2011 | Wahlmodule (Module M5 bis M8) | Werkstoffwissenschaftliches Wahlmodul I und II)

Studien-/Prüfungsleistungen:

Crystal Growth NT (Prüfungsnummer: 688067)

(englischer Titel: Crystal Growth NT)

Prüfungsleistung, mündliche Prüfung, Dauer (in Minuten): 30, benotet
Anteil an der Berechnung der Modulnote: 100.0 %

Erstablegung: WS 2014/2015, 1. Wdh.: SS 2015
1. Prüfer: Peter Wellmann

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