- Vertiefungsrichtung Elektronische Bauelemente, Schaltungen und Systeme (5 ECTS) (Prüfungsnummer: 49831)
(Vorgaberahmen für konkrete Prüfungen von UnivIS-Modulen)
- Prüfungsleistung, mehrteilige Prüfung, Zehntelnoten, 5 Leistungspunkte
- Vertiefungsrichtung Elektronische Bauelemente, Schaltungen und Systeme (2,5 ECTS) (Prüfungsnummer: 49832)
(Vorgaberahmen für konkrete Prüfungen von UnivIS-Modulen)
- Prüfungsleistung, mehrteilige Prüfung, Zehntelnoten, 2.5 Leistungspunkte
- Vertiefungsrichtung Elektronische Bauelemente, Schaltungen und Systeme (7,5 ECTS) (Prüfungsnummer: 49833)
(Vorgaberahmen für konkrete Prüfungen von UnivIS-Modulen)
- Prüfungsleistung, mehrteilige Prüfung, Zehntelnoten, 7.5 Leistungspunkte
- Analog-Digital- und Digital-Analog-Umsetzer (Prüfungsnummer: 67401)
(englische Bezeichnung: Analogue-to-Digital and Digital-to-Analogue Converters)
- Prüfungsleistung, schriftlich oder mündlich, Drittelnoten (mit 4,3), 2.5 Leistungspunkte
- Analoge elektronische Systeme (Prüfungsnummer: 65001)
(englische Bezeichnung: Analogue Electronic Systems)
- Prüfungsleistung, schriftlich oder mündlich, Drittelnoten (mit 4,3), 5 Leistungspunkte
- Architekturen der digitalen Signalverarbeitung (Prüfungsnummer: 60101)
(englische Bezeichnung: Architectures for Digital Signal Processing)
- Prüfungsleistung, schriftlich oder mündlich, Drittelnoten (mit 4,3), 5 Leistungspunkte
- Digitale elektronische Systeme (Prüfungsnummer: 60901)
(englische Bezeichnung: Digital Electronic Systems)
- Prüfungsleistung, schriftlich oder mündlich, Drittelnoten (mit 4,3), 5 Leistungspunkte
- Elektronik programmierbarer Digitalsysteme (Prüfungsnummer: 31301)
(englische Bezeichnung: Digital Systems Engineering)
- Prüfungsleistung, schriftlich oder mündlich, Drittelnoten (mit 4,3), 5 Leistungspunkte
- Entwurf Integrierter Schaltungen II (Prüfungsnummer: 61902)
(englische Bezeichnung: Design of Integrated Circuits II)
- Prüfungsleistung, schriftlich oder mündlich, Drittelnoten (mit 4,3), 5 Leistungspunkte
- Entwurf integrierter Schaltungen I (Prüfungsnummer: 65901)
(englische Bezeichnung: Design of Integrated Circuits I)
- Prüfungsleistung, schriftlich oder mündlich, Drittelnoten (mit 4,3), 5 Leistungspunkte
- Halbleiter- und Bauelementemesstechnik (Prüfungsnummer: 62101)
(englische Bezeichnung: Semiconductor and Component Metrology)
- Prüfungsleistung, schriftlich oder mündlich, Drittelnoten (mit 4,3), 5 Leistungspunkte
- Integrierte Schaltungen für Funkanwendungen (Prüfungsnummer: 62601)
(englische Bezeichnung: Integrated Circuits for Wireless Technologies)
- Prüfungsleistung, schriftlich oder mündlich, Drittelnoten (mit 4,3), 5 Leistungspunkte
- Modellierung und Simulation von Schaltungen und Systemen (Prüfungsnummer: 39111)
(englische Bezeichnung: Modelling and Simulation of Circuits and Systems)
- Prüfungsleistung, schriftlich oder mündlich, Drittelnoten (mit 4,3), 5 Leistungspunkte
- Prozessintegration und Bauelementearchitekturen (Prüfungsnummer: 66501)
(englische Bezeichnung: Process Integration and Device Architecture)
- Prüfungsleistung, schriftlich oder mündlich, Drittelnoten (mit 4,3), 5 Leistungspunkte
- Schaltungen und Systeme der Übertragungstechnik (Prüfungsnummer: 64101)
(englische Bezeichnung: Transmission Circuits and Systems)
- Prüfungsleistung, schriftlich oder mündlich, Drittelnoten (mit 4,3), 5 Leistungspunkte
- Technologie integrierter Schaltungen (Prüfungsnummer: 61901)
(englische Bezeichnung: Technology of Integrated Circuits)
- Prüfungsleistung, schriftlich oder mündlich, Drittelnoten (mit 4,3), 5 Leistungspunkte
- Test integrierter Schaltungen (Prüfungsnummer: 40001)
(englische Bezeichnung: Testing of Integrated Circuits)
- Prüfungsleistung, mündliche Prüfung, Dauer: 30 min, Drittelnoten (mit 4,3), 2.5 Leistungspunkte