|
Physikalisches Wahlfach: Scanning Probe Microscopy (PW)5 ECTS (englische Bezeichnung: Elective Course in Physics: Scanning Probe Microscopy)
(Prüfungsordnungsmodul: Physikalische Wahlfächer für Studierende der Materialphysik)
Modulverantwortliche/r: Sabine Maier Lehrende:
Sabine Maier
Startsemester: |
SS 2015 | Dauer: |
1 Semester | Turnus: |
unregelmäßig |
Präsenzzeit: |
60 Std. | Eigenstudium: |
90 Std. | Sprache: |
Deutsch oder Englisch |
Lehrveranstaltungen:
Inhalt:
Contents: Introduction in scanning probe microscopy techniques
Scanning tunneling microscopy (STM)
Atomic force microscopy (AFM)
Kelvin probe force microscopy (KPFM)
Conductive atomic force microscopy (cAFM)
Scanning Near-field microscopy (SNOM)
Applications
Lernziele und Kompetenzen:
Learning goals and competences:
Students
Literatur:
Literature:
General literature on scanning probe microscopy:
1. C. J. Chen, Introduction to scanning probe microscopy and spectroscopy, Oxford University Press 2008
2. E. Meyer, H. J. Hug, R. Bennewitz, Scanning Probe Microscopy, Springer 2004
Verwendbarkeit des Moduls / Einpassung in den Musterstudienplan:
- Materialphysik (Bachelor of Science)
(Po-Vers. 2010 | Module des 3. bis 6. Fachsemesters | Physikalische Wahlfächer für Studierende der Materialphysik)
Dieses Modul ist daneben auch in den Studienfächern "642#65#H", "Materials Physics (Master of Science)", "Physics (Master of Science)", "Physik (1. Staatsprüfung für das Lehramt an Gymnasien)", "Physik (Bachelor of Science)", "Physik (Master of Science)" verwendbar. Details
Studien-/Prüfungsleistungen:
Physikalisches Wahlfach: Scanning Probe Microscopy (Prüfungsnummer: 719331)
- Prüfungsleistung, mündliche Prüfung, Dauer (in Minuten): 30, benotet
- Anteil an der Berechnung der Modulnote: 100.0 %
- Erstablegung: SS 2015
|
|
|
|
UnivIS ist ein Produkt der Config eG, Buckenhof |
|
|