Test Integrierter Schaltungen (TEST)2.5 ECTS

Lectures:

• • Test Integrierter Schaltungen
    (Vorlesung, 2 SWS, Klaus Helmreich, Tue, 12:15 - 13:45, 0.111)

Inhalt:

1. Test in der Halbleiterfertigung: Einordnung innerhalb der Halbleiterindustrie, wirtschaftliche Bedeutung im Vergleich zu Entwurf und Fertigung.
2. Messen und Testen: Meßunsicherheit, Fehlerschranken, statistische Schätzung, Umgang mit Meßunsicherheit, Entscheidung aufgrund von Meßdaten, Irrtumsrisiken, Interpretation von Testergebnissen.
3. Fehler und Tests: Klassifizierung von Fehlern, Test im Herstellungsprozess und im Produktzyklus.
4. Testkosten und Prüfstrategie: Zehnerregel, Testkomplexitätsmaße, Abwägung Testkosten/Testgüte, Summenausbeute, Fehlerüberdeckung, Ausfallrate.
5. Testansätze und Testgenerierung: Notwendigkeit von Produktionstest und Zuverlässigkeitstest, Simulation und Test, Parametertest, Funktionstest, Strukturtest, Fehlermodelle, Testmustererzeugung.
6. Testsysteme: Entwicklungsgeschichte, Testsystemtypen, Anforderungen und Leistungsmerkmale, Komponenten und Funktionsweise.
7. Testbeschreibung: Prüfprogramm und Prüfmuster, Zeitsteuerung, Systemarchitekturen, Speicherbedarf, Signalformate, Sonderfunktionen.
8. Mixed-Signal Test: Instrumentierung, digitale Signalverarbeitung, kohärentes Testen, Beispiel: Tests an einem A/D-Umsetzer, Histogrammmethoden, Auswertung im Frequenzbereich.

Weitere Informationen:

Verwendbarkeit des Moduls / Einpassung in den Musterstudienplan:
Das Modul ist im Kontext der folgenden Studienfächer/Vertiefungsrichtungen verwendbar:

1. Informations- und Kommunikationstechnik (Master of Science)
   (Po-Vers. 2010 | Schwerpunkt Eingebettete Systeme | Wahlpflichtmodule | Wahlpflichtmodul aus EEI im Schwerpunkt Eingebettete Systeme)

Studien-/Prüfungsleistungen:

Test Integrierter Schaltungen_

schriftlich oder mündlich, benotet

Erstablegung: SS 2012, 1. Wdh.: WS 2012/2013, 2. Wdh.: keine Wiederholung

1. Prüfer:

Klaus Helmreich