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Ausgewählte Kapitel der Silicium-Halbleitertechnologie2.5 ECTS
Modulverantwortliche/r: Lothar Frey Lehrende:
Lothar Frey
Startsemester: |
SS 2012 | Dauer: |
1 Semester |
Präsenzzeit: |
30 Std. | Eigenstudium: |
45 Std. |
Lehrveranstaltungen:
Empfohlene Voraussetzungen:
Kenntnisse aus den Vorlesungen Technologie Integrierter Schaltungen und/oder Prozessintegration und Bauelementearchitektur wünschenswert und von Vorteil
Inhalt:
Inhalt des Seminars ist die selbstständige Erarbeitung und schlüssige Darstellung eines Themas aus dem Gebiet der Silicium-Halbleitertechnologie. Als Grundlage dienen dabei Literaturvorgaben der Betreuer, die durch eigene Recherchen ergänzt werden sollen. Die Teilnehmer referieren im Rahmen eines 30-minütigen Vortrags über ihre Ergebnisse. Die Einzelthemen werden in jedem Semester neu gewählt.
Lernziele und Kompetenzen:
Die Studierenden
sammeln Erfahrung bei der Literaturrecherche zu wissenschaftlichen Themen und bei der übersichtlichen Darstellung wissenschaftlicher Inhalte auf Folien
müssen durch Analyse der Materialsammlung eine geeignete, angemessene Stoffauswahl treffen,
haben die Gelegenheit, komplexe Sachverhalte anschaulich vor Publikum zu präsentieren
Literatur:
Organisatorisches:
Teilnahme an Vorbesprechung notwendig
Weitere Informationen:
www: http://www.leb.eei.uni-erlangen.de/
Verwendbarkeit des Moduls / Einpassung in den Musterstudienplan: Das Modul ist im Kontext der folgenden Studienfächer/Vertiefungsrichtungen verwendbar:
- Elektrotechnik, Elektronik und Informationstechnik (Bachelor of Science)
(Po-Vers. 2007 | Studienrichtungen (Wahlpflichtmodule) | Studienrichtung Mikroelektronik | Hauptseminare Mikroelektronik | Hauptseminar Ausgewählte Kapitel der Silicium-Halbleitertechnologie)
- Elektrotechnik, Elektronik und Informationstechnik (Bachelor of Science): 5-6. Semester
(Po-Vers. 2009 | Studienrichtungen (Wahlpflichtmodule) | Studienrichtung Mikroelektronik | Hauptseminare Mikroelektronik)
- Elektrotechnik, Elektronik und Informationstechnik (Master of Science): 1-4. Semester
(Po-Vers. 2010 | Masterprüfung | Studienrichtung Mikroelektronik | Hauptseminare Mikroelektronik)
Studien-/Prüfungsleistungen:
Hauptseminar Ausgewählte Kapitel der Silicium-Halbleitertechnologie_ (Prüfungsnummer: 78001)
- Prüfungsleistung, Studienleistung, benotet
- Anteil an der Berechnung der Modulnote: 100.0 %
- weitere Erläuterungen:
- Erstablegung: SS 2012, 1. Wdh.: WS 2012/2013, 2. Wdh.: keine Wiederholung
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