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Seminar zu Fragen des Entwurfs Sicherheitskritischer Schaltungen (SemFESS)2.5 ECTS (englische Bezeichnung: Seminar on Selected Problems of the Design of Integrated Circuits)
(Prüfungsordnungsmodul: Wahlmodulbereich aus der FAU)
Modulverantwortliche/r: Sebastian M. Sattler Lehrende:
Sebastian M. Sattler
Start semester: |
SS 2018 | Duration: |
1 semester | Cycle: |
halbjährlich (WS+SS) |
Präsenzzeit: |
15 Std. | Eigenstudium: |
60 Std. | Language: |
Deutsch |
Lectures:
Die allgemeine Modulbeschreibung des Prüfungsordnungsmoduls Wahlmodulbereich aus der FAU finden Sie hier. Inhalt:
Inhalt des Seminars sind wissenschaftlich und technologisch
aktuelle Themen der Lehr- und Forschungsgebiete des LZS:
Alle Ebenen des Entwurfs Sicherheitskritischer Schaltungen oder Systeme
Modellierung, Simulation und Test Sicherheitskritischer Schaltungen
Algorithmen, Methoden und Werkzeuge für den rechnergestützten Entwurf
Anwendungen von Sicherheitskritischen Schaltungen und Mikrosystemen
Organisatorisches:
Entwurf Integrierter Schaltungen I und/oder II
Weitere Informationen:
www: http://www.lzs.eei.uni-erlangen.de/seminare/semfess
Verwendbarkeit des Moduls / Einpassung in den Musterstudienplan:
- Elektrotechnik, Elektronik und Informationstechnik (Master of Science)
(Po-Vers. 2015s | TechFak | Elektrotechnik, Elektronik und Informationstechnik (Master of Science) | Masterprüfung | Wahlmodulbereich aus der FAU)
Studien-/Prüfungsleistungen:
Seminar zu Fragen des Entwurfs Sicherheitskritischer Schaltungen (Prüfungsnummer: 366009)
(englischer Titel: Seminar on Selected Problems of the Design of Integrated Circuits)
- Prüfungsleistung, Seminarleistung, benotet, 2.5 ECTS
- Anteil an der Berechnung der Modulnote: 100.0 %
- weitere Erläuterungen:
- Erstablegung: SS 2018, 1. Wdh.: WS 2018/2019, 2. Wdh.: keine Wiederholung
1. Prüfer: | Sebastian M. Sattler |
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