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  Test Integrierter Schaltungen (TEST)

Lecturer
Prof. Dr.-Ing. Klaus Helmreich

Details
Vorlesung
2 cred.h, ECTS studies, ECTS credits: 2,5
nur Fachstudium, Sprache Deutsch
Time and place: Tue 12:15 - 13:45, 0.111

Fields of study
WPF ME-BA-MG9 5-6
WPF ME-BA-MG10 5-6
WF EEI-DH-MIK 6-10
WF EEI-BA-MIK 4-6
WF EEI-MA-MIK 1-3
WPF IuK-MA-ES-EEI 1-3
WPF IuK-MA-REA-EEI 1-3
WPF ME-MA-MG9 1-3
WPF ME-MA-MG10 1-3

Contents
1. Test in der Halbleiterfertigung: Einordnung innerhalb der Halbleiterindustrie, wirtschaftliche Bedeutung im Vergleich zu Entwurf und Fertigung.
2. Messen und Testen: Meßunsicherheit, Fehlerschranken, statistische Schätzung, Umgang mit Meßunsicherheit, Entscheidung aufgrund von Meßdaten, Irrtumsrisiken, Interpretation von Testergebnissen.
3. Fehler und Tests: Klassifizierung von Fehlern, Test im Herstellungsprozess und im Produktzyklus.
4. Testkosten und Prüfstrategie: Zehnerregel, Testkomplexitätsmaße, Abwägung Testkosten/Testgüte, Summenausbeute, Fehlerüberdeckung, Ausfallrate.
5. Testansätze und Testgenerierung: Notwendigkeit von Produktionstest und Zuverlässigkeitstest, Simulation und Test, Parametertest, Funktionstest, Strukturtest, Fehlermodelle, Testmustererzeugung.
6. Testsysteme: Entwicklungsgeschichte, Testsystemtypen, Anforderungen und Leistungsmerkmale, Komponenten und Funktionsweise.
7. Testbeschreibung: Prüfprogramm und Prüfmuster, Zeitsteuerung, Systemarchitekturen, Speicherbedarf, Signalformate, Sonderfunktionen.
8. Mixed-Signal Test: Instrumentierung, digitale Signalverarbeitung, kohärentes Testen, Beispiel: Tests an einem A/D-Umsetzer, Histogrammmethoden, Auswertung im Frequenzbereich.

ECTS information:
Title:
Test of Integrated Circuits

Credits: 2,5

Additional information
Keywords: Test, integrierte Schaltungen, Fertigung, Mixed-Signal
Expected participants: 25

Verwendung in folgenden UnivIS-Modulen
Startsemester SS 2012:
Test Integrierter Schaltungen (TEST)
Test Integrierter Schaltungen (TEST)

Department: Professur für Rechnergestützten Schaltungsentwurf (Prof. Dr. Helmreich)
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