Seminar Entwurf und Zuverlässigkeit Integrierter Schaltungen und Systeme (SemEuZ)2.5 ECTS
(englische Bezeichnung: Seminar Design and Reliability of Integrated Circuits and Systems)
(Prüfungsordnungsmodul: Hauptseminar und Laborpraktikum Mikroelektronik)

Lectures:

• • Seminar Entwurf und Zuverlässigkeit Integrierter Schaltungen und Systeme
    (Hauptseminar, 2 SWS, Sebastian M. Sattler, Thu, 14:15 - 15:45, SR 01.030)

Empfohlene Voraussetzungen:

Besuch von Entwurf Integrierter Schaltungen I und/oder II

It is recommended to finish the following modules before starting this module:

Entwurf Integrierter Schaltungen II (SS 2018)
Entwurf Integrierter Schaltungen I (WS 2017/2018)

Inhalt:

Inhalt des Seminars sind wissenschaftlich und technologisch aktuelle Themen der Lehr- und Forschungsgebiete des LZS:

• Alle Ebenen des Entwurfs Integrierter Schaltungen oder Systeme

• Modellierung, Simulation und Test Integrierter Schaltungen

• Algorithmen, Methoden und Werkzeuge für den rechnergestützten Entwurf

• Anwendungen von Integrierten Schaltungen und Mikrosystemen

Lernziele und Kompetenzen:

Fachkompetenz
Evaluieren (Beurteilen)

• in der Lage sein, ausgewählte Themen aus dem Themenfeld Mikroelektronik nach entsprechender Literaturrecherche eigenständig zu vertiefen, die Sachverhalte zu beurteilen und diese in einem Vortrag zu präsentieren
  

Lern- bzw. Methodenkompetenz

• eine Literaturrecherche zum Thema durchführen, wissenschaftliche Inhalte übersichtlich darstellen und durch Analyse der Materialsammlung eine geeignete, angemessene Stoffauswahl treffen
  

Selbstkompetenz

• den Sachverhalt zum Seminarthema in einem anschaulichen Vortrag präsentieren und in der Lage sein, technische Sachverhalte zu diskutieren und den eigenen Standpunkt zu reflektieren
  

Bemerkung:

Anmeldung im Sekr. des LZS, Röthelheim-Campus, Paul-Gordan-Str. 5, Tel. 85-23100, mailto:lzs-sek@fau.de

Weitere Informationen:

Verwendbarkeit des Moduls / Einpassung in den Musterstudienplan:

1. Elektrotechnik, Elektronik und Informationstechnik (Master of Science)
   (Po-Vers. 2015s | TechFak | Elektrotechnik, Elektronik und Informationstechnik (Master of Science) | Gesamtkonto | Studienrichtung Mikroelektronik | Hauptseminar und Laborpraktikum Mikroelektronik)

Studien-/Prüfungsleistungen:

Seminar Entwurf und Zuverlässigkeit Integrierter Schaltungen und Systeme (Prüfungsnummer: 935856)

Prüfungsleistung, Seminarleistung, Dauer (in Minuten): 35, benotet

Anteil an der Berechnung der Modulnote: 100.0 %

weitere Erläuterungen:

• Erarbeitung des gestellten Themas innerhalb von 6 Wochen unter Anleitung eines Betreuers

• Erstellung einer mind. 10-seitigen Zusammenfassung des Seminarthemas

• Seminarvortrag von 35-40 Min. Dauer und anschließende Diskussion des Themas

• Anteil an der Berechnung der Modulnote: 30% Vortrag, 70% Ausarbeitung

Erstablegung: WS 2018/2019, 1. Wdh.: SS 2019, 2. Wdh.: keine Wiederholung

1. Prüfer:

Sebastian M. Sattler